Конфокальная микроскопия
Конфокальная микроскопия — метод оптической микроскопии, обладающий значительным контрастом по сравнению с микроскопами классической схемы. История развития, принцип работы и пространственное разрешение в конфокальной микроскопии; области применения.
Подобные документы
Рассмотрение сущности амплитудного и фазового контрастов. Технология формирования изображения в оптической системе. Анализ аберраций в электронном микроскопе. Примеры применения электронной микроскопии высокого разрешения в физике твердого тела.
лекция, добавлен 21.03.2014Физические основы когерентной микроскопии. Изучение явлений самоорганизации и регуляции внутриклеточных процессов. Метод флуоресцентной микроскопии в сочетании с видеосъемкой. Оценка линейного оптического увеличения. Корреляционный и спектральный анализ.
реферат, добавлен 30.01.2014Получение изображений двухфазных и нанопористых стекол методом конфокальной сканирующей лазерной микроскопии, которые свидетельствуют о наличии неоднородной структуры с разными оптическими свойствами. Процессы, происходящие в стеклах при термообработке.
статья, добавлен 30.11.2018Микрогеометрический анализ на основе оптической микроскопии. Приводы управления перемещениями узлов микроскопа и аппаратные решения, используемые при создании комплекса. Оценка погрешности кинематической цепи привода при перемещении предметного столика.
статья, добавлен 27.05.2018- 5. Электронная микроскопия углеродных нанотрубок и нановолокон и автоэлектронные эмиттеры на их основе
Исследование различных типов углеродных нанотрубок методами электронной микроскопии высокого разрешения (ВРЭМ), растровой электронной микроскопии (РЭМ) и электрофизическими методами. Анализ использования ОСНТ@ПУ в качестве элементов наноэлектроники.
автореферат, добавлен 02.08.2018 Понятие и виды электронной микроскопии. Схема устройства растрового электронного микроскопа и просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения. Анализ методов исследования надмолекулярной структуры аморфных и кристаллизующихся полимеров.
доклад, добавлен 07.02.2012Описание основных методов исследования растительной, животной клетки и других объектов. Изучение характеристик, особенностей применения, преимуществ и недостатков различных разновидностей светового, электронного и поляризационного методов микроскопии.
реферат, добавлен 14.12.2013Исследование электронных и молекулярных процессов, происходящих на поверхности твердых тел. История создания работы сканирующего туннельного микроскопа. Объекты анализа и методы их подготовки. Микроскопии ближнего поля, расширение области применения.
реферат, добавлен 02.11.2014Суть метода когерентной волноводной оптической микроскопии, основанный на явлении волноводного рассеяния света. Схема волноводного оптического микроскопа. Двумерные диаграммы рассеяния (функции отклика) волноводного оптического микроскопа в дальней зоне.
статья, добавлен 07.11.2018Принципы построения изображения объекта в ближнепольной оптической микроскопии. Современные схемы реализации микроскопа. Вид и изготовление зондов на основе оптического волокна. Применение фокусирующего зеркала для увеличения чувствительности излучения.
лекция, добавлен 28.12.2013Понятие про вакуум и его свойства. Модель прибора вакуумной электроники, исследование электронной эмиссии. Электронно-лучевые приборы, движение электронов в газах. Основы зондовой микроскопии (туннельная микроскопия, зондовые сканирующие микроскопы).
контрольная работа, добавлен 26.01.2020Разработка растровой электронной микроскопии с целью исследования наномасштабов. Особенности и принцип работы атмосферного растрового электронного микроскопа ClairScope, его преимущества по сравнению с оптическим микроскопом. Новые приборы фирмы ASPEX.
реферат, добавлен 20.10.2013Основные задачи и характеристики просвечивающей электронной микроскопии. Схема просвечивающего электронного микроскопа. Основные составные части и характеристики электронного пучка. Линзовая система осветителя и дефлектор. Аберрации электронных линз.
презентация, добавлен 11.12.2016Принцип работы и характеристики современного телескопа. Фазово-контрастная микроскопия, ее применение для исследования живых и неокрашенных биологических объектов. Широкое распространение люминесцентной микроскопии. Некоторые виды современных микроскопов.
контрольная работа, добавлен 09.04.2019Разработка методики подготовки атомно-силовой микроскопии (АСМ) зондов для выполнения электрических АСМ измерений и электрохимической литографии. Разработка методики выбора оптимальной силы взаимодействия "зонд-образец" для контроля процесса износа.
автореферат, добавлен 25.07.2018Оценка целесообразности применения метода фокусировки на объект в оптической микроскопии для определения высотных характеристик образца. Расчет разрешающей способности, погрешности измерений данного метода на основе данных, полученных на микроскопе Leica.
статья, добавлен 27.05.2018История открытия рентгеновских лучей и первые рентгеноскопические исследования. Возникновение и свойства рентгеновского излучения. Модели структур кристаллов по У. Брэггу. Сущность способов рентгеновской микроскопии: контактный и диффракционный.
реферат, добавлен 08.04.2013Обзор истории микроскопии. Характеристика просвечивающей электронной микроскопии. Оценка источников электронов. Определение вспомогательного оборудования для ОПЭМ и системы освещения. Анализ способов применения просвечивающего электронного микроскопа.
реферат, добавлен 15.04.2016Изучение тонких образов с помощью пучка электронов, проходящих сквозь них и взаимодействующих с ними. Электроны, прошедшие сквозь образец, их отражение на устройстве формирования изображения: флюоресцентном экране, фотопластинке или сенсоре ПЗС-камеры.
реферат, добавлен 27.11.2016Изучение структуры и элементного состава одно- и двухслойных конденсатов на основе высокотемпературных сверхпроводящих материалов, полученных из абляционной плазмы, инициированной импульсным лазерным воздействием. Метод растровой электронной микроскопии.
статья, добавлен 30.10.2010Структура и свойства различных видов наноматериалов, области их применения и особенности получения. Фундаментальные электронные явления в наноструктурах. Просвечивающая электронная и автоионная микроскопия. Квантовое ограничение. Туннельные эффекты.
учебное пособие, добавлен 03.03.2017Изобретение атомно-силового сканирующего зондового микроскопа высокого разрешения, основанного на взаимодействии зонда кантилевера с поверхностью образца. Кантилевер и особенности его работы. Биомедицинские приложения сканирующей зондовой микроскопии.
реферат, добавлен 16.09.2010История открытия и способы описания структуры нового класса твердых тел — квазикристаллов. Экспериментальные исследования их структуры методом просвечивающей электронной микроскопии. Отличия от кристаллических тел и особенности наноквазикристаллов.
статья, добавлен 23.12.2013Описание основных принципов работы сканирующего зондового и атомного силового микроскопов. Характеристика ключевых методов исследования биологических и органических объектов и структур. Типовой анализ искажающих эффектов атомно-силовой микроскопии.
диссертация, добавлен 23.12.2013Исследования наномасштабных шероховатостей поверхности твердого тела методами сканирующей зондовой микроскопии и рентгеновской рефлектометрии. Разработка аппаратуры и СЗМ-методик регистрации локального фототока в фоточувствительных полупроводниках.
автореферат, добавлен 16.02.2018