Атомно–силова мікроскопія. Скануюча тунельна мікроскопія: інтеграція з спектроскопією

Принцип роботи атомно-силового мікроскопа заснований на реєстрації силової взаємодії між поверхнею досліджуваного зразка і зондом. Розклад світла призмою. Оптична мікроскопія ближнього поля. Вимоги до обладнання для наноіндентування, конструкція модуля.

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.