Структурно-функціональний аналіз тестопридатності при проектуванні цифрових систем на кристалах

Структурно-функціональний метод аналізу тестопридатності цифрових систем на кристалах. Розробка неітеративної моделі діагностування цифрових систем на кристалах з регістром граничного сканування в якості мультизонду. Процес вибору контрольних точок.

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.