Нові принципи динамічної трикристальної рентгенівської дифрактометрії мікродефектів в реальних монокристалах
Аналіз систематичних вимірювань одновимірних розподілів дифрагованої інтенсивності в околі вузлів оберненої гратки зразків для монокристалів з простим і складним базисом. Аномальна поведінка когерентних піків, що спостерігається на дифракційних профілях.
Подобные документы
Розробка модифікованої динамічної дифракційної моделі для аналізу високороздільних спостережень складних дефектних структур в реальних монокристалах. Встановлення природи чутливості кривих дифракційного відбиття до характеристик декількох типів дефектів.
автореферат, добавлен 14.09.2015Дослідження структури та електрофізичних властивостей об'ємних монокристалів кремнію і кремнієвих композицій. Комплексоутворення точкових дефектів, класифікації та механізму утворення ростових мікродефектів у бездислокаційних монокристалах кремнію.
автореферат, добавлен 25.04.2014Визначення сутності прозорої дифракційної гратки. Порядок розрахунку довжини хвилі джерела світла, а також роздільної здатності дифракційної гратки та інтенсивності дифракційних максимумів. Визначення значення темнового струму за допомогою люксметра.
лабораторная работа, добавлен 13.07.2017Ознайомлення з прозорою дифракційною граткою. Визначення довжини хвилі джерела світла, а також роздільної здатності дифракційної гратки та інтенсивності дифракційних максимумів. Опис будови установки з гелій-неонового лазера, дифракційної гратки, екрана.
лабораторная работа, добавлен 13.07.2017- 5. Технологія виробництва голограмних дифракційних ґраток на основі неорганічних вакуумних фоторезистів
Інноваційний проект з розробки технологічного методу формування голограмних дифракційних ґраток. Розробка технологічної інструкції реалізації методу та виготовлення експериментальних зразків. Характеристики зразків голограмних дифракційних ґраток.
статья, добавлен 07.12.2016 Експериментальне дослідження впливу теплових умов росту, фонових домішок вуглецю і кисню на утворення та параметри ростових мікродефектів. Обгрунтування феноменологічної фізичної моделі механізму утворення, росту і трансформації ростових мікродефектів.
автореферат, добавлен 10.08.2014Ознайомлення з прозорою дифракційною граткою. Визначення довжини хвилі джерела світла, а також роздільної здатності дифракційної гратки та інтенсивності дифракційних максимумів. Порядок проведення експерименту, оцінка та аналіз отриманих результатів.
лабораторная работа, добавлен 22.07.2017Аналіз залежності критичної механічної напруги від площі поперечного перерізу зразків n-Ge, що використовуються при дослідженнях деформаційних ефектів. Вплив геометричних розмірів зразків на точність вимірювання питомої електропровідності монокристалів.
статья, добавлен 29.11.2016Аналіз результатів комплексних досліджень колективних збуджень електронного і коливального типів в монокристалах та нульмірних системах. Показ особливостей фононних збуджень, обумовлених специфікою кристалічної гратки і частот фундаментальних коливань.
автореферат, добавлен 25.04.2014Неоднорідність розподілу домішок Te та In в монокристалах антимоніду кадмію і їх вплив на електрофізичні ефекти. Вплив освітлення на кінетичні параметри монокристалів. Характер впливу гамма опромінення на явища переносу в монокристалах CdSb, легованих In.
автореферат, добавлен 27.07.2015Ознайомлення з прозорою дифракційною граткою. Визначення довжини хвилі джерела світла, роздільної здатності дифракційної гратки та інтенсивності дифракційних максимумів. Розрахунок абсолютної та відносної похибки знаходження довжини хвилі випромінювання.
лабораторная работа, добавлен 16.07.2017Аналіз стану розвитку динамічної теорії розсіяння рентгенівських променів у реальних недосконалих монокристалах. Дифракційні ефекти в тороїдально вигнутих кристалах з мікродефектами при наявності сильної деформації. Розподіли дифузного розсіяння променів.
автореферат, добавлен 14.07.2015Залежність критичної механічної напруги від площі поперечного перерізу зразків n-Ge, що використовуються при дослідженнях деформаційних ефектів. Вплив геометричних розмірів зразків на точність вимірювання питомої електропровідності монокристалів.
статья, добавлен 29.11.2016Явища, що виникають при резонансній дифракції на одновимірних металевих ґратках. Заглушення дзеркального відбиття і ефектів, що можуть його супроводжувати. Спектральні залежності інтенсивності та поляризації. Сигнали у сучасних лініях оптичного зв’язку.
автореферат, добавлен 30.08.2014Дослідження спектрів поглинання, фотолюмінесценції, оптичного гашення фотопровідності в неопромінених електронами монокристалах сульфіду кадмію. Методи покращення кристалічної структури при електронному опроміненні сильно дефектних монокристалів.
автореферат, добавлен 15.07.2014Встановлення природи радіаційно-індукованих дефектів у нових об’єктах – монокристалах тетрабората літію, активованих електроними іонами. Вивчення впливу активації рідкісноземельними елементами монокристалів ТБЛ на їх термостимульовану люмінесценцію.
автореферат, добавлен 06.07.2014Механізми утворення дефектів і їх впливу на електричні, фотоелектричні і оптичні властивості монокристалів сульфіду кадмію опромінених частинками підпорогової енергії. Дослідження лазерного відпалу центрів рекомбінації в опромінених монокристалах.
автореферат, добавлен 29.08.2015Вивчення явища дифракції на щілині і дифракційній гратці. Дослідження методики визначення довжини хвиль жовтого, синього і зеленого світла за допомогою дифракційної гратки. Характеристика принципу роботи гоніометра Г5. Визначення похибок вимірювань.
лабораторная работа, добавлен 13.07.2017Дослідження впливу короткосяжних кореляцій на енергетичний спектр одновимірних систем з іонним та протонним типами провідності. Аналіз перебудови енергетичного спектру при зміні температури. Опис ефектів, що мають місце в околі суперіонного переходу.
автореферат, добавлен 28.08.2015Дослідження явища дифракції на щілині та дифракційній гратці. Використання методики визначення довжини світлової хвилі за допомогою дифракційної гратки. Встановлення довжини хвиль жовтого, синього та зеленого світла. Розрахунок похибки вимірювань.
лабораторная работа, добавлен 13.07.2017Похибка як різниця між виміряним або розрахунковим значенням величини та її дійсним значенням. Зміст випадкових та систематичних помилок, погрішності та точності. Загальний опис електронного осцилографа, цифрових мультиметрів та генератора функцій.
реферат, добавлен 07.03.2011Інтерференція світла як перерозподіл інтенсивності в просторі внаслідок накладання двох або кількох когерентних хвиль, в результаті чого в одних місцях виникають максимуми, а в інших мінімуми інтенсивності. Методи обчислення оптичної довжини шляху.
курсовая работа, добавлен 26.03.2016Характеристика структурних змін у кристалах кремнію. Визначення параметрів методами опромінення, дифракції та акустичної взаємодії. Дослідження мікродефектів та природного старіння. Аналіз температурного гістерезису внутрішнього тертя і модуля зсуву.
автореферат, добавлен 29.07.2014Дослідження спектрального розподілу фотолюмінесцеції в залежності від їх кристалографічної орієнтації. Структура головного піка фотолюмінесцеції. Перерозподіл інтенсивності окремих складових піка у поляризованому світлі залежно від орієнтації зразків.
статья, добавлен 30.01.2016Вимірювання магнітострикції надпровідних монокристалів в інтервалі температур у магнітних полях. Аналіз ряду проблем змішаного стану анізотропного надпровідника. Особливості форми поверхні Фермі нижче переходу в стан із хвилями зарядової густини.
автореферат, добавлен 10.08.2014