Сверхпроводники
Сверхтонкие YBCO пленки с Тс выше 77К. Контакты сверхпроводника с ферромагнетиком. Использование буферного слоя между подложкой и пленкой. Метод лазерного распыления мишени. Исследования ранних стадий роста пленок с помощью атомно-силового микроскопа.
Подобные документы
Принципы и основные этапы исследования структуры наномателов с помощью сканирующего туннельного микроскопа. Механизм определения работы выхода материала, а также плотности его состояний. Условия и особенности применения атомно-силового микроскопа.
курсовая работа, добавлен 12.01.2016Физические основы работы атомно-силового микроскопа. Силовое взаимодействие между зондом и поверхностью. Вид потенциала Ленарда-Джонса. Технология изготовления зондовых датчиков атомно-силовых микроскопов. Контактная атомно-силовая микроскопия.
реферат, добавлен 06.09.2015Принципиальное устройство атомно-силового микроскопа. Исследование механических свойств полимерных пленок. Принцип действия туннельного микроскопа. Преимущества, недостатки и перспективы сканирующей зондовой микроскопии. Режимы сканирования поверхности.
реферат, добавлен 14.12.2014Характеристика особенностей атомно-шероховатых поверхностей и атомно-гладких граней роста кристалла. Изучение вида объекта-микрометра под микроскопом. Рассмотрение снимков роста кристалла, полученных с помощью цифрового микроскопа Intel Play QX-3.
лабораторная работа, добавлен 22.03.2015Влияние на фотоэлектрические свойства пленок медного фталоцианина модификации формы молекул периферийными и аксиальными заместителями. Критическая толщина, выше которой кристаллическая подложка не оказывает ориентирующего воздействия на молекулы пленки.
автореферат, добавлен 31.07.2018Типы сканирующих зондовых микроскопов. Схема работы сканирующего туннельного и атомно-силового микроскопа, достоинства и недостатки их использования. Конструкции оптического микроскопа в ближнем поле и сканирующего ближнепольного оптического микроскопа.
реферат, добавлен 04.04.2017Методы и приборы для получения качественных характеристик фотонных кристаллов. Полуконтактный, бесконтактный и контактный режим работы атомно-силового микроскопа. Принцип действия конфокального микроскопа. Формирование электронно-оптических изображений.
курсовая работа, добавлен 06.10.2017Изобретение атомно-силового сканирующего зондового микроскопа высокого разрешения, основанного на взаимодействии зонда кантилевера с поверхностью образца. Кантилевер и особенности его работы. Биомедицинские приложения сканирующей зондовой микроскопии.
реферат, добавлен 16.09.2010Методика формирования барьера Шоттки путем магнетронного нанесения из многокомпонентной мишени пленки на кремнии с последующей ступенчатой термообработкой. Химический состав мишени. Влияние вида контактного металла на электрические характеристики диодов.
статья, добавлен 08.02.2017История открытия магнитно-силового микроскопа(МСМ): его устройство и принцип работы. МСМ исследования поверхности магнитного диска. Практическое применение магнитно-силового микроскопа: разработка и конструирование магнитных носителей информации.
презентация, добавлен 02.12.2014Исследование особенностей Nano-технологии, с помощью которой человек может управлять частицами и системами молекул при создании nano-структур с определенными свойствами. Характеристика принципа действия сканирующего атомно-силового микроскопа с зондом.
реферат, добавлен 29.05.2012Описание основных принципов работы сканирующего зондового и атомного силового микроскопов. Характеристика ключевых методов исследования биологических и органических объектов и структур. Типовой анализ искажающих эффектов атомно-силовой микроскопии.
диссертация, добавлен 23.12.2013Физические основы и принцип работы атомно-силового микроскопа, его внутреннее устройство и главные компоненты. Анализ схемы зондового датчика, а также факторы, влияющие на его взаимодействие с поверхностью. Качественный вид потенциала Леннарда-Джонса.
реферат, добавлен 25.05.2020Понятие и содержание метода пульверизации, его недостатки. Определение поверхностного сопротивления пленок. Методы осаждения прозрачных проводящих покрытий из газовой фазы. Разработка технологии получения пленок ITO реактивным магнетронным распылением.
курсовая работа, добавлен 13.12.2019Изучение алмазоподобных углеродных пленок CNx и CNx:Euy. Распыление композитной углеродной мишени магнетроном постоянного тока. Измерение отражательной способности поверхности пленок при нормальном падении зондирующего луча и брюстеровского отражения.
статья, добавлен 25.03.2016Описание методов получения тонких пленок нихрома и исследование зависимости параметров от стехиометрии пленки. Расчет диапазон толщин пленки, удовлетворяющих требованиям удельного поверхностного сопротивления и температурного коэффициента сопротивления.
курсовая работа, добавлен 16.12.2019Анализ оптической плотности пленок Zn0,99Mn0,01O при температурах Т = 78К и 300К. Сравнение спектров фотолюминесценции и оптической плотности пленок. Анализ спектра магнитного кругового дихроизма пленки Zn0,99Mn0,01O дополнительно легированной азотом.
статья, добавлен 22.06.2015Основы геометрической оптики, приближенный метод построения изображений в оптических системах. Преломление и отражение света на сферической поверхности линзы. Практическое вычисление показателя преломления стекла при помощи лабораторного микроскопа.
методичка, добавлен 22.11.2012История открытия явления сверхпроводимости. Сверхпроводники на основе металлов и полуметаллов, их существенные отличия. Низкотемпературные и высокотемпературные сверхпроводники и их сравнение. Сверхпроводимость первого и второго рода, сферы применения.
реферат, добавлен 15.02.2012- 20. Динамика гравитационно-капиллярных волн в океане в присутствии пленок поверхностно-активных веществ
Линейные гравитационно-капиллярные волны на поверхности воды, покрытой пленкой поверхностно-активного вещества. Упругость пленок и коэффициент поверхностного натяжения в сликах на морской поверхности. Радиолокационные измерения фазовых скоростей волн.
автореферат, добавлен 02.03.2018 Изучение устройства поляризационного микроскопа и методики работы на нем, определение осности и оптического знака кристаллов. Измерение угла между оптическими осями двуосных кристаллов. Явления в кристаллах, вырезанных перпендикулярно оптической оси.
лабораторная работа, добавлен 05.04.2020Изучение принципов работы просвечивающего электронного микроскопа и идентификации веществ по их дифракционным картинам. Гипотеза Де Бройля о наличии у частиц вещества волновых свойств. Расчет электронограммы, дифракционная картина на кристаллах никеля.
лабораторная работа, добавлен 28.05.2015Представлены результаты исследования электрических свойств тонких пленок жидкости на поверхности металла с помощью микроволн. Исследования были выполнены в медном прямоугольном волноводе. Результаты электромагнитных потерь при пропускании излучения.
статья, добавлен 26.01.2021История возникновения, применение и предназначение микроскопа, характеристика и отличительные черты его видов. Принцип построения простого и сложного микроскопа, ход лучей в приборе. Замечание о максимальном увеличении микроскопа, предел его разрешения.
реферат, добавлен 23.04.2017Исследовано влияние концентрации водорода в газовой смеси на электрические и оптические свойства пленок аморфного гидрогенизированного кремния, полученных магнетронным методом. Совершенствование магнетронного метода получения кремниевых пленок.
реферат, добавлен 24.10.2010