Характеристика наноматериалов, которые определяются с помощью метода EXAFS

Анализ поглощения рентгеновского излучения веществом. Особенность рассеяния фотоэлектрона. Основная методика выделения дальней тонкой структуры спектроскопии. Суть моделирования экспериментальных спектров. Характеристика определения валентного состояния.

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.