Методы исследования и диагностика наносистем
Принципы измерения линейного размера структурных единиц наноматериалов. Дифракционный предел разрешающей способности человеческого глаза, увеличение простейшего, оптического, туннельного и флуоресцентного микроскопа. Виды рентгеновского излучения.
Подобные документы
Понятие рентгеновского излучения, история его открытия и применение. Получение и обнаружение рентгеновского излучения. Рентгеновская и гамма-дефектоскопия. Методы дифракционного анализа. Опасные факторы рентгеновского излучения, биологическое действие.
реферат, добавлен 20.01.2013Оценка пространственной разрешающей способности оптической системы микроскопа. Использование оптимальной линейной пространственной фильтрации цифрового изображения полуплоскости для измерения функции рассеяния линии типовых оптических систем микроскопов.
статья, добавлен 29.01.2019Типы сканирующих зондовых микроскопов. Схема работы сканирующего туннельного и атомно-силового микроскопа, достоинства и недостатки их использования. Конструкции оптического микроскопа в ближнем поле и сканирующего ближнепольного оптического микроскопа.
реферат, добавлен 04.04.2017Анализ хронологии развития микроскопии. Строение и принцип работы оптического микроскопа. Исследование контраста изображения и разрешающей способности прибора с сильно увеличивающими стеклами. Особенность измерения размеров микроскопических объектов.
реферат, добавлен 29.05.2016Расчет туннельного тока, проходящего через иглу туннельного микроскопа. Измерение рельефа поверхности с помощью туннельного микроскопа. Оценка размеров конца иглы. Изменения в монохромном изображении, к которым приводит учет радиуса закругления иглы.
статья, добавлен 28.10.2018Измерение линейного размера структурных единиц наноматериалов. Физическое взаимодействие на наномасштабах. Роль объема и поверхности в физических свойствах наноразмерных объектов. Взаимодействие Ван-дер-Ваальса. Взаимодействие света с нанокластерами.
презентация, добавлен 12.08.2015Взаимодействие электронного зонда с образцом. Принципиальные основы работы растрового электронного микроскопа. Особенности подготовки образцов и режимов исследования для получения максимальной разрешающей способности. Режим Y-модуляции; подавление шумов.
статья, добавлен 30.11.2018Методы создания вакуума, измерения давления, электрических сигналов, температуры и световых потоков. Принципы учета погрешностей измерений. Источники и приемники оптического излучения. Спектральные приборы. Характерные особенности диспергирующих систем.
учебное пособие, добавлен 19.02.2013История создания и принцип работы сканирующего туннельного микроскопа. Мюллер как изобретатель первого полевого ионного микроскопа. Особенности формирования изображения поверхности по методу постоянного туннельного тока и постоянного среднего расстояния.
курсовая работа, добавлен 10.12.2018Исследование путей создания магнитоуправляемых наноматериалов для применения в биологии и медицине. Требования к наночастицам: отсутствие агломерации, пассивировация оборванных связей на поверхности. Баланс изменения объемной и поверхностной энергии.
курс лекций, добавлен 12.08.2015Физическая ошибка Даламбера. Вопрос о физической сути фотонного излучения. Противоречие уравнения Шредингера главному критерию теоретической достоверности – аксиоме Единства. Показатели разрешающей способности микроскопа, сканирующего молекулы бензола.
статья, добавлен 04.02.2019Формирование рентгеновского излучения трубкой. Схема процессов взаимодействия рентгеновского излучения с веществом. Характеристика и особенности фотоэлектрического эффекта, механизмы поглощения энергии фотонов. Сущность дифракции рентгеновских лучей.
презентация, добавлен 24.01.2017История возникновения, применение и предназначение микроскопа, характеристика и отличительные черты его видов. Принцип построения простого и сложного микроскопа, ход лучей в приборе. Замечание о максимальном увеличении микроскопа, предел его разрешения.
реферат, добавлен 23.04.2017Исследование конструкции туннельного микроскопа. Анализ упругих свойств звена манипулятора горизонтальных перемещений. Оценка величины отклонений иглы при действии периодических возмущений на основании измерительного блока, при колебаниях основания.
статья, добавлен 28.10.2018Оценка целесообразности применения метода фокусировки на объект в оптической микроскопии для определения высотных характеристик образца. Расчет разрешающей способности, погрешности измерений данного метода на основе данных, полученных на микроскопе Leica.
статья, добавлен 27.05.2018Исследование особенностей трансмиссии рентгеновского излучения через микрокапиллярные структуры. Каналирование флуоресцентного излучения, возбуждаемого внутри полых микрокапиллярных структур, как инструмент анализа состояния поверхности твердых тел.
статья, добавлен 30.05.2017Изучение основных энергетических и фотометрических характеристик оптического излучения. Определение факторов, влияющих на их эффективность. Принцип преобразования энергии оптического излучения в конечный сигнал, регистрируемый измерительными приборами.
отчет по практике, добавлен 25.10.2019Исследование общих характеристик и оптического диапазона инфракрасного излучения, его воздействие на биоткань. Нормирование ИК-излучения, его критерии и принципы. Методы контроля и защиты от данного излучения, специальные приборы и инструментарий.
реферат, добавлен 21.06.2010Физические основы оптического излучения, характеристика основных путей получения и их свойства. Особенности волновой и квантовой природы. Система энергетических величин, их основных единицы измерения. Порядок измерения монохроматического излучения.
курс лекций, добавлен 03.12.2013Определение сущности нанотехнологии. Рассмотрение преимуществ сканирующего туннельного микроскопа – устройства, позволяющего исследовать вещество на атомном уровне. Ознакомление со стадиями золь-гель метода. Анализ процесса ионного обмена и диализа.
курсовая работа, добавлен 29.10.2017Принципы построения изображения объекта в ближнепольной оптической микроскопии. Современные схемы реализации микроскопа. Вид и изготовление зондов на основе оптического волокна. Применение фокусирующего зеркала для увеличения чувствительности излучения.
лекция, добавлен 28.12.2013Физическая природа рентгеновского излучения. История открытия. Биография В.К. Рентгена. Применение рентгеновского излучения человеком. Использование излучения в обыденной жизни, производстве и рентгеновская микроскопия. Применение в медицине и астрономии.
научная работа, добавлен 25.01.2020Понятие плоскополяризованного света. Оптическая индикатриса кристаллов разных сингоний, принципы изучения их свойств. Устройство и поверка микроскопа. Ход лучей через систему поляризатор-кристалл-анализатор. Простые формы и комбинации кристаллов.
реферат, добавлен 06.03.2013Использование дифракционных методов при получении информации о строении кристаллов. Идентификация вещества по его кристаллической структуре. Вычисление межплоскостного расстояния по уравнению Брэгга-Вульфа. Определение параметра кубической решетки.
лабораторная работа, добавлен 10.11.2021Основные идеи и принципы квантовой механики, понятие корпускулярно-волнового дуализма. Способы измерения энергии ультрафиолета, анализ законов фотоэффекта и спектров излучения атома водорода. Уравнения движения свободных частиц и свойства квазиимпульса.
лекция, добавлен 12.08.2015