Уточнення кристалічної стуктури сполуки ReSi

Використання рентгенівської порошкової дифрактометрії та структурного аналізу для уточнення кристалічної структури бінарної сполуки ReSi. Реалізація структурного типу FeSi, умови одержання масиву дифракційних даних та результати уточнення сполуки ReSi.

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.