Метод просвечивающей электронной микроскопии
Изучение тонких образов с помощью пучка электронов, проходящих сквозь них и взаимодействующих с ними. Электроны, прошедшие сквозь образец, их отражение на устройстве формирования изображения: флюоресцентном экране, фотопластинке или сенсоре ПЗС-камеры.
Подобные документы
Электронно-оптическая система как совокупность электродов, магнитов, проводников, обтекаемых током. Характеристика основных направлений электронной микроскопии. Методы просвечивающей и растровой микроскопии. Принципиальная оптическая схема микроскопа.
реферат, добавлен 20.11.2016Этапы возникновения и принцип действия микроскопа. Физические закономерности получения изображения в микроскопии. Методы изучения движения электронов. Виды электронных микроскопов, особенности работы с ними. Пути преодоления дифракционного предела.
реферат, добавлен 29.09.2010Основные задачи и характеристики просвечивающей электронной микроскопии. Схема просвечивающего электронного микроскопа. Основные составные части и характеристики электронного пучка. Линзовая система осветителя и дефлектор. Аберрации электронных линз.
презентация, добавлен 11.12.2016Понятие и виды электронной микроскопии. Схема устройства растрового электронного микроскопа и просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения. Анализ методов исследования надмолекулярной структуры аморфных и кристаллизующихся полимеров.
доклад, добавлен 07.02.2012Принцип работы и функциональное назначение, а также устройство и главные элементы циклотрона. Условия применения программы SRIM. Моделирование прохождения пучка протонов сквозь систему формирования, состоящую из ионопроводов и рассеивающих фольг.
курсовая работа, добавлен 27.10.2017Закономерности дефектообразования в легированных и нелегированных полупроводниковых материалах методами просвечивающей электронной микроскопии. Расчет энергии дефекта упаковки. Контроль стойкости полупроводниковых материалов к образованию дефектов.
автореферат, добавлен 26.07.2018Методы просвечивающей и растровой электронной, атомно-силовой микроскопии. Изучение строения и фрактальных характеристик массивов нано-/микрочастиц серебра, осажденных из аэрозоля и тумана на диэлектрические подложки (ядерные фильтры и кремний).
статья, добавлен 25.10.2018- 8. Увеличение электрической прочности ускоряющего промежутка электронного источника при наличии пучка
Разработка плазменной электронной пушки. Создание плазменного источника электронов в комбинации полого катода и плоского ускоряющего промежутка для генерации электронного пучка в форвакуумном диапазоне давлений. Использование математической модели.
реферат, добавлен 26.01.2017 История открытия и способы описания структуры нового класса твердых тел — квазикристаллов. Экспериментальные исследования их структуры методом просвечивающей электронной микроскопии. Отличия от кристаллических тел и особенности наноквазикристаллов.
статья, добавлен 23.12.2013Краткая история исследований в Институте радиофизики и электроники им. А.Я. Усикова по цифровой обработке изображений. Характеристика и особенности проблемы достижения дифракционного разрешения при наблюдении объекта сквозь турбулентную атмосферу.
статья, добавлен 14.07.2016Результаты экспериментального исследования прохождения сильноточного импульсного пучка электронов длительностью около 200 нс и энергией до 200 кэВ через прямую и изогнутую стеклянные трубки. Поворот пучка, движущегося в изогнутой стеклянной трубке.
статья, добавлен 27.07.2016Методы расчета надежных источников питания (преобразователей частоты) для мощных высоковольтных ускорителей электронов трансформаторного типа, исходя из геометрических размеров ускорителя и принятых величин максимальной энергии тока электронного пучка.
автореферат, добавлен 30.01.2018Рассмотрение истории создания сканирующего зондового микроскопа. Изучение микрофлоры воды с помощью микроскопии. Туннельный эффект зонда - квантовое явление проникновения микрочастицы из одной доступной области движения в другую, отделённую барьером.
реферат, добавлен 14.12.2015Разработка растровой электронной микроскопии с целью исследования наномасштабов. Особенности и принцип работы атмосферного растрового электронного микроскопа ClairScope, его преимущества по сравнению с оптическим микроскопом. Новые приборы фирмы ASPEX.
реферат, добавлен 20.10.2013С помощью компьютерного моделирования с использованием 3D-модели ленточного электронного пучка проведен траекторный анализ при транспортировке пучка в стационарном магнитном поле при циклотронном вращении пучка. Определены области стабильности пучка.
статья, добавлен 03.11.2018Рассмотрение сущности амплитудного и фазового контрастов. Технология формирования изображения в оптической системе. Анализ аберраций в электронном микроскопе. Примеры применения электронной микроскопии высокого разрешения в физике твердого тела.
лекция, добавлен 21.03.2014Схемы изменения ориентации свободных электронов в проводе под действием электрического импульса. Формирование импульсов электронов вдоль провода и излучение им фотонов в пространство. Схема передачи электронной информации в пространство и по проводам.
статья, добавлен 04.02.2019- 18. Электронная микроскопия углеродных нанотрубок и нановолокон и автоэлектронные эмиттеры на их основе
Исследование различных типов углеродных нанотрубок методами электронной микроскопии высокого разрешения (ВРЭМ), растровой электронной микроскопии (РЭМ) и электрофизическими методами. Анализ использования ОСНТ@ПУ в качестве элементов наноэлектроники.
автореферат, добавлен 02.08.2018 Энергетические зоны примесей и дефектов. Локализация электронных состояний на дефекте структуры. Теория туннельного эффекта. Прохождение частицы сквозь потенциальный барьер. Туннелирование электронов в твёрдых телах. Работа квантового транзистора.
контрольная работа, добавлен 23.04.2024Описание и анализ основных функций установки для измерения двойных и тройных совпадений y-квантов, b-частиц с низкоэнергетическими электронами, включая электроны вторичной электронной эмиссии (электроны околонулевой энергии e0) - (y, b)(e, e0)-совпадения.
статья, добавлен 14.11.2013Понятие про вакуум и его свойства. Модель прибора вакуумной электроники, исследование электронной эмиссии. Электронно-лучевые приборы, движение электронов в газах. Основы зондовой микроскопии (туннельная микроскопия, зондовые сканирующие микроскопы).
контрольная работа, добавлен 26.01.2020Изучение принципов работы просвечивающего электронного микроскопа и идентификации веществ по их дифракционным картинам. Гипотеза Де Бройля о наличии у частиц вещества волновых свойств. Расчет электронограммы, дифракционная картина на кристаллах никеля.
лабораторная работа, добавлен 28.05.2015Схема экспериментальной установки Резерфорда. Процесс прохождения альфа-частиц сквозь атомы фольги в опыте Резерфорда с точки зрения ядерной модели. Сущность концепции Томсона. Вращение отрицательных частиц-электронов вокруг ядра по замкнутым орбитам.
презентация, добавлен 04.11.2012Разработка сепаратора стабильных изотопов. Разделение изотопов и транспортировка их в приемное устройство с помощью анализирующего магнита. Метод измерения параметров пучка на входе в ионно-оптический тракт сепаратора стабильных изотопов циклотрона У-240.
статья, добавлен 02.09.2013- 25. Отражение света
Изучение зеркальных оптических и атмосферных явлений. Процесс диффузного отражения пучка света. Рассмотрение обратимости световых лучей. Отражение света как явление, наблюдаемое при падении света на поверхность раздела двух оптически разнородных сред.
презентация, добавлен 18.12.2014