Методы исследования и диагностика наносистем

Принципы измерения линейного размера структурных единиц наноматериалов. Дифракционный предел разрешающей способности человеческого глаза, увеличение простейшего, оптического, туннельного и флуоресцентного микроскопа. Виды рентгеновского излучения.

Подобные документы

  • Понятие рентгеновского излучения, история его открытия и применение. Получение и обнаружение рентгеновского излучения. Рентгеновская и гамма-дефектоскопия. Методы дифракционного анализа. Опасные факторы рентгеновского излучения, биологическое действие.

    реферат, добавлен 20.01.2013

  • Оценка пространственной разрешающей способности оптической системы микроскопа. Использование оптимальной линейной пространственной фильтрации цифрового изображения полуплоскости для измерения функции рассеяния линии типовых оптических систем микроскопов.

    статья, добавлен 29.01.2019

  • Типы сканирующих зондовых микроскопов. Схема работы сканирующего туннельного и атомно-силового микроскопа, достоинства и недостатки их использования. Конструкции оптического микроскопа в ближнем поле и сканирующего ближнепольного оптического микроскопа.

    реферат, добавлен 04.04.2017

  • Анализ хронологии развития микроскопии. Строение и принцип работы оптического микроскопа. Исследование контраста изображения и разрешающей способности прибора с сильно увеличивающими стеклами. Особенность измерения размеров микроскопических объектов.

    реферат, добавлен 29.05.2016

  • Расчет туннельного тока, проходящего через иглу туннельного микроскопа. Измерение рельефа поверхности с помощью туннельного микроскопа. Оценка размеров конца иглы. Изменения в монохромном изображении, к которым приводит учет радиуса закругления иглы.

    статья, добавлен 28.10.2018

  • Измерение линейного размера структурных единиц наноматериалов. Физическое взаимодействие на наномасштабах. Роль объема и поверхности в физических свойствах наноразмерных объектов. Взаимодействие Ван-дер-Ваальса. Взаимодействие света с нанокластерами.

    презентация, добавлен 12.08.2015

  • Взаимодействие электронного зонда с образцом. Принципиальные основы работы растрового электронного микроскопа. Особенности подготовки образцов и режимов исследования для получения максимальной разрешающей способности. Режим Y-модуляции; подавление шумов.

    статья, добавлен 30.11.2018

  • Методы создания вакуума, измерения давления, электрических сигналов, температуры и световых потоков. Принципы учета погрешностей измерений. Источники и приемники оптического излучения. Спектральные приборы. Характерные особенности диспергирующих систем.

    учебное пособие, добавлен 19.02.2013

  • История создания и принцип работы сканирующего туннельного микроскопа. Мюллер как изобретатель первого полевого ионного микроскопа. Особенности формирования изображения поверхности по методу постоянного туннельного тока и постоянного среднего расстояния.

    курсовая работа, добавлен 10.12.2018

  • Исследование путей создания магнитоуправляемых наноматериалов для применения в биологии и медицине. Требования к наночастицам: отсутствие агломерации, пассивировация оборванных связей на поверхности. Баланс изменения объемной и поверхностной энергии.

    курс лекций, добавлен 12.08.2015

  • Физическая ошибка Даламбера. Вопрос о физической сути фотонного излучения. Противоречие уравнения Шредингера главному критерию теоретической достоверности – аксиоме Единства. Показатели разрешающей способности микроскопа, сканирующего молекулы бензола.

    статья, добавлен 04.02.2019

  • Формирование рентгеновского излучения трубкой. Схема процессов взаимодействия рентгеновского излучения с веществом. Характеристика и особенности фотоэлектрического эффекта, механизмы поглощения энергии фотонов. Сущность дифракции рентгеновских лучей.

    презентация, добавлен 24.01.2017

  • История возникновения, применение и предназначение микроскопа, характеристика и отличительные черты его видов. Принцип построения простого и сложного микроскопа, ход лучей в приборе. Замечание о максимальном увеличении микроскопа, предел его разрешения.

    реферат, добавлен 23.04.2017

  • Исследование конструкции туннельного микроскопа. Анализ упругих свойств звена манипулятора горизонтальных перемещений. Оценка величины отклонений иглы при действии периодических возмущений на основании измерительного блока, при колебаниях основания.

    статья, добавлен 28.10.2018

  • Оценка целесообразности применения метода фокусировки на объект в оптической микроскопии для определения высотных характеристик образца. Расчет разрешающей способности, погрешности измерений данного метода на основе данных, полученных на микроскопе Leica.

    статья, добавлен 27.05.2018

  • Исследование особенностей трансмиссии рентгеновского излучения через микрокапиллярные структуры. Каналирование флуоресцентного излучения, возбуждаемого внутри полых микрокапиллярных структур, как инструмент анализа состояния поверхности твердых тел.

    статья, добавлен 30.05.2017

  • Изучение основных энергетических и фотометрических характеристик оптического излучения. Определение факторов, влияющих на их эффективность. Принцип преобразования энергии оптического излучения в конечный сигнал, регистрируемый измерительными приборами.

    отчет по практике, добавлен 25.10.2019

  • Исследование общих характеристик и оптического диапазона инфракрасного излучения, его воздействие на биоткань. Нормирование ИК-излучения, его критерии и принципы. Методы контроля и защиты от данного излучения, специальные приборы и инструментарий.

    реферат, добавлен 21.06.2010

  • Физические основы оптического излучения, характеристика основных путей получения и их свойства. Особенности волновой и квантовой природы. Система энергетических величин, их основных единицы измерения. Порядок измерения монохроматического излучения.

    курс лекций, добавлен 03.12.2013

  • Определение сущности нанотехнологии. Рассмотрение преимуществ сканирующего туннельного микроскопа – устройства, позволяющего исследовать вещество на атомном уровне. Ознакомление со стадиями золь-гель метода. Анализ процесса ионного обмена и диализа.

    курсовая работа, добавлен 29.10.2017

  • Принципы построения изображения объекта в ближнепольной оптической микроскопии. Современные схемы реализации микроскопа. Вид и изготовление зондов на основе оптического волокна. Применение фокусирующего зеркала для увеличения чувствительности излучения.

    лекция, добавлен 28.12.2013

  • Физическая природа рентгеновского излучения. История открытия. Биография В.К. Рентгена. Применение рентгеновского излучения человеком. Использование излучения в обыденной жизни, производстве и рентгеновская микроскопия. Применение в медицине и астрономии.

    научная работа, добавлен 25.01.2020

  • Понятие плоскополяризованного света. Оптическая индикатриса кристаллов разных сингоний, принципы изучения их свойств. Устройство и поверка микроскопа. Ход лучей через систему поляризатор-кристалл-анализатор. Простые формы и комбинации кристаллов.

    реферат, добавлен 06.03.2013

  • Использование дифракционных методов при получении информации о строении кристаллов. Идентификация вещества по его кристаллической структуре. Вычисление межплоскостного расстояния по уравнению Брэгга-Вульфа. Определение параметра кубической решетки.

    лабораторная работа, добавлен 10.11.2021

  • Основные идеи и принципы квантовой механики, понятие корпускулярно-волнового дуализма. Способы измерения энергии ультрафиолета, анализ законов фотоэффекта и спектров излучения атома водорода. Уравнения движения свободных частиц и свойства квазиимпульса.

    лекция, добавлен 12.08.2015

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.