Разработка методов для распознавания дефектов структуры с использованием изображения поверхности паковок

Анализ влияния условий съемки на порог бинаризации. Построение алгоритма автоматического определения порога бинаризации на основе анализа гистограммы распределения яркостей точек изображения. Подготовка изображения к распознаванию дефектов структуры.

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.