Preparation, structural and optical characterization of ZnO / Ag thin film by CVD

Research transparent conducting n-type semiconductor zinc oxide films, which have been extensively studied in recent year because they exhibit wide band gap. Analysis of scanning electron microscopy which used for study of surface morphological changes.

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.