Методи та моделі підвищення точності вимірювання геометричних розмірів об’єктів зондовими мікроскопами

Аналіз нових методів та моделей підвищення точності вимірювання розмірів об’єктів скануючими зондовими мікроскопами в діапазоні від 1 нм до 1000 нм. Метод сканування, який дає можливість проводити вимірювання параметрів поверхні з нахилом бічних стінок.

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.