Методика оценки интенсивности отказов функциональных узлов интегральных схем
Проблема прогнозирования надежности радиоэлектронной аппаратуры. Анализ модели прогнозирования интенсивности отказов микросхем с точки зрения возможности разделения интенсивности отказов микросхемы на сумму напряженностей отречений кристалла и корпуса.
Подобные документы
Обобщенная математическая модель эксплуатационной интенсивности отказов электрорадиоизделий отечественного производства. Метод идентификации численных значений коэффициентов синтезированной математической модели на примере класса ЭРИ "Resisters".
статья, добавлен 08.12.2018Показатели надежности современного радиоэлектронного оборудования. Виды отказов и основные дефекты. Неразрушающиеся методы испытания элементов радиоэлектронной аппаратуры. Автоматизация измерения НЧ шумов полупроводниковых приборов и интегральных схем.
реферат, добавлен 22.02.2011Классификация и механизмы отказов транзисторов и диодов, причины выхода их из строя. Зависимость интенсивности отказов полупроводниковых приборов от условий их применения. Выбор щадящего режима работы устройств для увеличения надежности оборудования.
контрольная работа, добавлен 25.11.2012Анализ работоспособности сложных систем, способы повышения их надежности. Характеристика основных видов резервирования. Определение вероятности безотказной работы элементов. Применение метода свертки для элементарных схем. Расчет интенсивности отказов.
лекция, добавлен 22.03.2018Рассматривается вопрос прогнозирования вероятности безотказной работы приборов на основе теоретических зависимостей. Условия возникновения отказов в идеальных и реальных условиях эксплуатации. Методика прогнозирования оптимального момента времени.
статья, добавлен 31.08.2020Обоснование оцениваемых показателей надежности печатного узла. Выбор типов и типоразмеров элементов каскада. Коэффициенты электрической нагрузки элементов. Модели прогнозирования и расчет безотказности эксплуатационной интенсивности отказов элементов.
курсовая работа, добавлен 13.06.2014Анализ электронной схемы робота. Методика определения вероятности безотказной работы в течение определенного времени. Расчет интенсивности отказов кварцевого резонатора, звукоизлучателя, фотодатчика, триггеров, транзисторов и операционных усилителей.
статья, добавлен 05.03.2015Особенность исследования уровня надежности микроэлектронных систем. Анализ отказов полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Изучение устойчивости компонентов электронных схем. Основные составляющие исправности программного обеспечения.
лекция, добавлен 22.03.2018Вычисление вероятности безотказной работы, частоты и интенсивности отказов на заданном интервале. Расчет средней наработки изделия до первого отказа. Количественные характеристики надежности. Закон распределения Релея. Двусторонний доверительный интервал.
контрольная работа, добавлен 05.12.2014Определение особенностей радиоэлектронных средств, проявляющихся в процессе изменения режимов функционирования. Применение метода расчета интенсивности отказов радиоэлектронных средств с учетом изменения значений коэффициентов электрической нагрузки.
статья, добавлен 19.06.2018Построение полумарковской модели процесса контроля cкрытых отказов восстанавливаемой системы без отключения работающего компонента. Нахождение и подтверждение стационарных характеристик надежности системы и эффективности качества ее функционирования.
статья, добавлен 19.02.2013- 12. Применение ионизирующего излучения для ускоренных испытаний на надежность МОП интегральных микросхем
Прогнозирование отказов металл-оксид полупроводников интегральных микросхем в период старения в условиях воздействия низкоинтенсивного ионизирующего излучения на основе использования ускоренных испытаний при повышенной температуре. Результаты испытаний.
диссертация, добавлен 02.08.2018 Описания особенностей конструирования интегральных микросхем и радиоэлектронной аппаратуры на их основе. Структура ячейки флэш-памяти. Обзор внутреннего устройства микросхемы. Основные элементы биполярных микросхем. Конструктивно-технологические типы ИМС.
презентация, добавлен 20.07.2013Рассмотрение методики исследований интегральных микросхем на стойкость в электромагнитных полях импульсного радиоизлучения. Изучение повреждений печатных плат радиоэлектронной аппаратуры. Анализ нарушений работоспособности интегральных микросхем.
статья, добавлен 30.10.2018Принцип работы и функциональная схема зарядного устройства. Расчет интенсивности отказов, анализ механических воздействий и технологичности. Компонование прибора, выбор материала основания, конструктивных материалов и проводов. Расчет размерных цепей.
курсовая работа, добавлен 26.06.2013Выбор топологии и архитектуры трассы. Определение длины регенерационного участка, разработка схемы организации связи. Проектирование сети синхронизации, расчет интенсивности отказов и среднего времени наработки на отказ тракта для кабельных сетей.
курсовая работа, добавлен 05.04.2012Методы обеспечения надежности микроэлектронной аппаратуры и микроэлектронных изделий, эксплуатационные факторы, влияющие на их надежность. Основные характеристики отказов медицинских изделий. Методы оценки и контроля надежности медицинских приборов.
дипломная работа, добавлен 26.05.2018Использование интегральных микросхем в радиоэлектронной аппаратуре. Назначение арифметически-логических интегральных схем. Классификация сумматоров, выбор и обоснование функциональной схемы. Расчет потребления мощности, быстродействия и надежности.
реферат, добавлен 06.03.2010Понятие и назначение интегральной микросхемы и история ее создания. Строение и классификация цифровых интегральных микросхем. Разновидности технологии изготовления интегральных микросхем и методы технологического контроля их качества при производстве.
курсовая работа, добавлен 04.09.2014Анализ рынка современных интегральных микросхем. Дифференциальный подход оценки надежности по стандартизированным методикам. Технология создания алгоритма методики оценки безотказности интегральных микросхем по конструктивно-технологическим параметрам.
дипломная работа, добавлен 13.02.2016Понятие отказа и неполадок. Обзор неразрушающих методов испытания элементов РЭА. Прогнозирование надежности ППП по уровню собственных шумов. Методы измерения НЧ шумов. Автоматизация измерения НЧ шумов полупроводниковых приборов и интегральных схем.
реферат, добавлен 15.08.2011Расчет надежности нерезервированных устройств, входящих в ретранслятор. Суть интенсивностей отказов механизма. Анализ лучших кратностей резервирования конструкций. Построение математической модели вероятности безотказной работы резервированного изделия.
контрольная работа, добавлен 21.02.2016Анализ тенденций развития электронной компонентной базы и особенностей применения пьезопреобразователей (ПП) механических величин в радиационно-стойкой аппаратуре. Закономерности поведения, доминирующих радиационных эффектов и механизмов отказов в ПП.
автореферат, добавлен 02.08.2018Разработка методов проверки технического состояния судовой электронной техники, сокращение сроков её испытаний. Раннее выявление отклонений, использование резервов качества аппаратуры. Прогнозирование отказов судовых автоматизированных систем управления.
автореферат, добавлен 08.02.2018Понятие надежности технических устройств, ее основные параметры. Эксплуатационные свойства изделий с позиций обеспечения надежной работы, понятие работоспособности и отказа, классификация отказов. Структурная надежность аппаратуры и методы ее повышения.
реферат, добавлен 17.12.2014