Когерентная фазовая микроскопия
Физические основы когерентной микроскопии. Изучение явлений самоорганизации и регуляции внутриклеточных процессов. Метод флуоресцентной микроскопии в сочетании с видеосъемкой. Оценка линейного оптического увеличения. Корреляционный и спектральный анализ.
Подобные документы
Конфокальная микроскопия — метод оптической микроскопии, обладающий значительным контрастом по сравнению с микроскопами классической схемы. История развития, принцип работы и пространственное разрешение в конфокальной микроскопии; области применения.
реферат, добавлен 13.04.2017Анализ хронологии развития микроскопии. Строение и принцип работы оптического микроскопа. Исследование контраста изображения и разрешающей способности прибора с сильно увеличивающими стеклами. Особенность измерения размеров микроскопических объектов.
реферат, добавлен 29.05.2016- 3. Электронная микроскопия углеродных нанотрубок и нановолокон и автоэлектронные эмиттеры на их основе
Исследование различных типов углеродных нанотрубок методами электронной микроскопии высокого разрешения (ВРЭМ), растровой электронной микроскопии (РЭМ) и электрофизическими методами. Анализ использования ОСНТ@ПУ в качестве элементов наноэлектроники.
автореферат, добавлен 02.08.2018 Описание основных методов исследования растительной, животной клетки и других объектов. Изучение характеристик, особенностей применения, преимуществ и недостатков различных разновидностей светового, электронного и поляризационного методов микроскопии.
реферат, добавлен 14.12.2013Понятие и виды электронной микроскопии. Схема устройства растрового электронного микроскопа и просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения. Анализ методов исследования надмолекулярной структуры аморфных и кристаллизующихся полимеров.
доклад, добавлен 07.02.2012Принципы построения изображения объекта в ближнепольной оптической микроскопии. Современные схемы реализации микроскопа. Вид и изготовление зондов на основе оптического волокна. Применение фокусирующего зеркала для увеличения чувствительности излучения.
лекция, добавлен 28.12.2013Микрогеометрический анализ на основе оптической микроскопии. Приводы управления перемещениями узлов микроскопа и аппаратные решения, используемые при создании комплекса. Оценка погрешности кинематической цепи привода при перемещении предметного столика.
статья, добавлен 27.05.2018Обзор истории микроскопии. Характеристика просвечивающей электронной микроскопии. Оценка источников электронов. Определение вспомогательного оборудования для ОПЭМ и системы освещения. Анализ способов применения просвечивающего электронного микроскопа.
реферат, добавлен 15.04.2016Электронно-оптическая система как совокупность электродов, магнитов, проводников, обтекаемых током. Характеристика основных направлений электронной микроскопии. Методы просвечивающей и растровой микроскопии. Принципиальная оптическая схема микроскопа.
реферат, добавлен 20.11.2016Понятие про вакуум и его свойства. Модель прибора вакуумной электроники, исследование электронной эмиссии. Электронно-лучевые приборы, движение электронов в газах. Основы зондовой микроскопии (туннельная микроскопия, зондовые сканирующие микроскопы).
контрольная работа, добавлен 26.01.2020Разработка методики подготовки атомно-силовой микроскопии (АСМ) зондов для выполнения электрических АСМ измерений и электрохимической литографии. Разработка методики выбора оптимальной силы взаимодействия "зонд-образец" для контроля процесса износа.
автореферат, добавлен 25.07.2018Оценка целесообразности применения метода фокусировки на объект в оптической микроскопии для определения высотных характеристик образца. Расчет разрешающей способности, погрешности измерений данного метода на основе данных, полученных на микроскопе Leica.
статья, добавлен 27.05.2018Изучение тонких образов с помощью пучка электронов, проходящих сквозь них и взаимодействующих с ними. Электроны, прошедшие сквозь образец, их отражение на устройстве формирования изображения: флюоресцентном экране, фотопластинке или сенсоре ПЗС-камеры.
реферат, добавлен 27.11.2016Получение изображений двухфазных и нанопористых стекол методом конфокальной сканирующей лазерной микроскопии, которые свидетельствуют о наличии неоднородной структуры с разными оптическими свойствами. Процессы, происходящие в стеклах при термообработке.
статья, добавлен 30.11.2018Изучение структуры и элементного состава одно- и двухслойных конденсатов на основе высокотемпературных сверхпроводящих материалов, полученных из абляционной плазмы, инициированной импульсным лазерным воздействием. Метод растровой электронной микроскопии.
статья, добавлен 30.10.2010Анализ влияния внедрения физических и химических методов на развитие экспериментальной биологии. Физические основы растровой электронной микроскопии. Оптическая спектроскопия. Метод изотопных индикаторов. Наблюдение спектральных линий в твердых телах.
реферат, добавлен 05.06.2015Рассмотрение сущности амплитудного и фазового контрастов. Технология формирования изображения в оптической системе. Анализ аберраций в электронном микроскопе. Примеры применения электронной микроскопии высокого разрешения в физике твердого тела.
лекция, добавлен 21.03.2014Исследование электронных и молекулярных процессов, происходящих на поверхности твердых тел. История создания работы сканирующего туннельного микроскопа. Объекты анализа и методы их подготовки. Микроскопии ближнего поля, расширение области применения.
реферат, добавлен 02.11.2014Принципиальное устройство атомно-силового микроскопа. Исследование механических свойств полимерных пленок. Принцип действия туннельного микроскопа. Преимущества, недостатки и перспективы сканирующей зондовой микроскопии. Режимы сканирования поверхности.
реферат, добавлен 14.12.2014Физические основы и принцип работы атомно-силового микроскопа, его внутреннее устройство и главные компоненты. Анализ схемы зондового датчика, а также факторы, влияющие на его взаимодействие с поверхностью. Качественный вид потенциала Леннарда-Джонса.
реферат, добавлен 25.05.2020Основные задачи и характеристики просвечивающей электронной микроскопии. Схема просвечивающего электронного микроскопа. Основные составные части и характеристики электронного пучка. Линзовая система осветителя и дефлектор. Аберрации электронных линз.
презентация, добавлен 11.12.2016Рассмотрение истории создания сканирующего зондового микроскопа. Изучение микрофлоры воды с помощью микроскопии. Туннельный эффект зонда - квантовое явление проникновения микрочастицы из одной доступной области движения в другую, отделённую барьером.
реферат, добавлен 14.12.2015Оптическая схема и принцип действия оптического микроскопа. Основные виды микроскопов, пределы их общего увеличения. Характеристика методов наблюдения при оптической микроскопии. Методы светлого (в отраженном свете) и темного (в проходящем свете) полей.
реферат, добавлен 15.09.2017Разработка растровой электронной микроскопии с целью исследования наномасштабов. Особенности и принцип работы атмосферного растрового электронного микроскопа ClairScope, его преимущества по сравнению с оптическим микроскопом. Новые приборы фирмы ASPEX.
реферат, добавлен 20.10.2013История открытия рентгеновских лучей и первые рентгеноскопические исследования. Возникновение и свойства рентгеновского излучения. Модели структур кристаллов по У. Брэггу. Сущность способов рентгеновской микроскопии: контактный и диффракционный.
реферат, добавлен 08.04.2013