Электронная микроскопия высокого разрешения
Рассмотрение сущности амплитудного и фазового контрастов. Технология формирования изображения в оптической системе. Анализ аберраций в электронном микроскопе. Примеры применения электронной микроскопии высокого разрешения в физике твердого тела.
Подобные документы
- 1. Электронная микроскопия углеродных нанотрубок и нановолокон и автоэлектронные эмиттеры на их основе
Исследование различных типов углеродных нанотрубок методами электронной микроскопии высокого разрешения (ВРЭМ), растровой электронной микроскопии (РЭМ) и электрофизическими методами. Анализ использования ОСНТ@ПУ в качестве элементов наноэлектроники.
автореферат, добавлен 02.08.2018 Рассмотрение устройства растрового электронного микроскопа. Особенности взаимодействия электронного пучка с веществом на поверхности мишени-образца. Изучение основных механизмов формирования и обработки изображения в растровом электронном микроскопе.
лекция, добавлен 21.03.2014Атомная структура и физические свойства углеродных нанотрубок. Анализ структуры нанотрубок методами электронной микроскопии высокого разрешения и электронной дифракции. Положение гексагонов на электронной дифрактограмме хиральной одностенной нанотрубки.
статья, добавлен 30.05.2017Конфокальная микроскопия — метод оптической микроскопии, обладающий значительным контрастом по сравнению с микроскопами классической схемы. История развития, принцип работы и пространственное разрешение в конфокальной микроскопии; области применения.
реферат, добавлен 13.04.2017Изобретение атомно-силового сканирующего зондового микроскопа высокого разрешения, основанного на взаимодействии зонда кантилевера с поверхностью образца. Кантилевер и особенности его работы. Биомедицинские приложения сканирующей зондовой микроскопии.
реферат, добавлен 16.09.2010Анализ основных проблем формирования и регистрации изображения в нейтронном микроскопе. Характеристика оптических элементов для фокусировки нейтронов. Знакомство с этапами расчета простой нейтронно-оптической системы. Особенности микроскопа А. Штайерла.
книга, добавлен 23.12.2013Анализ хронологии развития микроскопии. Строение и принцип работы оптического микроскопа. Исследование контраста изображения и разрешающей способности прибора с сильно увеличивающими стеклами. Особенность измерения размеров микроскопических объектов.
реферат, добавлен 29.05.2016Исследование влияния эффектов окружения на колебательные свойства индивидуальных углеродных нанотрубок. Рассмотрение идентифицированных методов электронной дифракции и микроскопии высокого разрешения. Зависимости частот радиальных дыхательных мод.
статья, добавлен 29.06.2017Оценка целесообразности применения метода фокусировки на объект в оптической микроскопии для определения высотных характеристик образца. Расчет разрешающей способности, погрешности измерений данного метода на основе данных, полученных на микроскопе Leica.
статья, добавлен 27.05.2018Анализ публикаций по радиационному контролю реакторов методом гамма-спектрометрии высокого разрешения. Наборы реперных радионуклидов для контроля ядерно-физических процессов в активной зоне и технологических процессов контура водо-водяных реакторов.
статья, добавлен 28.09.2013Анализ проблемы применения среды дополненной виртуальности на основе программно-аппаратного комплекса класса виртуальной реальности при обучении студентов физике твердого тела. Характеристика методов на примере моделирования в области кристаллографии.
статья, добавлен 29.06.2021Микрогеометрический анализ на основе оптической микроскопии. Приводы управления перемещениями узлов микроскопа и аппаратные решения, используемые при создании комплекса. Оценка погрешности кинематической цепи привода при перемещении предметного столика.
статья, добавлен 27.05.2018Основные задачи и характеристики просвечивающей электронной микроскопии. Схема просвечивающего электронного микроскопа. Основные составные части и характеристики электронного пучка. Линзовая система осветителя и дефлектор. Аберрации электронных линз.
презентация, добавлен 11.12.2016Обзор истории микроскопии. Характеристика просвечивающей электронной микроскопии. Оценка источников электронов. Определение вспомогательного оборудования для ОПЭМ и системы освещения. Анализ способов применения просвечивающего электронного микроскопа.
реферат, добавлен 15.04.2016Изучение тонких образов с помощью пучка электронов, проходящих сквозь них и взаимодействующих с ними. Электроны, прошедшие сквозь образец, их отражение на устройстве формирования изображения: флюоресцентном экране, фотопластинке или сенсоре ПЗС-камеры.
реферат, добавлен 27.11.2016Формирование наноструктурных состояний в материалах с эффектом памяти формы. Металлографический анализ поверхностных наноструктурированных слоев на электронном микроскопе сверхвысокого разрешения. Особенности формирования структуры в ПМСЭПФ TiNi.
статья, добавлен 13.11.2018Рассмотрение взаимодействия между физическим объектом и измерительным устройством в квантовой механике. Корпускулярно-волновой дуализм, гипотеза Луи де Бройля. Определение длин волн и скоростей электронов. Современная электронная микроскопия в физике.
реферат, добавлен 10.08.2015Принципы построения изображения объекта в ближнепольной оптической микроскопии. Современные схемы реализации микроскопа. Вид и изготовление зондов на основе оптического волокна. Применение фокусирующего зеркала для увеличения чувствительности излучения.
лекция, добавлен 28.12.2013Анализ способа улучшения качества радиотепловых изображений, использующего априорную информацию о статистических характеристиках спектров объектов аналогичного класса. Рассмотрение вида типичного пространственного амплитудного спектра изображения.
статья, добавлен 30.10.2018Исследования наномасштабных шероховатостей поверхности твердого тела методами сканирующей зондовой микроскопии и рентгеновской рефлектометрии. Разработка аппаратуры и СЗМ-методик регистрации локального фототока в фоточувствительных полупроводниках.
автореферат, добавлен 16.02.2018Краткая история разработки рентгеновского микроанализатора. Рассмотрение видов и методов регистрации рентгеновского спектра и их сущности. Принципы количественного рентгеноспектрального микроанализа. Примеры применения растровой электронной микроскопии.
лекция, добавлен 21.03.2014Определение коэффициентов первичных аберраций комы и астигматизма изображения, образованного тонким компонентом. Характеристика изопланатической и анастигматической коррекции первичных аберраций. Особенность нахождения оптической силы тонкой линзы.
статья, добавлен 07.12.2018Анализ обобщенной модели теории динамики твердого тела, обладающей динамической симметрией. Область применения модели к некоторым интегрируемым задачам этой теории при движении тела в евклидовом пространстве. Анализ простейших движений твердого тела.
статья, добавлен 26.04.2019Аналитические соотношения взаимосвязи основных аберрационных параметров с аберрационными параметрами при произвольном увеличении. Анализ изменения величины аберраций при изменении поперечного увеличения изображения, образованного оптической системой.
статья, добавлен 07.12.2018Физические основы когерентной микроскопии. Изучение явлений самоорганизации и регуляции внутриклеточных процессов. Метод флуоресцентной микроскопии в сочетании с видеосъемкой. Оценка линейного оптического увеличения. Корреляционный и спектральный анализ.
реферат, добавлен 30.01.2014