Атомно-силовая микроскопия
Физические основы работы атомно-силового микроскопа. Силовое взаимодействие между зондом и поверхностью. Вид потенциала Ленарда-Джонса. Технология изготовления зондовых датчиков атомно-силовых микроскопов. Контактная атомно-силовая микроскопия.
Подобные документы
Изобретение атомно-силового сканирующего зондового микроскопа высокого разрешения, основанного на взаимодействии зонда кантилевера с поверхностью образца. Кантилевер и особенности его работы. Биомедицинские приложения сканирующей зондовой микроскопии.
реферат, добавлен 16.09.2010Типы сканирующих зондовых микроскопов. Схема работы сканирующего туннельного и атомно-силового микроскопа, достоинства и недостатки их использования. Конструкции оптического микроскопа в ближнем поле и сканирующего ближнепольного оптического микроскопа.
реферат, добавлен 04.04.2017Полимерные кантилеверы и сенсоры на их основе. Метод создания тонких полимерных пленок. Точность определения кантилеверного отклонения. Сканирующая зондовая атомно-силовая микроскопия, как мощный инструмент изучения поверхностей исследуемых объектов.
курсовая работа, добавлен 25.12.2015Физические основы атомно-абсорбционного метода. Принципиальная схема измерения поглощения света. Лоренцевское уширение. Способы измерения атомного поглощения. Различия методов атомной абсорбции и атомной эмиссии. Источники резонансного излучения.
реферат, добавлен 07.09.2011Описание основных принципов работы сканирующего зондового и атомного силового микроскопов. Характеристика ключевых методов исследования биологических и органических объектов и структур. Типовой анализ искажающих эффектов атомно-силовой микроскопии.
диссертация, добавлен 23.12.2013Энергетическое состояние атома, квантовые числа. Устройство атомно-эмиссионного спектрофотометра. Уравнение Ломакина-Шайбе. Атомно-абсорбционный анализ. Устройство атомно-абсорбционного спектрофотометра. Качественный и количественный анализ проб.
презентация, добавлен 31.08.2017Причини руйнівної дії сил електростатичної взаємодії кремнієвого зонду з діелектричними поверхнями при дослідженні їх мікрогеометрії та характеристик методом атомно-силової мікроскопії. Розрахунок сил електростатичної взаємодії двох кремнієвих поверхонь.
статья, добавлен 13.10.2016Исследование способов придания краям графена атомно-гладких форм и химической функционализации. Перспективность производных графена с атомно-гладкими и химически функционализированными краями в качестве материалов для новой техники и технологий.
статья, добавлен 17.08.2021Физический эффект атомно-эмиссионного спектрального анализа. Построение схемы проведения атомно-эммисионного спектрального анализа. Применение метода фотометрии пламени. Электрическая дуга постоянного тока. Высокочастотная индуктивно-связанная плазма.
реферат, добавлен 04.03.2017Створення кінетичної моделі процесів атомізації в електротермічній атомно-абсорбційній спектрометрії, яка адекватно описуватиме атомно-абсорбційний сигнал в реальних неізотермічних умовах. Розроблення методики визначення основних модельних параметрів.
автореферат, добавлен 23.08.2014История открытия магнитно-силового микроскопа(МСМ): его устройство и принцип работы. МСМ исследования поверхности магнитного диска. Практическое применение магнитно-силового микроскопа: разработка и конструирование магнитных носителей информации.
презентация, добавлен 02.12.2014Характеристика особенностей атомно-шероховатых поверхностей и атомно-гладких граней роста кристалла. Изучение вида объекта-микрометра под микроскопом. Рассмотрение снимков роста кристалла, полученных с помощью цифрового микроскопа Intel Play QX-3.
лабораторная работа, добавлен 22.03.2015Исследование особенностей Nano-технологии, с помощью которой человек может управлять частицами и системами молекул при создании nano-структур с определенными свойствами. Характеристика принципа действия сканирующего атомно-силового микроскопа с зондом.
реферат, добавлен 29.05.2012Принципы и основные этапы исследования структуры наномателов с помощью сканирующего туннельного микроскопа. Механизм определения работы выхода материала, а также плотности его состояний. Условия и особенности применения атомно-силового микроскопа.
курсовая работа, добавлен 12.01.2016Принципиальное устройство атомно-силового микроскопа. Исследование механических свойств полимерных пленок. Принцип действия туннельного микроскопа. Преимущества, недостатки и перспективы сканирующей зондовой микроскопии. Режимы сканирования поверхности.
реферат, добавлен 14.12.2014Підвищення чутливості та точності вимірювань атомно-абсорбційного спектрофотометра за рахунок використання вертикального капілярного електротермічного атомізатора. Розроблення способів зменшення нерівномірності розповсюдження аналізованої проби.
автореферат, добавлен 30.07.2014Изучение атомно-абсорбционной спектроскопии как метода количественного элементного анализа, основанного на измерении поглощения атомным паром монохроматического излучения. Эмиссионный спектр паров натрия. Закон Бера-Бугера-Ламберта, правила Уолша.
презентация, добавлен 12.11.2017Понятие и особенности применения атомно-абсорбционных спектрометров, их достоинства и недостатки. Анализ эффективности работы при обдуве аргоном, зависимости массы графита атомизатора от количества нагреваний. Оценка износа контактов, трубки и чашки.
статья, добавлен 23.10.2010Методы и приборы для получения качественных характеристик фотонных кристаллов. Полуконтактный, бесконтактный и контактный режим работы атомно-силового микроскопа. Принцип действия конфокального микроскопа. Формирование электронно-оптических изображений.
курсовая работа, добавлен 06.10.2017- 20. Сверхпроводники
Сверхтонкие YBCO пленки с Тс выше 77К. Контакты сверхпроводника с ферромагнетиком. Использование буферного слоя между подложкой и пленкой. Метод лазерного распыления мишени. Исследования ранних стадий роста пленок с помощью атомно-силового микроскопа.
реферат, добавлен 01.12.2013 Дослідження методу атомно-силової мікроскопії як одного із видів скануючої зондової мікроскопії. Вивчення фізичних основ, принципу та режимів роботи зондових датчиків. Система керування АСМ при роботі кантилевера в контактному та безконтактному режимі.
курсовая работа, добавлен 17.05.2012Установка для атомно-флуоресцентного анализа. Спектральный прибор с фотоэлектрической регистрацией. Коэффициент, характеризующий поглощение света. Проведение измерения флуоресценции атомов в пламени. Определение отдельных атомов в газовой среде.
презентация, добавлен 05.06.2016Получение экспериментальных кривых пиролиза на атомно-абсорбционном приборе Aanalyst800, а также методом термодинамического моделирования в программном комплексе HSC 6.1. Обоснование возможности использования нитрата магния как химического модификатора.
презентация, добавлен 04.08.2016Атомно-абсорбционная спектрометрия как один из общепризнанных методов определения элементного состава вещества. Общая характеристика спектрометра и атомизатора, их значение. Особенности износа графитовых печей в условиях без обдува аргоном и с ним.
статья, добавлен 23.10.2010Одержання даних про структуру ядер шляхом вивчення атомно-ядерних ефектів (в процесі внутрішньої конверсії). Резонансні (електронні містки) і нерезонансні (двохквантовий розпад) процеси при розсіюванні конверсійних електронів в атомній оболонці.
автореферат, добавлен 12.07.2014