Растровый электронный микроскоп
Электронно-микроскопический метод исследования. Физические основы растровой электронной микроскопии. Схема растрового электронного микроскопа, назначение его узлов и их функционирование. Подготовка объектов для исследований и особые требования к ним.
Подобные документы
Классификация и конструкции электросчетчиков. Общий вид трехфазного электронного счетчика CE 302. Назначение и описание средства измерений; требования безопасности. Технические параметры: устройство и работа счетчика, проверка и текущий ремонт прибора.
курсовая работа, добавлен 06.02.2014Сущность и назначение импульсного вольтметра. Технические и метрологические характеристики некоторых его видов. Структурная схема аналогового электронного импульсного вольтметра, принцип его работы. Расчет делителя, пределы измерений и погрешности.
реферат, добавлен 14.11.2010Представление об основах литографии. Установки изготовления образцов. Параметры коррекции распределения дозы, чувствительность резиста. Основы электронной литографии при низком ускоряющем напряжении. Оценка эффективного диаметра электронного луча.
курсовая работа, добавлен 18.11.2012Физические основы ультразвука — упругих колебаний, частота которых превышает 20 КГц , распространяющихся в форме продольных волн в различных средах. Явление обратного пьезоэлектрического эффекта. Медицинские области применения ультразвуковых исследований.
контрольная работа, добавлен 06.01.2015Анализ качественного и количественного состава поверхности. Первичный и вторичный фотоэффекты, структура спектров. Компенсация статической зарядки исследуемой поверхности. Принципы работы сканирующих зондовых микроскопов. Формирование СЗМ изображений.
учебное пособие, добавлен 14.03.2011Природа звука, физические характеристики и основы звуковых методов исследования в клинике. Частный случай механических колебаний и волн. Звуковой удар и кратковременное звуковое воздействие. Звуковые измерения: ультразвук, инфразвук, вибрация и ощущения.
реферат, добавлен 09.11.2011Понятие и сферы практического использования электронно-оптических преобразователей как устройств, преобразующих электронные сигналы в оптическое излучение или в изображение, доступное для восприятия человеком. Устройство, цели и задачи, принцип действия.
презентация, добавлен 04.11.2015Определение фокусных расстояний собирающих и рассеивающих линз, увеличения и оптической длины трубы микроскопа, показателя преломления и средней дисперсии жидкости, силы света лампочки накаливания и ее светового поля. Изучение законов фотометрии.
методичка, добавлен 17.05.2010Организация процесса электронно-лучевого испарения. Формула электростатического напряжения между катодом и анодом, повышения температуры поверхности мишени за одну секунду. Расчёт величины тока луча и температуры на поверхности бомбардируемого материала.
статья, добавлен 31.08.2013Объединение изолированных атомов в кристалл. Схема локальных энергетических уровней электронов. Основные элементы зонной теории. Особенность состояний электронов в кристаллах. Уменьшение сопротивления металлов. Физические основы квантовой электроники.
контрольная работа, добавлен 09.01.2012Электрофизические свойства полупроводников. Структура полупроводниковых кристаллов. Элементы зонной теории твердого тела. Микроструктурные исследования влияния электронного облучения на электрофизические характеристики полупроводниковых приборов.
курсовая работа, добавлен 18.09.2015Источники рентгеновского излучения, основные факторы, влияющие на его интенсивность, характер действия на человека. Способы охлаждения при больших мощностях трубок, оценка их практической эффективности. Разновидности, порядок рентгеновских исследований.
реферат, добавлен 11.01.2011Понятие и функциональное назначение биполярного транзистора как полупроводникового прибора с двумя близкорасположенными электронно-дырочными переходами. Анализ входных и выходных характеристик транзистора, включенного по схеме с общим эмиттером и базой.
лабораторная работа, добавлен 12.05.2016Моделирование манипулятора на электронно-вычислительных машинах. Определение параметров положения звеньев, средних значений относительных скоростей соседних звеньев в кинематических парах. Графоаналитический метод планов. Построение плана ускорений.
контрольная работа, добавлен 18.04.2015Измерение показателя преломления для плоско-параллельной пластинки. Измерение показателя преломления трехгранной призмы с помощью 4-х иголок. Изучение светопропускающих качеств разных материалов с помощью фотоэлемента. Определение увеличения микроскопа.
методичка, добавлен 22.06.2015Пара электрон–позитрон как самое эффективное топливо согласно последних исследований в данной области. Таблица заведомо элементарных структур. Проблема возникновения на Земле электронного голода и поиск возможных направлений ее разрешения в будущем.
статья, добавлен 28.08.2011Разновидности, задание сигнала широтно-импульсной модуляции и его свойства. Спектр при большой, малой и дробной кратности квантования. Электронно-волновые системы миллиметрового диапазона. Основы надежности и управление качеством электронных средств.
реферат, добавлен 26.08.2015Физические процессы, лежащие в основе электронной оже-спектроскопии (ЭОС). Механизмы ЭОС, область ее применения. Относительная вероятность проявления оже-эффекта. Глубина выхода оже-электронов. Анализ тонких пленок, преимущества ионного распыления.
реферат, добавлен 17.12.2013Характер проявления и причины возникновения погрешностей в измерительной системе. Особенности статических и динамических погрешностей. Назначение электронного фазометра для измерения сдвига фаз между изменяющимися периодически электрическими колебаниями.
реферат, добавлен 25.07.2012Энергетический спектр электронов и плотность электронных состояний в низкоразмерных объектах. Важнейшие квантовомеханические характеристики тел. Спектр неограниченного кристалла 3D-электронного газа. Электронный газ в квантовой проволоке или точке.
лекция, добавлен 24.04.2014Контроль рельсовой стали на флокеночувствительность: основные методы количественного рентгеновского фазового анализа. Определение параметров кристаллической решетки вещества рентгеновским методом. Устройство и принцип действия электронного микроскопа.
контрольная работа, добавлен 18.12.2010Условия, влияющие на самоорганизацию наночастиц. Свойства нанокристаллического магния, титана, их применение. Принцип работы наноразмерного электронного выключателя. Характеристика мономеров биомакромолекул: белков, нуклеиновых кислот и полисахаридов.
контрольная работа, добавлен 20.12.2014Применение методов ряда фундаментальных физических наук для диагностики плазмы. Направления исследований, пассивные и активные, контактные и бесконтактные методы исследования свойств плазмы. Воздействие плазмы на внешние источники излучения и частиц.
реферат, добавлен 11.08.2014Компоновка источников сварочного тока, их основные параметры. Схема силовой части инверторного источника. Назначение фильтров, принцип зарядки конденсаторов, устройство трансформаторов. Данные намоточных узлов источника. Схема блока управления источником.
контрольная работа, добавлен 26.12.2010Общая характеристика методов, применяемых для измерения параметров капилляров фильер: голографической интерферометрии, Фурье-оптики, микроскопический. Сравнительный анализ рассмотренных методов, определение их основных преимуществ и недостатков.
контрольная работа, добавлен 20.05.2013