Особенности электронной литографии при низких ускоряющих напряжениях

Представление об основах литографии. Установки изготовления образцов. Параметры коррекции распределения дозы, чувствительность резиста. Основы электронной литографии при низком ускоряющем напряжении. Оценка эффективного диаметра электронного луча.

Подобные документы

  • Изучение строения и принципов работы светового и электронного микроскопов. Рассмотрение методов темного и светлого поля, фазово-контрастной микроскопии, интерференции и поляризации. Витальное фиксированное изучение клеток. Основы электронной микроскопии.

    лекция, добавлен 16.05.2014

  • Свойства объектов и методы измерения электронной плотности по упругому рассеянию. Экспериментальные методы исследования комптоновского рассеяния. Атомно-рассеивающий фактор, распределение радиальной электронной плотности в литии по комптоновским профилям.

    дипломная работа, добавлен 06.06.2011

  • Понятие радиоэлектроники, ее сущность и особенности, история возникновения и развития. Развитие электронной техники на современном этапе, характерные черты. Принципы работы и использование резисторов, их разновидности. Устройство и значение конденсаторов.

    курс лекций, добавлен 21.02.2009

  • Изучение структуры и особенностей дрейфового транзистора. Физические процессы, происходящие в его базе при низком уровне инжекции и при больших плотностях тока. Влияние неравномерного распределения примесей в базе на параметры дрейфового транзистора.

    курсовая работа, добавлен 25.09.2010

  • Лампы бегущей волны, основные принципы их работы. Параметры и особенности конструкции ЛБВ. Системы формирования магнитного поля в ЛБВ. Методы магнитной фокусировки электронного луча. Модуляция с помощью электрода "штырь-кольцо". Методы повышения КПД ЛБВ.

    лекция, добавлен 16.12.2010

  • Электронно-микроскопический метод исследования. Физические основы растровой электронной микроскопии. Схема растрового электронного микроскопа, назначение его узлов и их функционирование. Подготовка объектов для исследований и особые требования к ним.

    курсовая работа, добавлен 04.05.2011

  • Разработка методики количественного определения состава образцов рентгеноспектральным микроанализом. Физические основы растровой электронной микроскопии. Использование зависимости интенсивности линий от ускоряющего напряжения. Методы детектирования.

    курсовая работа, добавлен 16.10.2014

  • Понятие электронной микроскопии как совокупности методов исследования с помощью электронных микроскопов микроструктур тел, их локального состава. Содержание телевизионного принципа развертки тонкого пучка электронов или ионов по поверхности образца.

    презентация, добавлен 22.08.2015

  • Физические процессы, лежащие в основе электронной оже-спектроскопии (ЭОС). Механизмы ЭОС, область ее применения. Относительная вероятность проявления оже-эффекта. Глубина выхода оже-электронов. Анализ тонких пленок, преимущества ионного распыления.

    реферат, добавлен 17.12.2013

  • Свойства исследуемых объектов и методы измерения электронной плотности по упругому рассеянию, неупругое рассеяние рентгеновских лучей веществом. Импульсная аппроксимация, атомно-рассеивающий фактор, вид и методика обработки дифракционных максимумов.

    диссертация, добавлен 10.06.2011

  • Особенности плазмы и газового разряда. Проведение опытов с источником ионов с полым анодом при разном ускоряющем напряжении и расстоянии до цилиндра Фарадея. Определение оптимальных параметров для расчета коэффициента эффективности ионного тока в пучке.

    контрольная работа, добавлен 24.02.2013

  • Определение ионосферы и линейного слоя, расчёт диалектической проницаемости ионосферы без учёта магнитного поля. Распределение магнитного поля в точке попадания на Землю отражённого луча. Закон изменения электронной концентрации для линейного слоя.

    курсовая работа, добавлен 14.07.2012

  • Разработка вариантов схем электроснабжения на низком напряжении. Расчет электрических нагрузок и приближенный учет электрического освещения. Компенсация реактивной мощности, выбор высоковольтного выключателя. Расчет токов трехфазного короткого замыкания.

    курсовая работа, добавлен 10.12.2014

  • Проектирование и расчет городской подстанции. Выбор числа, типа и номинальной мощности силовых трансформаторов, устанавливаемых на подстанции. Схемы электрических соединений на высоком и на низком напряжении. Управление и сигнализация на подстанции.

    курсовая работа, добавлен 18.06.2012

  • Расчет проволочного прямонакального катода. Сравнительный анализ параметров катодов из вольфрама и тантала. Расчет параметров фокусирующей катушки. Выбор насосов вакуумной системы и ее схемы для откачки электронной пушки. Определение быстроты откачки.

    курсовая работа, добавлен 08.05.2016

  • Автоматизированная система управления хозяйством электрификации и электроснабжения АСУ-Э. Ведение графической информации в базе данных. Создание электронной схемы плана контактной сети станции Козёлкино Брянского отделения Московской железной дороги.

    курсовая работа, добавлен 04.02.2014

  • Разработка вариантов схем электроснабжения на низком напряжении. Расчет токов трехфазного короткого замыкания и отклонений напряжения. Расчет емкостного тока замыкания на землю в кабельной сети. Распределение конденсаторных батарей в электрической сети.

    курсовая работа, добавлен 21.12.2011

  • Механизмы поглощения энергии излучения в полупроводниках. Принцип действия полупроводниковых фотоприемников. Характеристики и параметры фотоприемников. Темновое сопротивление, чувствительность, спектральная характеристика, охлаждаемые фотодатчики.

    контрольная работа, добавлен 29.08.2013

  • Проект проходной подстанции 35/10 кВ. Выбор схем электрических соединений на высоком и на низком напряжении, построение графиков нагрузки. Выбор числа и мощности трансформаторов, расчет на перегрузочную способность. Расчет токов аварийных режимов.

    курсовая работа, добавлен 17.11.2014

  • Исследование предмета и задач физики низких температур – раздела физики, занимающегося изучением физических свойств систем, находящихся при низких температурах. Методы получения низких температур: испарение жидкостей, дросселирование, эффект Пельтье.

    курсовая работа, добавлен 22.06.2012

  • Измерение размеров малых объектов. Метод фазового контраста. Понятие об электронной оптике. Создание электронного микроскопа. Опыты по дифракции электронов. Исследования поверхностной геометрической структуры клеток, вирусов и других микрообъектов.

    презентация, добавлен 12.05.2017

  • Характеристики тепловыделения в электроустановках. Расчет теплового состояния трансформатора и выпрямителя. Основы устройства систем охлаждения. Особенности электронной и ионной поляризации. Тепловое действие электрического и электромагнитного поля.

    контрольная работа, добавлен 27.05.2014

  • Основы сканирующей электронной микроскопии. Методические особенности электронно-микроскопического исследования металлических расплавов. Особенности микроскопов, предназначенных для исследования структуры поверхностных слоев металлических расплавов.

    реферат, добавлен 11.05.2013

  • Вычисление и исследование магнитной восприимчивости двухмерной модели Хаббарда в приближении статических флуктуаций при наличии сильных корреляций в электронной подсистеме. Сравнение с точным решением одномерной модели Хаббарда в магнитном поле.

    статья, добавлен 22.06.2015

  • Основы физики полупроводников, их энергетические зоны, уровни. Распределение носителей в зонах, их рекомбинация. Движение носителей и контактные явления в данных устройствах. Особенности контактов между полупроводниками с одинаковыми типами проводимости.

    контрольная работа, добавлен 19.08.2015

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.