Влияние нерезонансных периодических возмущений на положение иглы туннельного микроскопа
Исследование конструкции туннельного микроскопа. Анализ упругих свойств звена манипулятора горизонтальных перемещений. Оценка величины отклонений иглы при действии периодических возмущений на основании измерительного блока, при колебаниях основания.
Подобные документы
История создания и принцип работы сканирующего туннельного микроскопа. Мюллер как изобретатель первого полевого ионного микроскопа. Особенности формирования изображения поверхности по методу постоянного туннельного тока и постоянного среднего расстояния.
курсовая работа, добавлен 10.12.2018Типы сканирующих зондовых микроскопов. Схема работы сканирующего туннельного и атомно-силового микроскопа, достоинства и недостатки их использования. Конструкции оптического микроскопа в ближнем поле и сканирующего ближнепольного оптического микроскопа.
реферат, добавлен 04.04.2017Принципиальное устройство атомно-силового микроскопа. Исследование механических свойств полимерных пленок. Принцип действия туннельного микроскопа. Преимущества, недостатки и перспективы сканирующей зондовой микроскопии. Режимы сканирования поверхности.
реферат, добавлен 14.12.2014Принципы и основные этапы исследования структуры наномателов с помощью сканирующего туннельного микроскопа. Механизм определения работы выхода материала, а также плотности его состояний. Условия и особенности применения атомно-силового микроскопа.
курсовая работа, добавлен 12.01.2016Моделирование туннельного тока в металл-оксид-полупроводниковых транзисторах, являющихся основой элементов флеш-памяти. Влияние затворного и стокового напряжения, толщины туннельного окисла транзистора на распределение плотности туннельного тока.
статья, добавлен 21.06.2018Исследовано влияние внешних когерентных или шумовых возмущений большой амплитуды на поведение вольтамперных характеристик туннельных диодов. Показано, что шумовое воздействие приводит к подавлению отрицательного дифференциального сопротивления N-типа.
статья, добавлен 07.11.2018История возникновения, применение и предназначение микроскопа, характеристика и отличительные черты его видов. Принцип построения простого и сложного микроскопа, ход лучей в приборе. Замечание о максимальном увеличении микроскопа, предел его разрешения.
реферат, добавлен 23.04.2017Исследование электронных и молекулярных процессов, происходящих на поверхности твердых тел. История создания работы сканирующего туннельного микроскопа. Объекты анализа и методы их подготовки. Микроскопии ближнего поля, расширение области применения.
реферат, добавлен 02.11.2014Построение кумулятивной кривой случайных погрешностей. Вычисление среднего арифметического и погрешности измерения. Расчет на интервале значения функции Гаусса. Методика вычисления оптических и метрологических характеристик измерительного микроскопа.
контрольная работа, добавлен 16.09.2013Принципы измерения линейного размера структурных единиц наноматериалов. Дифракционный предел разрешающей способности человеческого глаза, увеличение простейшего, оптического, туннельного и флуоресцентного микроскопа. Виды рентгеновского излучения.
лекция, добавлен 12.08.2015Определение сущности нанотехнологии. Рассмотрение преимуществ сканирующего туннельного микроскопа – устройства, позволяющего исследовать вещество на атомном уровне. Ознакомление со стадиями золь-гель метода. Анализ процесса ионного обмена и диализа.
курсовая работа, добавлен 29.10.2017Изобретение микроскопа, претенденты на звание изобретателя. Как инструмент в дальнейшем развивался и усовершенствовался. Проблема хроматической аберрации. Основные детали, которые и в настоящее время входят в состав современного оптического микроскопа.
статья, добавлен 29.09.2019Распространение возмущений некоторой физической величины в пространстве с течением времени. Упругие волны в стержнях. Волновое уравнение. Плоская гармоническая волна, ее длина и фазовая скорость. Объемная плотность энергии. Представление возмущений.
лекция, добавлен 29.09.2014Оценка влияния зависимости коэффициента теплопроводности от температуры на развитие бесконечно малых и конечных возмущений в области аномальной термодиффузии. Определение границы устойчивости основного течения относительно наиболее опасных возмущений.
статья, добавлен 26.04.2019Общая характеристика упругих волн как упругих возмущений, распространяющихся в твердой, жидкой и газообразных сферах. Порядок расчета фазовой скорости продольных волн разрежения-сжатия. Скорости распространения сейсмических и ультразвуковых волн.
статья, добавлен 11.03.2019Построение методами математического моделирования динамических моделей локализованных сферических возмущений однородной и изотропной пространственно плоской вселенной. Численное моделирование полученных решений, динамика локализованных возмущений.
автореферат, добавлен 02.08.2018Изучение всемирной истории изобретения и усовершенствования микроскопов. Применение ахроматических линз. Анализ основ физики микроскопии. Описания основных процессов, протекающих в оптической системе микроскопа. Исследование классификации микроскопов.
статья, добавлен 22.12.2016Исследование пространственно-временной структуры волновых возмущений, генерируемых солнечным терминатором, и ее изменений в зависимости от смены геофизических условий и времен года. Обзор работ в области эффектов солнечного терминатора в ионосфере.
автореферат, добавлен 29.10.2018Решение краевых задач для 1-периодической среды в пространственной теории упругости. Изучение явлений на границе перехода от одной упругой среды к другой. Определение компонент тензора напряжений, перемещений и деформаций. Расчёт поверхностных макросил.
статья, добавлен 29.10.2018Понятие механических колебаний как периодических изменений физической величины, описывающей механическое движение. Гармонические и свободные колебания. Пружинный и математический маятники. Превращения энергии при свободных механических колебаниях.
реферат, добавлен 27.10.2012Методика расчета линейных цепей при несинусоидальных токах. Свойства периодических кривых, обладающих симметрией. Разложение периодических несинусоидальных кривых в ряд Фурье. Определение мощности в цепях и действующего значения данных переменных.
реферат, добавлен 30.03.2017Оценка пространственной разрешающей способности оптической системы микроскопа. Использование оптимальной линейной пространственной фильтрации цифрового изображения полуплоскости для измерения функции рассеяния линии типовых оптических систем микроскопов.
статья, добавлен 29.01.2019Общие понятия, история, первый изобретатель, недавние достижения в разработке оптического микроскопа. Применение в науке и технике, устройство и основные элементы оптической системы. Специализированные виды микроскопов: назначение и возможности.
доклад, добавлен 13.03.2011Разработка численного метода для моделирования распространения акустико-гравитационных волн (АГВ). Генерация волнообразных ионосферных возмущений от разного типа источников. Исследование отклика ионосферы на воздействие поверхностных источников.
автореферат, добавлен 31.01.2013Анализ противоречий традиционных постановок и решений классической задачи о свободных колебаниях стержня с одним закрепленным концом и в других (неособых) сечениях. Решение задачи о распространении локальных возмущений в струне и противоречия ее теории.
статья, добавлен 26.10.2010