Методы и приборы для исследования фотонных кристаллов
Методы и приборы для получения качественных характеристик фотонных кристаллов. Полуконтактный, бесконтактный и контактный режим работы атомно-силового микроскопа. Принцип действия конфокального микроскопа. Формирование электронно-оптических изображений.
Подобные документы
Принципы и основные этапы исследования структуры наномателов с помощью сканирующего туннельного микроскопа. Механизм определения работы выхода материала, а также плотности его состояний. Условия и особенности применения атомно-силового микроскопа.
курсовая работа, добавлен 12.01.2016Понятие плоскополяризованного света. Оптическая индикатриса кристаллов разных сингоний, принципы изучения их свойств. Устройство и поверка микроскопа. Ход лучей через систему поляризатор-кристалл-анализатор. Простые формы и комбинации кристаллов.
реферат, добавлен 06.03.2013Проведение численного алгоритма для исследования двумерных волноведущих систем. Использование метода конечных разностей во временной области, TS/SF и идеального согласованного слоя. Изучение двумерных фотонных кристаллов и основанных на них устройств.
статья, добавлен 06.11.2018Оптическая индикатриса кристаллов различных сингоний. Устройство микроскопа, его поверки. Естественный и поляризованный свет, преломление лучей, устройство призмы Николя. Изучение оптических свойств кристаллов. Определение силы двойного лучепреломления.
курсовая работа, добавлен 18.05.2010Сущность основных способов оптимизации параметров металлических фотонных кристаллов, позволяющих достичь максимального проявления ими резонансных свойств, заключающихся в локализации электромагнитного излучения внутри кристалла на определенных частотах.
статья, добавлен 05.11.2018Изучение устройства поляризационного микроскопа и методики работы на нем, определение осности и оптического знака кристаллов. Измерение угла между оптическими осями двуосных кристаллов. Явления в кристаллах, вырезанных перпендикулярно оптической оси.
лабораторная работа, добавлен 05.04.2020Классификация оптических приборов. Составные части и принцип действия фотоаппарата. Принцип получения изображения с помощью глаз. Дефекты зрения. Проекционный и диаскопический, эпископический и эпидиаскопический аппараты. История развития микроскопа.
презентация, добавлен 11.03.2013Типы сканирующих зондовых микроскопов. Схема работы сканирующего туннельного и атомно-силового микроскопа, достоинства и недостатки их использования. Конструкции оптического микроскопа в ближнем поле и сканирующего ближнепольного оптического микроскопа.
реферат, добавлен 04.04.2017Исследование возможностей оптимизации одномерного Рамановского усилителя оптических сигналов для увеличения коэффициента усиления проходящих и отраженных сигналов. Осуществление проверки эффективности увеличения активной среды фотонных кристаллов.
статья, добавлен 29.06.2017Сведения о фотонных кристаллах. Обзор закономерностей движения квантовой частицы в периодическом потенциале. Эффект Фредерикса в жидкокристаллических структурах. Теория фотонных запрещенных зон. Диэлектрическая проницаемость кристаллов в пространстве.
курсовая работа, добавлен 26.12.2017Принципиальное устройство атомно-силового микроскопа. Исследование механических свойств полимерных пленок. Принцип действия туннельного микроскопа. Преимущества, недостатки и перспективы сканирующей зондовой микроскопии. Режимы сканирования поверхности.
реферат, добавлен 14.12.2014История открытия магнитно-силового микроскопа(МСМ): его устройство и принцип работы. МСМ исследования поверхности магнитного диска. Практическое применение магнитно-силового микроскопа: разработка и конструирование магнитных носителей информации.
презентация, добавлен 02.12.2014История возникновения, применение и предназначение микроскопа, характеристика и отличительные черты его видов. Принцип построения простого и сложного микроскопа, ход лучей в приборе. Замечание о максимальном увеличении микроскопа, предел его разрешения.
реферат, добавлен 23.04.2017Физические основы работы атомно-силового микроскопа. Силовое взаимодействие между зондом и поверхностью. Вид потенциала Ленарда-Джонса. Технология изготовления зондовых датчиков атомно-силовых микроскопов. Контактная атомно-силовая микроскопия.
реферат, добавлен 06.09.2015Результаты динамической теории рассеяния рентгеновских лучей для кристаллов со случайно распределенными дефектами. Диффузное рассеяние на кристаллах с дефектами. Методы исследования дифракционных характеристик структурного совершенства кристаллов.
лекция, добавлен 21.03.2014Взаимодействие электронного зонда с образцом. Принципиальные основы работы растрового электронного микроскопа. Особенности подготовки образцов и режимов исследования для получения максимальной разрешающей способности. Режим Y-модуляции; подавление шумов.
статья, добавлен 30.11.2018Знакомство с технологиями создания кристаллов с заданным взаимным расположением молекул. История зарождения концепции инженерии кристаллов, ее связь с супрамолекулярной химией. Методы конструирования кристаллов с желаемыми структурой и свойствами.
презентация, добавлен 13.02.2017Принцип действия поляризационных приборов, их применение в кристаллографии, петрографии для исследования свойств кристаллов; в оптической промышленности, машиностроении и приборостроении, в медицине, химической, пищевой, фармацевтической промышленности.
реферат, добавлен 05.06.2010Изобретение атомно-силового сканирующего зондового микроскопа высокого разрешения, основанного на взаимодействии зонда кантилевера с поверхностью образца. Кантилевер и особенности его работы. Биомедицинские приложения сканирующей зондовой микроскопии.
реферат, добавлен 16.09.2010Разработка растровой электронной микроскопии с целью исследования наномасштабов. Особенности и принцип работы атмосферного растрового электронного микроскопа ClairScope, его преимущества по сравнению с оптическим микроскопом. Новые приборы фирмы ASPEX.
реферат, добавлен 20.10.2013Физические основы и принцип работы атомно-силового микроскопа, его внутреннее устройство и главные компоненты. Анализ схемы зондового датчика, а также факторы, влияющие на его взаимодействие с поверхностью. Качественный вид потенциала Леннарда-Джонса.
реферат, добавлен 25.05.2020Основы геометрической оптики, приближенный метод построения изображений в оптических системах. Преломление и отражение света на сферической поверхности линзы. Практическое вычисление показателя преломления стекла при помощи лабораторного микроскопа.
методичка, добавлен 22.11.2012Этапы возникновения и принцип действия микроскопа. Физические закономерности получения изображения в микроскопии. Методы изучения движения электронов. Виды электронных микроскопов, особенности работы с ними. Пути преодоления дифракционного предела.
реферат, добавлен 29.09.2010Общий принцип действия измерительного механизма. Уравнение преобразования электромеханического прибора. Приборы магнитоэлектрической системы: принцип действия и устройство, вывод уравнения шкалы. Достоинства магнитоэлектрических приборов, их назначение.
лекция, добавлен 03.04.2019Характеристика устройств, преобразующих, преломляющих, отражающих излучение областей спектра. Назначение и свойства базовых оптические элементов: линз, призм, зеркал, фильтров. Конструкции и лабораторные задачи оптических приборов микроскопа и телескопа.
реферат, добавлен 25.12.2023