Подготовка образцов для просвечивающей и сканирующей электронной микроскопии: новые установки от Leica Microsystems для нанесения покрытий
Характеристика исследования структур, находящихся вне пределов видимости светового микроскопа и имеющих размеры менее одного микрона. Выявление компонентов изучаемых объектов и сохранение их структуры в условиях высокого вакуума под пучком электронов.
Подобные документы
Возможности использования нерегулярных коаксиальных резонансных структур, возбуждаемых на высших высокодобротных видах колебаний. Создание высокочувствительного резонаторного измерительного преобразователя для сканирующей микроволновой микроскопии.
статья, добавлен 19.06.2018Особенности метода улучшения различимости объектов на цифровых изображениях, полученных в условиях недостаточной видимости. Преобразование динамических диапазонов разных сцен обрабатываемого изображения. Пример изображений, полученных в условиях тумана.
статья, добавлен 07.11.2018Этапы развития методов исследования состава, структуры материалов микроэлектроники. Рассмотрение истории развития атомно-силовой микроскопии. Волновые функции электронов в атоме. Современная сканирующая туннельная микроскопия материалов микроэлектроники.
доклад, добавлен 22.12.2019Физические принципы работы атомно-силовой микроскопии. Применение трехмерного изображения поверхности материала в научных исследованиях и промышленном производстве. Изучение поверхностных дефектов материалов. Анализ сканирующего зондового микроскопа.
контрольная работа, добавлен 22.04.2019Метод сканирующей голографии подповерхностных диэлектрических объектов. Измерение тестовых образцов в грунте. Исследование распределения рассеянного поля у поверхности среды над областью неоднородностей. Рассеяние лучей высокочастотного излучения.
статья, добавлен 30.10.2018Анализ актуальности проблемы получения проводящих покрытий, использующихся в качестве функционального слоя солнечных элементов нового поколения, изучение структуры покрытий. Характеристика получения прозрачных проводящих покрытий золь-гель методом.
статья, добавлен 23.01.2019Понятие и функции активной среды эксимерного лазера. Накачка электронным пучком, электрическим разрядом, электрическим разрядом с предионизацией электронным пучком. Фотолитография - метод нанесения рисунка на тонкую пленку материала. Сферы применения.
реферат, добавлен 15.07.2012Разработка на основе системного анализа концепции автоматизации технологических процессов газотермического нанесения покрытий. Проектирование алгоритмов идентификации и методов синтеза цифровых нелинейных фильтров для функциональных подсистем АСУ ТП ГНП.
автореферат, добавлен 03.02.2018Ознакомление с функциями, техническими характеристиками, преимуществами и недостатками приемника Leica GS20. Изучение основных технологий, используемых для GPS-наблюдений. Описание интерфейса приемника. Проведение измерений на заданной территории.
лабораторная работа, добавлен 22.04.2015Разработка технологий и эффективного технологического оборудования, в том числе магнетронных распылительных систем для нанесения энергосберегающих (низкоэмиссионных и электрохромных) тонкопленочных покрытий на архитектурные стекла и полимерные пленки.
автореферат, добавлен 17.09.2018Описание метода и схемы растрового электронного микроскопа. Характеристика функциональных элементов камеры, схемы детектора эмитированных электронов. Анализ задач, решаемых с помощью растрового электронного микроскопа, его достоинств и недостатков.
презентация, добавлен 31.05.2016Особенности улучшения видимости объектов в сложных метеоусловиях средствами обработки телевизионных изображений. Проведение сравнения обработки изображения по методу "темного канала" с результатами обработки методами нелинейной контрастной коррекции.
статья, добавлен 28.09.2016Предложена конструктивная и электрическая схема и технология простейшей конструкции транспортерной электронной установки для предпосевной электростимуляции семян. Время обработки семян и его регуляция частотой вращения ленточного транспортера установки.
контрольная работа, добавлен 10.09.2023Основные положения теоретического расчета. Аналитический обзор микроскопа. Расчет системы микроскопа в тонких компонентах. Оптические характеристики объектива и окуляра. Переход к толстым компонентам. Габаритный расчет оптической схемы микроскопа.
курсовая работа, добавлен 06.03.2013Устройство малогабаритной вакуумной установки. Изучение топологии поверхности островковых плёнок меди на ситалловой подложке с помощью атомно-силового микроскопа АСМ. Их получение методом термического испарения при разном расстоянии от испарителя.
курсовая работа, добавлен 03.05.2019Проектирование беспроводных систем связи. Расчет зон радиопокрытия сети, их зависимость от высоты антенны, абонента, частоты, расстояния, шага, начального и конечного углов. Влияние объектов, находящихся в области прямой видимости, на уменьшение зон.
отчет по практике, добавлен 12.10.2015Расчет электронной пушки методом синтеза и анализа. Подбор выходных параметров пучка: траектории, тока, коэффициента заполнения. Конструкция электронной пушки, создающей интенсивный электронный пучок с большим током и ламинарным движением электронов.
курсовая работа, добавлен 21.10.2012Значение и принципы функционирования электронной почты. Сравнительная характеристика почтовых серверов. Подготовка и отправление сообщений, получение сообщений. Оптимизация работы с электронной почтой с помощью почтовых клиента Microsoft Office Outlook.
курсовая работа, добавлен 30.08.2008Получение образцов пиролизованного полиакрилонитрила, которые содержат соединения меди. Изучение электропроводящих свойств полученных образцов методами интерференционной микроскопии, РФА, ИК-спектроскопии и АСМ. Тенденция снижения удельного сопротивления.
статья, добавлен 28.05.2017Характеристика видов, систем освещения. Технико-экономическое сопоставление световых приборов. Определение мощности осветительной установки. Коэффициент использования светового потока. Выбор схемы электроснабжения и напряжения питания осветительной сети.
курсовая работа, добавлен 21.02.2009Радиотехнические методы определения внутренней структуры объектов. Проведение исследований внутренних органов методами ультразвуковых исследований и оптико-акустической томографии. Контроль качества слоистых покрытий импульсным зондированием поверхности.
статья, добавлен 29.04.2018Особенности процесса сканирования. Методы построения и обработки изображений. Вычитание постоянного наклона. Устранение искажений, связанных с неидеальностью сканера. Методы восстановления поверхности изображений по сканирующей зондовой микроскопии.
реферат, добавлен 25.12.2013Осциллограмма телевизионного сигнала. Процесс бомбардировки изолированной мишени пучком электронов. От чего зависит цвет свечения и яркость экрана кинескопа. Величина цветоразностного сигнала. Уровни черного, белого, гасящих и синхронизирующих импульсов.
контрольная работа, добавлен 25.12.2015Характеристика основных видов микрометров. Главные условия поверки микроскопа и подготовка к ней. Определение метрологических параметров прибора. Особенность типов штангенциркулей по конструкции. Сущность принципа действия логарифмической линейки.
контрольная работа, добавлен 14.04.2015Распознавание объектов различной природы при отсутствии полной информации. Разложение двумерного сигнала по базисным функциям, полученным из вейвлета. Обработка видеосигналов, полученных с регистрирующих устройств в условиях недостаточной видимости.
статья, добавлен 27.11.2018