Оценка разрешающей способности сканирующего зондового микроскопа СММ2000А

Использование метода атомно-силовой микроскопии для определения с высокой точностью шероховатости поверхности непроводящих материалов, выпускаемых деревообрабатывающей промышленностью. Аттестация микроскопов с использованием калибровочных приборов.

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.