Физические основы дифракционных методов исследования структуры материалов
Изучение рассеивания излучения на объекте методом исследования структуры материалов. Описание процесса распределения электронной плотности в элементарной ячейке кристалла бензола спроецированное на плоскость. Открытие структуры нуклеиновых кислот.
Подобные документы
Методика расчета электронной плотности и потенциала в кристаллической решетке со структурой алмаза по экспериментальным значениям интегральной интенсивности рентгеновских дифракционных максимумов. Карты распределения электронной плотности в кремнии.
статья, добавлен 27.05.2018Исследование локальной атомной и электронной структуры наноразмерных катализаторов оксида никеля. Описание экспериментов с применением методик спектроскопии рентгеновского поглощения, рентгеновской дифракции и спектроскопии комбинационного рассеяния.
статья, добавлен 30.05.2017История открытия и способы описания структуры нового класса твердых тел — квазикристаллов. Экспериментальные исследования их структуры методом просвечивающей электронной микроскопии. Отличия от кристаллических тел и особенности наноквазикристаллов.
статья, добавлен 23.12.2013Принципы и основные этапы исследования структуры наномателов с помощью сканирующего туннельного микроскопа. Механизм определения работы выхода материала, а также плотности его состояний. Условия и особенности применения атомно-силового микроскопа.
курсовая работа, добавлен 12.01.2016Понятие и виды электронной микроскопии. Схема устройства растрового электронного микроскопа и просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения. Анализ методов исследования надмолекулярной структуры аморфных и кристаллизующихся полимеров.
доклад, добавлен 07.02.2012Особенности извлечения информации об объекте исследования при аэрокосмическом зондировании из результатов регистрации излучения, представляющего собой электромагнитные волны - ультрафиолетовые, световые, инфракрасные, радиоволны с разной длиной.
статья, добавлен 03.04.2019Кристаллическое и аморфное строение материалов. Модель идеальной (совершенной) структуры кристалла. Элементарная ячейка – параллелепипед, построенный на трех элементарных некомпланарных трансляциях. Аморфное строение материалов. Кристаллизация жидкостей.
реферат, добавлен 03.01.2020Исследования по созданию многослойных вращающихся кулоновских структур. Механизмы выброса частиц из структуры. Многослойные структуры с дифференциальным вращением слоев. Динамика четырехслойной структуры. Множественные решения в неустойчивой структуре.
дипломная работа, добавлен 26.10.2018Определение понятия рентгенодифракционного анализа — одного из дифракционных методов исследования структуры вещества. Ознакомление с дифракцией рентгеновских лучей на образце перовскита. Рассмотрение и характеристика специфики лауэграммы монокристалла.
презентация, добавлен 22.10.2021Понятие, отличительные черты и области применения сегнетоэлектриков. Описание процесса выращивания кристаллов перовскита алюмината церия методами Чохральского и Степанова. Исследование дефектной структуры кристаллов и изучение методов ее наблюдения.
курсовая работа, добавлен 06.08.2017Теплофизические и механические характеристики материалов. Диэлектрическая проницаемость материалов. Диэлектрическая проницаемость и электрические поля в диэлектриках. Устройства и методы неразрушающего контроля. Электрофизические методы исследования.
методичка, добавлен 01.09.2017Исследование структуры нуклеиновых кислот и белков. Флуоресценция как взаимодействие электромагнитного излучения с веществом, кратковременное поглощение кванта света флюорофором с последующей быстрой эмиссией другого кванта, отличного от исходного.
презентация, добавлен 17.05.2016Установка для наблюдения дифракции рентгеновских лучей. Рентгеноструктурный анализ, строение тел и дифракция лучей. Метод исследования структуры вещества по распределению в пространстве и интенсивностям рассеянного на анализируемом объекте излучения.
реферат, добавлен 21.12.2015Методы измерения теплопроводности и коэффициента излучения материалов. Законы теплового излучения чёрных тел. Измерение интегрального коэффициента излучения радиационным методом. Теплопроводность жидкостей и газов. Расчёт нагрева и охлаждения тонких тел.
учебное пособие, добавлен 13.11.2016Методология создания установки для исследования комплекса физических свойств металлов, бинарных и многокомпонентных материалов. Особенности методики изучения диаграмм состояния высокотемпературных оксидных систем. Анализ многокомпонентных материалов.
автореферат, добавлен 08.02.2018Рассмотрение механизмов и закономерностей кристаллизации металлов. Определение условий получения мелкозернистой структуры. Анализ строения металлического слитка. Определение химического состава и изучение структуры. Обзор физических методов исследования.
реферат, добавлен 13.02.2016Рассмотрение возможности определения физико-механических свойств материалов с помощью исследования функции распределения пор по эквивалентным гидравлическим радиусам. Вероятности и частоты появления соответствующие допускаемому при расчетах критерия.
статья, добавлен 12.01.2018Особенность разработки и усовершенствования материалов для литий-ионных батарей. Анализ определения параметров локальной атомной структуры нанокомпозита в процессе циклов зарядки-разрядки. Основная характеристика динамики наноразмерной концепции атома.
статья, добавлен 30.05.2017Создание модели акустической эмиссии при пластической деформации поликристаллов. Взаимосвязь между параметрами акустического излучения и изменениями структуры поверхности. Разработка акустико-эмиссионного метода исследования поликристаллических металлов.
автореферат, добавлен 02.03.2018Изучение методом упругого рассеяния света структура пленок алюминия погруженных в водный раствор наночастиц серебра. Последовательность угловых зависимостей интенсивности рассеянного света. Описание структуры пленок в терминах их фрактальной размерности.
статья, добавлен 25.06.2018Описание структуры любого кристалла, выбор элементарной ячейки. Типы кристаллических решеток. Метод рентгеновской дифрактометрии, основанный на явлении дифракции. Геометрическая интерпретация уравнения Лауэ. Вольт-амперная характеристика фотоэффекта.
контрольная работа, добавлен 15.10.2016Комплексное изучение взаимодействие вещества с электромагнитным излучением. Переходы между уровнями в молекулах. Коэффициент поглощения и отражения. Спектроскопия в УФ и видимой области для исследования материалов. Измерение спектров в режиме пропускания.
презентация, добавлен 28.11.2016Изучение экспериментальных исследований напряжённого состояния образцов из стеклопластика в форме круглых пластин с дефектами. Анализ вариантов расчетной модели многослойной анизотропной оболочки, которая состоит из нескольких жестких анизотропных слоев.
статья, добавлен 31.10.2010Получение материалов на основе железа с упрочненными слоями большей глубины методом электролитно-плазменной обработки. Эффективные коэффициенты диффузии для элементов Сu, W. Схема классификации плазменного электролиза, дифрактограмма алюминиевого сплава.
автореферат, добавлен 29.03.2018Использование межконфигурационных переходов трехвалентных лантаноидов, активированных в широкозонные диэлектрические кристаллы. Изучение оптических и лазерных свойств кристалла, обладающего наибольшей шириной запрещенной зоны среди известных материалов.
автореферат, добавлен 02.03.2018