Прогнозування терміну надійної експлуатації інтегральних мікросхем радіотехнічних пристроїв

Аналіз методики верифікації інтегральних мікросхем на прикладі елементів пам’яті з використанням тестів. Залежність часу надійної експлуатації інтегральних мікросхем радіотехнічних пристроїв від умов їх експлуатації, стану поверхні кремнієвого чипу.

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.