Основы сканирующей зондовой микроскопии
Принципы работы сканирующих зондовых микроскопов, их сканирующие элементы (сканеры). Устройства для прецизионных перемещений зонда и образца. Порядок формирования и обработки СЗМ изображений. Процесс защиты зондовых микроскопов от внешних воздействий.
Подобные документы
Принципиальное устройство атомно-силового микроскопа. Исследование механических свойств полимерных пленок. Принцип действия туннельного микроскопа. Преимущества, недостатки и перспективы сканирующей зондовой микроскопии. Режимы сканирования поверхности.
реферат, добавлен 14.12.2014Изобретение атомно-силового сканирующего зондового микроскопа высокого разрешения, основанного на взаимодействии зонда кантилевера с поверхностью образца. Кантилевер и особенности его работы. Биомедицинские приложения сканирующей зондовой микроскопии.
реферат, добавлен 16.09.2010Физические основы работы атомно-силового микроскопа. Силовое взаимодействие между зондом и поверхностью. Вид потенциала Ленарда-Джонса. Технология изготовления зондовых датчиков атомно-силовых микроскопов. Контактная атомно-силовая микроскопия.
реферат, добавлен 06.09.2015Рассмотрение истории создания сканирующего зондового микроскопа. Изучение микрофлоры воды с помощью микроскопии. Туннельный эффект зонда - квантовое явление проникновения микрочастицы из одной доступной области движения в другую, отделённую барьером.
реферат, добавлен 14.12.2015Изучение всемирной истории изобретения и усовершенствования микроскопов. Применение ахроматических линз. Анализ основ физики микроскопии. Описания основных процессов, протекающих в оптической системе микроскопа. Исследование классификации микроскопов.
статья, добавлен 22.12.2016Параметры зондов и их основные виды, применяемые в сверхточных науках. Заточенное острие, приготовленное из металлической проволоки, используемое в качестве зонда в сканирующем туннельном микроскопе. Механизм подвода образца и вольфрамовые зонды.
реферат, добавлен 24.12.2013Понятие про вакуум и его свойства. Модель прибора вакуумной электроники, исследование электронной эмиссии. Электронно-лучевые приборы, движение электронов в газах. Основы зондовой микроскопии (туннельная микроскопия, зондовые сканирующие микроскопы).
контрольная работа, добавлен 26.01.2020Принцип работы и характеристики современного телескопа. Фазово-контрастная микроскопия, ее применение для исследования живых и неокрашенных биологических объектов. Широкое распространение люминесцентной микроскопии. Некоторые виды современных микроскопов.
контрольная работа, добавлен 09.04.2019Получение изображений двухфазных и нанопористых стекол методом конфокальной сканирующей лазерной микроскопии, которые свидетельствуют о наличии неоднородной структуры с разными оптическими свойствами. Процессы, происходящие в стеклах при термообработке.
статья, добавлен 30.11.2018Разработка методики подготовки атомно-силовой микроскопии (АСМ) зондов для выполнения электрических АСМ измерений и электрохимической литографии. Разработка методики выбора оптимальной силы взаимодействия "зонд-образец" для контроля процесса износа.
автореферат, добавлен 25.07.2018Этапы возникновения и принцип действия микроскопа. Физические закономерности получения изображения в микроскопии. Методы изучения движения электронов. Виды электронных микроскопов, особенности работы с ними. Пути преодоления дифракционного предела.
реферат, добавлен 29.09.2010Описание основных принципов работы сканирующего зондового и атомного силового микроскопов. Характеристика ключевых методов исследования биологических и органических объектов и структур. Типовой анализ искажающих эффектов атомно-силовой микроскопии.
диссертация, добавлен 23.12.2013Изучение принципиальных схем и функционального назначения цветовых и радиационных пирометров. Ознакомление с законами Планка, Вина и Стефана-Больцмана, предназначенными для измерения температуры. Устройство и принципы работы тепловизорных микроскопов.
контрольная работа, добавлен 19.12.2011Исследования наномасштабных шероховатостей поверхности твердого тела методами сканирующей зондовой микроскопии и рентгеновской рефлектометрии. Разработка аппаратуры и СЗМ-методик регистрации локального фототока в фоточувствительных полупроводниках.
автореферат, добавлен 16.02.2018Использование математических моделей для расчета рассеянных световых полей в ближней зоне для эталонных поверхностей с нанометровым рельефом. Разработка алгоритмов обработки СЗМ изображений поверхности (вейвлет-преобразования, фрактальный анализ).
автореферат, добавлен 13.04.2018- 16. Исследование особенностей распределения локальной проводимости на поверхности слоистых материалов
Создание пригодного к использованию цельнометаллического кантилевера из платиново-иридиевой проволоки, способного проводить ток. Сканирование графита и наблюдение за разные проводимости террас на поверхности. Методы сканирующей зондовой микроскопии.
контрольная работа, добавлен 03.05.2019 Оптическая схема и принцип действия оптического микроскопа. Основные виды микроскопов, пределы их общего увеличения. Характеристика методов наблюдения при оптической микроскопии. Методы светлого (в отраженном свете) и темного (в проходящем свете) полей.
реферат, добавлен 15.09.2017Общие понятия, история, первый изобретатель, недавние достижения в разработке оптического микроскопа. Применение в науке и технике, устройство и основные элементы оптической системы. Специализированные виды микроскопов: назначение и возможности.
доклад, добавлен 13.03.2011Влияние высоких напряжений и токов на аппаратуру связи и способы защиты от них. Разработка схемы защиты представленные в курсовом проекте. Поперечные сечения кабелей связи и схема малой станции. Расчет действий экрана, характеристик экранирования.
статья, добавлен 09.02.2019Расчет влияния высоких напряжений и токов на аппаратуру связи, и способы защиты от них. Разработка схем защиты. Представлены поперечные сечения кабелей связи, схема малой станции. Произведены расчёты действия экрана, характеристики экранирования.
курсовая работа, добавлен 10.02.2019Физические основы и принцип работы атомно-силового микроскопа, его внутреннее устройство и главные компоненты. Анализ схемы зондового датчика, а также факторы, влияющие на его взаимодействие с поверхностью. Качественный вид потенциала Леннарда-Джонса.
реферат, добавлен 25.05.2020Принцип действия и области применения технологии трехмерного лазерного сканирования. Конструктивные особенности и методы данной технологии. Технические характеристики и состав оборудования сканирующей системы. Примеры отечественных и зарубежных аналогов.
контрольная работа, добавлен 03.05.2016Описание работы механизма устройства блокировки оперативных переключений с электромагнитным приводом. Исследование термодинамических показателей работы данного устройства в длительном режиме включения электромагнитного привода механизма блокировки.
статья, добавлен 29.09.2016Определение внутренних усилий по участкам стержня под действием внешних сил. Построение эпюр продольных сил, напряжений и перемещений сечений участков образца. Расчет продольных и поперечных деформаций. Оценка степени статической неопределимости системы.
курсовая работа, добавлен 11.12.2015- 25. Сущность кварков
Модельное описание взрывоподобного рождения. Исследование основных типов микроскопов. Назначение ускорителей элементарных частиц. Изучение видов взаимодействия. Семейства фундаментальных частиц вещества. Характеристика основ квантовой термодинамики.
презентация, добавлен 07.03.2016