Электронная микроскопия
Создание растрового электронного микроскопа (РЭМ) и его популярность у физиков, химиков, криминалистов. Развитие методов исследования, позволяющих объяснить явления, происходящие в микромире. Высокая яркость и эффективность использования электронов.
Подобные документы
Понятие и виды электронной микроскопии. Схема устройства растрового электронного микроскопа и просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения. Анализ методов исследования надмолекулярной структуры аморфных и кристаллизующихся полимеров.
доклад, добавлен 07.02.2012Взаимодействие электронного зонда с образцом. Принципиальные основы работы растрового электронного микроскопа. Особенности подготовки образцов и режимов исследования для получения максимальной разрешающей способности. Режим Y-модуляции; подавление шумов.
статья, добавлен 30.11.2018Основные задачи и характеристики просвечивающей электронной микроскопии. Схема просвечивающего электронного микроскопа. Основные составные части и характеристики электронного пучка. Линзовая система осветителя и дефлектор. Аберрации электронных линз.
презентация, добавлен 11.12.2016Рассмотрение взаимодействия между физическим объектом и измерительным устройством в квантовой механике. Корпускулярно-волновой дуализм, гипотеза Луи де Бройля. Определение длин волн и скоростей электронов. Современная электронная микроскопия в физике.
реферат, добавлен 10.08.2015Образование вторичных сигналов при взаимодействии электронов с веществом мишени. Формирование электронного пучка. Устройство детектора Эверхарта-Торнли. Принцип действия детектора излучения катодолюминесценции. Регистрация рентгеновского излучения.
реферат, добавлен 12.09.2020Типы сканирующих зондовых микроскопов. Схема работы сканирующего туннельного и атомно-силового микроскопа, достоинства и недостатки их использования. Конструкции оптического микроскопа в ближнем поле и сканирующего ближнепольного оптического микроскопа.
реферат, добавлен 04.04.2017Модернизация прибора Camebax МВХ-1. Требования к приборам аналогичного класса. Разработка методик для исследования химико-физических изменений в материалах при их эксплуатации на тепловых электрических станциях, в околоземном космическом пространстве.
автореферат, добавлен 08.11.2018Структура и свойства различных видов наноматериалов, области их применения и особенности получения. Фундаментальные электронные явления в наноструктурах. Просвечивающая электронная и автоионная микроскопия. Квантовое ограничение. Туннельные эффекты.
учебное пособие, добавлен 03.03.2017Разработка растровой электронной микроскопии с целью исследования наномасштабов. Особенности и принцип работы атмосферного растрового электронного микроскопа ClairScope, его преимущества по сравнению с оптическим микроскопом. Новые приборы фирмы ASPEX.
реферат, добавлен 20.10.2013Суть метода когерентной волноводной оптической микроскопии, основанный на явлении волноводного рассеяния света. Схема волноводного оптического микроскопа. Двумерные диаграммы рассеяния (функции отклика) волноводного оптического микроскопа в дальней зоне.
статья, добавлен 07.11.2018История открытия магнитно-силового микроскопа(МСМ): его устройство и принцип работы. МСМ исследования поверхности магнитного диска. Практическое применение магнитно-силового микроскопа: разработка и конструирование магнитных носителей информации.
презентация, добавлен 02.12.2014Сущность и источники явления сверхпроводимости, история его открытия и этапы исследований, физическое обоснование и принципы. Содержание квантовой механики, причины отклонения от идеальности в движении электронов. Движение куперовских паров электронов.
реферат, добавлен 21.02.2011Рассмотрение сущности амплитудного и фазового контрастов. Технология формирования изображения в оптической системе. Анализ аберраций в электронном микроскопе. Примеры применения электронной микроскопии высокого разрешения в физике твердого тела.
лекция, добавлен 21.03.2014- 14. Виды микроскопии
Описание основных методов исследования растительной, животной клетки и других объектов. Изучение характеристик, особенностей применения, преимуществ и недостатков различных разновидностей светового, электронного и поляризационного методов микроскопии.
реферат, добавлен 14.12.2013 Изучение взаимодействия электронного пучка с поверхностью. Рассмотрение принципов работы современного сканирующего зондового микроскопа. Зондовая микроскопия в исследованиях вирусов, дезоксирибонуклеиновой кислоты и белковых комплексов бактерий.
статья, добавлен 20.07.2014Предназначение растрового электронного микроскопа как прибора для получения изображения поверхности объекта с высоким пространственным разрешением, информации о строении и свойствах приповерхностных слоев. Получение изображений в отраженных электронах.
курсовая работа, добавлен 03.05.2019- 17. Зворыкин Владимир Кузьмич, изобретение электронного микроскопа и передающей телевизионной трубки
Краткая биография В.К. Зворыкина русско-американского инженера, изобретателя современного телевидения. История создания приемно-телевизионной трубки с электростатической фокусировкой. Особенности изобретения электронного микроскопа с Дж. Хиллиером.
реферат, добавлен 02.12.2014 - 18. Электронная микроскопия углеродных нанотрубок и нановолокон и автоэлектронные эмиттеры на их основе
Исследование различных типов углеродных нанотрубок методами электронной микроскопии высокого разрешения (ВРЭМ), растровой электронной микроскопии (РЭМ) и электрофизическими методами. Анализ использования ОСНТ@ПУ в качестве элементов наноэлектроники.
автореферат, добавлен 02.08.2018 История создания и принцип работы сканирующего туннельного микроскопа. Мюллер как изобретатель первого полевого ионного микроскопа. Особенности формирования изображения поверхности по методу постоянного туннельного тока и постоянного среднего расстояния.
курсовая работа, добавлен 10.12.2018Фундаментальные электронные явления в наноструктурах. Применение наноматериалов и нанотехнологий. Просвечивающая электронная микроскопия. Рентгеновская, инфракрасная и фотоэлектронная спектроскопия. Фуллерены и нанотрубки. Нанокластеры и нанокристаллы.
учебное пособие, добавлен 11.04.2013Атомные процессы с позиции закона дифракции электронов. Познание процессов взаимодействий в микромире. Теория анализа атомных реакций. Непрерывность энергетического спектра частиц в бета-распадах. Открытие закона Корпускулярной дифракции электронов.
статья, добавлен 23.11.2018Анализ принципа неопределенности, основанного на идее дуализма квантов света и корпускул материи. Изучение закона корпускулярной дифракции электронов. Суть квантово-полевого принципа взаимодействий в микромире и чисто корпускулярного рассеяния частиц.
статья, добавлен 23.11.2018Обзор истории микроскопии. Характеристика просвечивающей электронной микроскопии. Оценка источников электронов. Определение вспомогательного оборудования для ОПЭМ и системы освещения. Анализ способов применения просвечивающего электронного микроскопа.
реферат, добавлен 15.04.2016Физические основы работы атомно-силового микроскопа. Силовое взаимодействие между зондом и поверхностью. Вид потенциала Ленарда-Джонса. Технология изготовления зондовых датчиков атомно-силовых микроскопов. Контактная атомно-силовая микроскопия.
реферат, добавлен 06.09.2015Понятие про вакуум и его свойства. Модель прибора вакуумной электроники, исследование электронной эмиссии. Электронно-лучевые приборы, движение электронов в газах. Основы зондовой микроскопии (туннельная микроскопия, зондовые сканирующие микроскопы).
контрольная работа, добавлен 26.01.2020