Методы визуализации поверхности

Оптическая схема и принцип действия оптического микроскопа. Основные виды микроскопов, пределы их общего увеличения. Характеристика методов наблюдения при оптической микроскопии. Методы светлого (в отраженном свете) и темного (в проходящем свете) полей.

Подобные документы

  • Суть метода когерентной волноводной оптической микроскопии, основанный на явлении волноводного рассеяния света. Схема волноводного оптического микроскопа. Двумерные диаграммы рассеяния (функции отклика) волноводного оптического микроскопа в дальней зоне.

    статья, добавлен 07.11.2018

  • Принципы построения изображения объекта в ближнепольной оптической микроскопии. Современные схемы реализации микроскопа. Вид и изготовление зондов на основе оптического волокна. Применение фокусирующего зеркала для увеличения чувствительности излучения.

    лекция, добавлен 28.12.2013

  • Общие понятия, история, первый изобретатель, недавние достижения в разработке оптического микроскопа. Применение в науке и технике, устройство и основные элементы оптической системы. Специализированные виды микроскопов: назначение и возможности.

    доклад, добавлен 13.03.2011

  • Этапы возникновения и принцип действия микроскопа. Физические закономерности получения изображения в микроскопии. Методы изучения движения электронов. Виды электронных микроскопов, особенности работы с ними. Пути преодоления дифракционного предела.

    реферат, добавлен 29.09.2010

  • Электромагнетизм, связь магнитной индукции с напряженностью магнитного поля. Индуктивность контура, электродвижущая сила самоиндукции. Оптическая разность хода в проходящем и отраженном свете, интерференция и дифракция, поляризация света в кристаллах.

    методичка, добавлен 03.02.2013

  • Анализ хронологии развития микроскопии. Строение и принцип работы оптического микроскопа. Исследование контраста изображения и разрешающей способности прибора с сильно увеличивающими стеклами. Особенность измерения размеров микроскопических объектов.

    реферат, добавлен 29.05.2016

  • Изучение всемирной истории изобретения и усовершенствования микроскопов. Применение ахроматических линз. Анализ основ физики микроскопии. Описания основных процессов, протекающих в оптической системе микроскопа. Исследование классификации микроскопов.

    статья, добавлен 22.12.2016

  • Типы сканирующих зондовых микроскопов. Схема работы сканирующего туннельного и атомно-силового микроскопа, достоинства и недостатки их использования. Конструкции оптического микроскопа в ближнем поле и сканирующего ближнепольного оптического микроскопа.

    реферат, добавлен 04.04.2017

  • Современные представления о морфологии поверхности. Зондовые и оптические методы исследования поверхностного рельефа. Схема организации системы обратной связи зондового микроскопа. Получение информации о свойствах поверхности в электросиловой микроскопии.

    статья, добавлен 30.11.2018

  • Принципиальное устройство атомно-силового микроскопа. Исследование механических свойств полимерных пленок. Принцип действия туннельного микроскопа. Преимущества, недостатки и перспективы сканирующей зондовой микроскопии. Режимы сканирования поверхности.

    реферат, добавлен 14.12.2014

  • Оценка пространственной разрешающей способности оптической системы микроскопа. Использование оптимальной линейной пространственной фильтрации цифрового изображения полуплоскости для измерения функции рассеяния линии типовых оптических систем микроскопов.

    статья, добавлен 29.01.2019

  • Оценка целесообразности применения метода фокусировки на объект в оптической микроскопии для определения высотных характеристик образца. Расчет разрешающей способности, погрешности измерений данного метода на основе данных, полученных на микроскопе Leica.

    статья, добавлен 27.05.2018

  • Принцип действия и схема оптического гироскопа. Особенности кольцевого лазерного и волоконно-оптического видов. Методы повышения чувствительности. Факторы, ограничивающие разрешающую способность. Характеристики и методы их улучшения. Анализ работы систем.

    реферат, добавлен 13.05.2010

  • Обзор истории микроскопии. Характеристика просвечивающей электронной микроскопии. Оценка источников электронов. Определение вспомогательного оборудования для ОПЭМ и системы освещения. Анализ способов применения просвечивающего электронного микроскопа.

    реферат, добавлен 15.04.2016

  • Микрогеометрический анализ на основе оптической микроскопии. Приводы управления перемещениями узлов микроскопа и аппаратные решения, используемые при создании комплекса. Оценка погрешности кинематической цепи привода при перемещении предметного столика.

    статья, добавлен 27.05.2018

  • Анализ результатов измерения калориметром фотоэлектрическим коэффициентов пропускания рассеивающих взвесей, эмульсий, коллоидных растворов (водный р-р перманганата калия, йода, бриллиантового зеленого) в проходящем свете; определение концентрации веществ.

    лабораторная работа, добавлен 21.02.2014

  • Конструктивные решения оптической телескопической системы. История создания устройства для наблюдения за отдаленными объектами. Назначение и характеристики телескопов. Принцип действия установки Эйнштейна. Орбитальный радиотелескоп. Применение гелиоскопа.

    презентация, добавлен 17.12.2013

  • Методы и приборы для получения качественных характеристик фотонных кристаллов. Полуконтактный, бесконтактный и контактный режим работы атомно-силового микроскопа. Принцип действия конфокального микроскопа. Формирование электронно-оптических изображений.

    курсовая работа, добавлен 06.10.2017

  • Наблюдение явления интерференции в отражённом свете. Определение максимума и минимума луча, проходящего через пленку. Физическая сущность появления "Колец Ньютона". Характеристика и схема оптического интерферометра, принцип работы приспособления.

    презентация, добавлен 23.08.2013

  • Рассмотрение современных методов визуализации магнитных полей рассеяния магнитных носителей информации и их приложения в технике цифровой магнитной записи. Оценка эффективности уничтожения информации методом Биттера, петля гистерезиса феромагнетик.

    статья, добавлен 29.01.2019

  • Понятие и виды электронной микроскопии. Схема устройства растрового электронного микроскопа и просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения. Анализ методов исследования надмолекулярной структуры аморфных и кристаллизующихся полимеров.

    доклад, добавлен 07.02.2012

  • Понятие плоскополяризованного света. Оптическая индикатриса кристаллов разных сингоний, принципы изучения их свойств. Устройство и поверка микроскопа. Ход лучей через систему поляризатор-кристалл-анализатор. Простые формы и комбинации кристаллов.

    реферат, добавлен 06.03.2013

  • Исследование электронных и молекулярных процессов, происходящих на поверхности твердых тел. История создания работы сканирующего туннельного микроскопа. Объекты анализа и методы их подготовки. Микроскопии ближнего поля, расширение области применения.

    реферат, добавлен 02.11.2014

  • Изучение устройства поляризационного микроскопа и методики работы на нем, определение осности и оптического знака кристаллов. Измерение угла между оптическими осями двуосных кристаллов. Явления в кристаллах, вырезанных перпендикулярно оптической оси.

    лабораторная работа, добавлен 05.04.2020

  • Принцип действия электромагнитного трансформатора напряжения. Конструкция оптического волокна. Схема ввода светового луча в торец оптоволокна для реализации процесса полного внутреннего отражения. Варианты крепления токовых головок к шинопроводу.

    контрольная работа, добавлен 05.06.2014

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.