Изучение кристаллооптических явлений с помощью поляризационного микроскопа
Изучение устройства поляризационного микроскопа и методики работы на нем, определение осности и оптического знака кристаллов. Измерение угла между оптическими осями двуосных кристаллов. Явления в кристаллах, вырезанных перпендикулярно оптической оси.
Подобные документы
Оптическая индикатриса кристаллов различных сингоний. Устройство микроскопа, его поверки. Естественный и поляризованный свет, преломление лучей, устройство призмы Николя. Изучение оптических свойств кристаллов. Определение силы двойного лучепреломления.
курсовая работа, добавлен 18.05.2010Методы и приборы для получения качественных характеристик фотонных кристаллов. Полуконтактный, бесконтактный и контактный режим работы атомно-силового микроскопа. Принцип действия конфокального микроскопа. Формирование электронно-оптических изображений.
курсовая работа, добавлен 06.10.2017Типы сканирующих зондовых микроскопов. Схема работы сканирующего туннельного и атомно-силового микроскопа, достоинства и недостатки их использования. Конструкции оптического микроскопа в ближнем поле и сканирующего ближнепольного оптического микроскопа.
реферат, добавлен 04.04.2017Понятие плоскополяризованного света. Оптическая индикатриса кристаллов разных сингоний, принципы изучения их свойств. Устройство и поверка микроскопа. Ход лучей через систему поляризатор-кристалл-анализатор. Простые формы и комбинации кристаллов.
реферат, добавлен 06.03.2013Оценка пространственной разрешающей способности оптической системы микроскопа. Использование оптимальной линейной пространственной фильтрации цифрового изображения полуплоскости для измерения функции рассеяния линии типовых оптических систем микроскопов.
статья, добавлен 29.01.2019Общие понятия, история, первый изобретатель, недавние достижения в разработке оптического микроскопа. Применение в науке и технике, устройство и основные элементы оптической системы. Специализированные виды микроскопов: назначение и возможности.
доклад, добавлен 13.03.2011Суть метода когерентной волноводной оптической микроскопии, основанный на явлении волноводного рассеяния света. Схема волноводного оптического микроскопа. Двумерные диаграммы рассеяния (функции отклика) волноводного оптического микроскопа в дальней зоне.
статья, добавлен 07.11.2018Пироэлектричество – одно из интереснейших физических явлений, наблюдаемых в кристаллах. Действие основных законов кристаллофизики, рассматривающих взаимосвязь симметрии кристаллов и физических явлений. Взаимодействие различных свойств кристаллов.
реферат, добавлен 13.04.2023Исследование явления поляризационного шума в сегнетокерамических датчиках в рамках общей теории фазовых переходов второго рода Ландау. Спектральный анализ теплового и поляризационного шумов. Определение наличия 1/f шума в поляризационном спектре.
статья, добавлен 11.01.2018Изобретение микроскопа, претенденты на звание изобретателя. Как инструмент в дальнейшем развивался и усовершенствовался. Проблема хроматической аберрации. Основные детали, которые и в настоящее время входят в состав современного оптического микроскопа.
статья, добавлен 29.09.2019Изучение всемирной истории изобретения и усовершенствования микроскопов. Применение ахроматических линз. Анализ основ физики микроскопии. Описания основных процессов, протекающих в оптической системе микроскопа. Исследование классификации микроскопов.
статья, добавлен 22.12.2016История возникновения, применение и предназначение микроскопа, характеристика и отличительные черты его видов. Принцип построения простого и сложного микроскопа, ход лучей в приборе. Замечание о максимальном увеличении микроскопа, предел его разрешения.
реферат, добавлен 23.04.2017Расчет туннельного тока, проходящего через иглу туннельного микроскопа. Измерение рельефа поверхности с помощью туннельного микроскопа. Оценка размеров конца иглы. Изменения в монохромном изображении, к которым приводит учет радиуса закругления иглы.
статья, добавлен 28.10.2018Исследование влияния эффектов радиационного повреждения сцинтилляционных кристаллов на параметры детекторов каскадных ливней. Анализ методов восстановления оптического пропускания кристаллов на основе оптического облучения и низкотемпературного отжига.
автореферат, добавлен 29.03.2018Изучение принципов работы просвечивающего электронного микроскопа и идентификации веществ по их дифракционным картинам. Гипотеза Де Бройля о наличии у частиц вещества волновых свойств. Расчет электронограммы, дифракционная картина на кристаллах никеля.
лабораторная работа, добавлен 28.05.2015Результаты динамической теории рассеяния рентгеновских лучей для кристаллов со случайно распределенными дефектами. Диффузное рассеяние на кристаллах с дефектами. Методы исследования дифракционных характеристик структурного совершенства кристаллов.
лекция, добавлен 21.03.2014Изучение свойств кристаллов, подвергнутых сверхвысокому давлению. Модель решетки диэлектрической фазы ионного кристалла. Термодинамические потенциалы диэлектрической и металлизированной фаз. Давления "металлизации" образцов щелочно-галоидных кристаллов.
статья, добавлен 30.07.2013Знакомство с технологиями создания кристаллов с заданным взаимным расположением молекул. История зарождения концепции инженерии кристаллов, ее связь с супрамолекулярной химией. Методы конструирования кристаллов с желаемыми структурой и свойствами.
презентация, добавлен 13.02.2017Свойства кристаллов исландского шпата. Объяснение явления двойного лучепреломления на основе своей волновой теории света. Основные свойства электромагнитных волн. Поляризация света и поляризаторы. Предел измерения оптической разности кристаллов.
реферат, добавлен 02.06.2016Анализ хронологии развития микроскопии. Строение и принцип работы оптического микроскопа. Исследование контраста изображения и разрешающей способности прибора с сильно увеличивающими стеклами. Особенность измерения размеров микроскопических объектов.
реферат, добавлен 29.05.2016Принципы и основные этапы исследования структуры наномателов с помощью сканирующего туннельного микроскопа. Механизм определения работы выхода материала, а также плотности его состояний. Условия и особенности применения атомно-силового микроскопа.
курсовая работа, добавлен 12.01.2016Природа оптического излучения, его распространение и явления, наблюдаемые при взаимодействии света и вещества. Определение ограничения оптического диапазона условно и в значительной степени, с помощью технических средств. Законы оптических явлений.
реферат, добавлен 01.12.2010Основы геометрической оптики, приближенный метод построения изображений в оптических системах. Преломление и отражение света на сферической поверхности линзы. Практическое вычисление показателя преломления стекла при помощи лабораторного микроскопа.
методичка, добавлен 22.11.2012Изображение хода лучей в рефрактометре. Определение показателя преломления стекла с помощью микроскопа и преломления жидкостей с помощью рефрактометра. Зависимость показателя преломления среды от угла падения, длины волны падающего света и температуры.
методичка, добавлен 13.08.2013Обсуждаются условия помещения одиночных атомов или ионов в дефекты фотонных кристаллов, в которых с помощью локальных полей атомы удерживаются от взаимодействия с поверхностью твердых тел. Использование фотонных кристаллов в качестве матрицы для атомов.
статья, добавлен 19.06.2018