Характеристика атомно-силовой микроскопии

Физические принципы работы атомно-силовой микроскопии. Применение трехмерного изображения поверхности материала в научных исследованиях и промышленном производстве. Изучение поверхностных дефектов материалов. Анализ сканирующего зондового микроскопа.

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.