Структурно-функціональний аналіз тестопридатності при проектуванні цифрових систем на кристалах

Аналіз та діагностування тестопридатності цифрових систем на кристалах з регістром граничного сканування. Вибір критичних контрольних точок та мови опису апаратури. Синтез кубічних покрить цифрових проектів. Пошук дефектів на перевіряльному тесті.

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.