Физические основы метода атомно-силовой микроскопии. Потенциал Ленарда-Джонса как критерий оценки силы взаимодействия зонда с образцом
Физические основы и принцип работы атомно-силового микроскопа, его внутреннее устройство и главные компоненты. Анализ схемы зондового датчика, а также факторы, влияющие на его взаимодействие с поверхностью. Качественный вид потенциала Леннарда-Джонса.
Подобные документы
Изобретение атомно-силового сканирующего зондового микроскопа высокого разрешения, основанного на взаимодействии зонда кантилевера с поверхностью образца. Кантилевер и особенности его работы. Биомедицинские приложения сканирующей зондовой микроскопии.
реферат, добавлен 16.09.2010Принципиальное устройство атомно-силового микроскопа. Исследование механических свойств полимерных пленок. Принцип действия туннельного микроскопа. Преимущества, недостатки и перспективы сканирующей зондовой микроскопии. Режимы сканирования поверхности.
реферат, добавлен 14.12.2014Энергетическое состояние атома, квантовые числа. Устройство атомно-эмиссионного спектрофотометра. Уравнение Ломакина-Шайбе. Атомно-абсорбционный анализ. Устройство атомно-абсорбционного спектрофотометра. Качественный и количественный анализ проб.
презентация, добавлен 31.08.2017Физические основы атомно-абсорбционного метода. Принципиальная схема измерения поглощения света. Лоренцевское уширение. Способы измерения атомного поглощения. Различия методов атомной абсорбции и атомной эмиссии. Источники резонансного излучения.
реферат, добавлен 07.09.2011Описание основных принципов работы сканирующего зондового и атомного силового микроскопов. Характеристика ключевых методов исследования биологических и органических объектов и структур. Типовой анализ искажающих эффектов атомно-силовой микроскопии.
диссертация, добавлен 23.12.2013Разработка методики подготовки атомно-силовой микроскопии (АСМ) зондов для выполнения электрических АСМ измерений и электрохимической литографии. Разработка методики выбора оптимальной силы взаимодействия "зонд-образец" для контроля процесса износа.
автореферат, добавлен 25.07.2018Взаимодействие электронного зонда с образцом. Принципиальные основы работы растрового электронного микроскопа. Особенности подготовки образцов и режимов исследования для получения максимальной разрешающей способности. Режим Y-модуляции; подавление шумов.
статья, добавлен 30.11.2018Транзистор как полупроводниковый прибор с двумя электронно-дырочными переходами, физические основы его функционирования, внутреннее устройство и принцип работы. Механизм возникновения токов. Схемы включения биполярного транзистора, их сравнение.
реферат, добавлен 29.10.2017История открытия магнитно-силового микроскопа(МСМ): его устройство и принцип работы. МСМ исследования поверхности магнитного диска. Практическое применение магнитно-силового микроскопа: разработка и конструирование магнитных носителей информации.
презентация, добавлен 02.12.2014Принципы и основные этапы исследования структуры наномателов с помощью сканирующего туннельного микроскопа. Механизм определения работы выхода материала, а также плотности его состояний. Условия и особенности применения атомно-силового микроскопа.
курсовая работа, добавлен 12.01.2016Типы сканирующих зондовых микроскопов. Схема работы сканирующего туннельного и атомно-силового микроскопа, достоинства и недостатки их использования. Конструкции оптического микроскопа в ближнем поле и сканирующего ближнепольного оптического микроскопа.
реферат, добавлен 04.04.2017Методы и приборы для получения качественных характеристик фотонных кристаллов. Полуконтактный, бесконтактный и контактный режим работы атомно-силового микроскопа. Принцип действия конфокального микроскопа. Формирование электронно-оптических изображений.
курсовая работа, добавлен 06.10.2017Физический эффект атомно-эмиссионного спектрального анализа. Построение схемы проведения атомно-эммисионного спектрального анализа. Применение метода фотометрии пламени. Электрическая дуга постоянного тока. Высокочастотная индуктивно-связанная плазма.
реферат, добавлен 04.03.2017Основные разновидности современных транзисторов, критерии и показатели их классификации. Внутреннее устройство и главные компоненты биполярного транзистора, режимы работы и схемы включения. Факторы, влияющие на усиление сигнала, его основные классы.
реферат, добавлен 09.04.2015Характеристики, устройство, виды и принцип работы измерительных преобразователей. Физические основы их работы и применение в системах автоматического контроля или регулирования. Анализ конкретной структурной схемы САР, ее характеристики и описание работы.
курсовая работа, добавлен 16.12.2009Рассмотрение истории создания сканирующего зондового микроскопа. Изучение микрофлоры воды с помощью микроскопии. Туннельный эффект зонда - квантовое явление проникновения микрочастицы из одной доступной области движения в другую, отделённую барьером.
реферат, добавлен 14.12.2015Современные представления о морфологии поверхности. Зондовые и оптические методы исследования поверхностного рельефа. Схема организации системы обратной связи зондового микроскопа. Получение информации о свойствах поверхности в электросиловой микроскопии.
статья, добавлен 30.11.2018Характеристика описания взаимодействия между молекулами потенциалом Леннард-Джонса. Проведение исследования деформации структуры нанокластера при соударении с твердой поверхностью под действием силы тяжести. Особенность написания кода программы.
курсовая работа, добавлен 12.01.2020Изучение взаимодействия электронного пучка с поверхностью. Рассмотрение принципов работы современного сканирующего зондового микроскопа. Зондовая микроскопия в исследованиях вирусов, дезоксирибонуклеиновой кислоты и белковых комплексов бактерий.
статья, добавлен 20.07.2014Этапы возникновения и принцип действия микроскопа. Физические закономерности получения изображения в микроскопии. Методы изучения движения электронов. Виды электронных микроскопов, особенности работы с ними. Пути преодоления дифракционного предела.
реферат, добавлен 29.09.2010Физика конденсированных сред. Физические основы прочности. Закономерности взаимодействие излучения с твердым телом. Физика прочности и радиационных повреждений. Моделирование в материаловедении. Физические основы компьютерного проектирования материалов.
учебное пособие, добавлен 15.03.2014Характеристика особенностей атомно-шероховатых поверхностей и атомно-гладких граней роста кристалла. Изучение вида объекта-микрометра под микроскопом. Рассмотрение снимков роста кристалла, полученных с помощью цифрового микроскопа Intel Play QX-3.
лабораторная работа, добавлен 22.03.2015Понятие и внутреннее устройство силовых трансформаторов, принцип их работы и разновидности, назначение отдельных частей. Функциональные особенности данных трансформаторов и оценка их возможностей, режим работы во время проверок и в процессе эксплуатации.
реферат, добавлен 10.06.2022Физические основы когерентной микроскопии. Изучение явлений самоорганизации и регуляции внутриклеточных процессов. Метод флуоресцентной микроскопии в сочетании с видеосъемкой. Оценка линейного оптического увеличения. Корреляционный и спектральный анализ.
реферат, добавлен 30.01.2014Установка для атомно-флуоресцентного анализа. Спектральный прибор с фотоэлектрической регистрацией. Коэффициент, характеризующий поглощение света. Проведение измерения флуоресценции атомов в пламени. Определение отдельных атомов в газовой среде.
презентация, добавлен 05.06.2016