Сканирующая силовая зондовая микроскопия

Сканирующий зондовый микроскоп. Комплексное изучение свойств поверхностей материалов от микронного до атомарного уровня. Способы исследования поверхностей. Силовое взаимодействие между зондом и поверхностью зондовых датчиков. Оптическая система АСМ.

Подобные документы

  • Анализ направлений развития приборостроения для нанотехнологий, в концепте которых работают разработчики группы компаний НТ-МДТ. Упрощение этапа настроек. Сканирующий зондовый микроскоп для специализированных исследований – концепция НаноЛаборатории.

    статья, добавлен 13.11.2018

  • Устройство, принцип работы и использование датчиков давления и источников звука. Кварц и пьезокерамика. Схема установки для оценки коэффициента пропускания. Сканирующая зондовая микроскопия. Устройство манипуляторов и пьезоэлектриков-полупроводников.

    презентация, добавлен 07.11.2011

  • Этапы развития методов исследования состава, структуры материалов микроэлектроники. Рассмотрение истории развития атомно-силовой микроскопии. Волновые функции электронов в атоме. Современная сканирующая туннельная микроскопия материалов микроэлектроники.

    доклад, добавлен 22.12.2019

  • Методика изучений профиля полированных поверхностей посредством компьютерного анализа цифровых изображений. Границы применимости и пути повышения эффективности методик контроля плоскостности поверхностей оптических деталей датчиков лазерных гироскопов.

    статья, добавлен 27.11.2018

  • Атомно-силовая микроскопия и принципы обработки изображений после исследования в приборе NanoEducator. Определение рабочей частоты и добротности зондового датчика, амплитуды, рельефа и сигнала фазового сдвига по поверхности экспериментального образца.

    методичка, добавлен 08.09.2015

  • Исследование процессов трения и износа поверхностей из композиционного материала. Анализ зависимостей изменения процентного прироста параметров и их чувствительность к трению и износу поверхностей фрикционного контакта из композиционного материала.

    статья, добавлен 22.03.2016

  • Физические принципы работы атомно-силовой микроскопии. Применение трехмерного изображения поверхности материала в научных исследованиях и промышленном производстве. Изучение поверхностных дефектов материалов. Анализ сканирующего зондового микроскопа.

    контрольная работа, добавлен 22.04.2019

  • Численный эксперимент по генерации численных моделей рассеивающих поверхностей разных типов. Программное макетирование системы автоматического распознавания типов рассеивающих поверхностей по их профилям. Способы устранения отдельных возникающих ошибок.

    статья, добавлен 06.11.2018

  • Выбор метода регистрации магнитограмм: метод Биттера, магнитная силовая микроскопия. Материалы для магнитооптических устройств и их основные характеристики (феррит-гранаты, ортоферриты). Выращивание кристалла подложки, ориентация. Лазерное скрайбирование.

    дипломная работа, добавлен 03.06.2014

  • Динамика уменьшения топологических размеров электронных компонентов. Типичные объекты наноэлектроники, которые могут быть изготовлены современными технологиями микроэлектроники. Примеры использования зондовых методов для создания приборов наноэлектроники.

    контрольная работа, добавлен 08.06.2015

  • Исследование топологии поверхности и структурного состояния горных пород и минералов. Способы интерпретации полученных изображений. Особенности изготовления шлифов нанообъектов. Устройство, схема и принцип работы растрового электронного микроскопа.

    реферат, добавлен 30.10.2022

  • Контроль миниатюрных электронных компонентов и многовыводных микросхем, который достигается за счет применения специализированных устройств - зондовых станций. Технологические решения для уменьшения размеров, упрощения обеспечения температурных режимов.

    статья, добавлен 03.05.2023

  • Датчик как понятие: виды и назначение. Классификация датчиков температуры. Манометры - датчики измерения давления. Сфера применения датчиков уровня. Принцип работы механических контактных датчиков. Бесконтактные датчики перемещения и их неисправности.

    реферат, добавлен 06.02.2023

  • Оптическая схема инфракрасной сканирующей системы. Назначение матричного фотоприемного устройства. Структура аппаратно-программного комплекса кругового обзора. Компенсация азимутального смаза изображения покадровой съемки за время накопления сигнала.

    статья, добавлен 07.12.2018

  • Краткая история создания датчиков на основе оптических волокон. Становление оптоэлектроники, типовая структура электронного измерителя. Цифризация и волоконно-оптические датчики. Классификация волоконно-оптических датчиков и их возможное применение.

    реферат, добавлен 24.04.2017

  • Исследования в области квантовой физики, наностуктур, наноэлектроники, кристллофизики. Инвертированный атмосферный растровый электронный микроскоп. Интеграция методов сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного спектрометрического анализа.

    доклад, добавлен 12.11.2013

  • Анализ погрешности диаграммы направленности антенны при ее измерениях на конечном расстоянии и при различных размерах тестовых и зондовых антенн. Расчет параметров круглой плоской апертурной антенны с равномерным распределением поля во временной области.

    статья, добавлен 02.04.2019

  • Основные виды уровнемеров, их устройство и промышленное изготовление. Уровнемеры, применяемые для измерения уровня угля в металлургической промышленности, конструкция датчиков уровня и радиолокационного уровнемера, их технические характеристики.

    курсовая работа, добавлен 09.06.2014

  • Общие сведения об оптической системе наведения (ОСН), ее устройство. Порядок и правила эксплуатации ОСН, входящей в состав стационарного поста автоматической системы дистанционного мониторинга "Лидар". Использование и техническое обслуживание ОСН.

    курсовая работа, добавлен 03.03.2011

  • Идентификация коэффициента преобразования датчиков многозондового микроволнового мультиметра. Поиск в волноводе мест с одинаковыми значениями сигналов датчиков при любых значениях модуля. Модель нелинейного датчика с использованием формулы Тейлора.

    статья, добавлен 29.11.2016

  • Характеристика критериев классификации датчиков физических величин. Анализ назначения и сфер применения акустических и биометрических датчиков, а также датчиков вибрации, влажности и давления. Описание интеллектуальных, охранных и других видов датчиков.

    статья, добавлен 21.09.2017

  • Проблемы измерения уровня минеральной воды в скважине. Способы измерения уровня жидкости, с использованием современных датчиков давления. Устройство, принцип работы датчика измерителя. Технико-экономическое обоснования проекта. Безопасность труда.

    дипломная работа, добавлен 09.11.2008

  • Основные тенденции в области создания тактильных датчиков: воспроизведение осязательных свойств человеческой кожи. Формирование чувствительных элементов пьезорезистивных датчиков из волокна углерода. Применение в датчиках интегральных оптических схем.

    контрольная работа, добавлен 14.10.2013

  • Характеристика процесса обработки сигналов с аналоговых и цифровых датчиков информации. Схематический анализ микропроцессорной системы управления. Изучение гальванической развязки цифровых датчиков микроконтроллера. Выдача сигналов передачи связи.

    курсовая работа, добавлен 29.09.2013

  • Многовариантная блочная структура современных интеллектуальных датчиков. Обеспечение многофункциональности датчиков за счет использования возможностей их микропроцессорного преобразователя для совершенствования измерений давления, уровня и температуры.

    курсовая работа, добавлен 24.01.2011

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.