Эллипсометрия неоднородных анизотропных оптических систем и шероховатой поверхности неоднородной подложки

Оценка теоретических и методических основ эллипсометрии неоднородных анизотропных оптических систем и неоднородной подложки. Изучение кинетики и физико-химических механизмов формирования неоднородной структуры поверхностных слоев элементов оптотехники.

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.