Оптимізація послідовностей тест-векторів в процесі тестового комбінованого діагностування цифрових мікропроцесорних пристроїв

Підвищення ефективності та достовірності процесу тестового комбінованого діагностування цифрових мікропроцесорних пристроїв шляхом побудови методик та алгоритмів оптимізації послідовностей тест-векторів, що реалізують умовні алгоритми діагностування.

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.