Особливості кристалографії поверхонь сколювання (100) шаруватих напівпровідникових кристалів In4Se3

Дослідження поверхні наноструктурованих матеріалів. Аналіз результатів структурних досліджень шарувато-ланцюжкових напівпровідникових кристалів In4Se3 методом Х-променевої дифрактометрії та їх поверхонь сколювання методом дифракції повільних електронів.

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.