Когерентная фазовая микроскопия
Физические основы когерентной микроскопии. Изучение явлений самоорганизации и регуляции внутриклеточных процессов. Метод флуоресцентной микроскопии в сочетании с видеосъемкой. Оценка линейного оптического увеличения. Корреляционный и спектральный анализ.
Подобные документы
Изучение естественно-научных и естественно-научных смежных дисциплин. Определение микроскопии мазков крови с определением морфологических характеристик форменных элементов. Проведение исследования цены окулярного деления светового микроскопа "Микмед-5".
статья, добавлен 27.05.2023Принцип работы и характеристики современного телескопа. Фазово-контрастная микроскопия, ее применение для исследования живых и неокрашенных биологических объектов. Широкое распространение люминесцентной микроскопии. Некоторые виды современных микроскопов.
контрольная работа, добавлен 09.04.2019Элементы оптических процессоров с переносом изображения. Структурная схема специализированного оптического процессора. Обработка двумерных структур. Спектральный анализ, пространственная фильтрация, корреляционный анализ и преобразование Гильберта.
курсовая работа, добавлен 26.05.2012Анализ углеродных материалов, полученных методом электронной сканирующей микроскопии. Образование при пиролизе толуола углеродных нанотрубок, форма и размер которых зависят от давления в системе. Материал, полученный восстановлением двуокиси углерода.
статья, добавлен 03.12.2018Описание основных принципов работы сканирующего зондового и атомного силового микроскопов. Характеристика ключевых методов исследования биологических и органических объектов и структур. Типовой анализ искажающих эффектов атомно-силовой микроскопии.
диссертация, добавлен 23.12.2013Исследования наномасштабных шероховатостей поверхности твердого тела методами сканирующей зондовой микроскопии и рентгеновской рефлектометрии. Разработка аппаратуры и СЗМ-методик регистрации локального фототока в фоточувствительных полупроводниках.
автореферат, добавлен 16.02.2018Использование математических моделей для расчета рассеянных световых полей в ближней зоне для эталонных поверхностей с нанометровым рельефом. Разработка алгоритмов обработки СЗМ изображений поверхности (вейвлет-преобразования, фрактальный анализ).
автореферат, добавлен 13.04.2018Измерения микро- и нанотвердости методом электронной микроскопии, рентгеноструктурного анализа, особенности взаимосвязи тонкой субструктуры с изменением прочностных свойств однофазных и нанокомпозитных покрытий вблизи поверхности сопряжения с подложкой.
научная работа, добавлен 18.05.2012Анализ данных по примесному составу слитков мультикремния, выращенных при разных скоростных и тепловых режимах. Выявление разновидностей протяженных дефектов в мультикремнии методами селективного травления и разных видов микроскопии травления.
автореферат, добавлен 26.07.2018Методы просвечивающей и растровой электронной, атомно-силовой микроскопии. Изучение строения и фрактальных характеристик массивов нано-/микрочастиц серебра, осажденных из аэрозоля и тумана на диэлектрические подложки (ядерные фильтры и кремний).
статья, добавлен 25.10.2018Изобретение атомно-силового сканирующего зондового микроскопа высокого разрешения, основанного на взаимодействии зонда кантилевера с поверхностью образца. Кантилевер и особенности его работы. Биомедицинские приложения сканирующей зондовой микроскопии.
реферат, добавлен 16.09.2010История открытия и способы описания структуры нового класса твердых тел — квазикристаллов. Экспериментальные исследования их структуры методом просвечивающей электронной микроскопии. Отличия от кристаллических тел и особенности наноквазикристаллов.
статья, добавлен 23.12.2013Изучение всемирной истории изобретения и усовершенствования микроскопов. Применение ахроматических линз. Анализ основ физики микроскопии. Описания основных процессов, протекающих в оптической системе микроскопа. Исследование классификации микроскопов.
статья, добавлен 22.12.2016История возникновения и области применения микроскопа - оптического прибора для получения увеличенного изображения мелких объектов и их деталей, не видимых невооруженным глазом. Описание научных достижений, полученных с помощью микроскопической техники.
реферат, добавлен 27.12.2011Способы оценки траекторных интегралов фейнмановского типа. Определение свойств и параметров корпускулярных пучков, формируемых атомными линзами различных конфигураций. Моделирование схем использования атомных линз в электронной микроскопии и голографии.
автореферат, добавлен 02.03.2018Измерение размеров микроструктур в субмикронном диапазоне. Измерение профиля полупроводниковых структур. Образование методической погрешности при контроле профиля элемента методом атомно-силовой микроскопии. Калибровки с применением мер малой длины.
реферат, добавлен 29.03.2020Понятие энергии в спектре, метод определения качественного и количественного состава вещества по его спектру (спектральный анализ). Сферы применения спектрального анализа. Линейчатые, полосатые спектры, спектры поглощения и электромагнитных излучений.
реферат, добавлен 20.05.2010Закономерности дефектообразования в легированных и нелегированных полупроводниковых материалах методами просвечивающей электронной микроскопии. Расчет энергии дефекта упаковки. Контроль стойкости полупроводниковых материалов к образованию дефектов.
автореферат, добавлен 26.07.2018Физические основы работы атомно-силового микроскопа. Силовое взаимодействие между зондом и поверхностью. Вид потенциала Ленарда-Джонса. Технология изготовления зондовых датчиков атомно-силовых микроскопов. Контактная атомно-силовая микроскопия.
реферат, добавлен 06.09.2015Атомная структура и физические свойства углеродных нанотрубок. Анализ структуры нанотрубок методами электронной микроскопии высокого разрешения и электронной дифракции. Положение гексагонов на электронной дифрактограмме хиральной одностенной нанотрубки.
статья, добавлен 30.05.2017Этапы возникновения и принцип действия микроскопа. Физические закономерности получения изображения в микроскопии. Методы изучения движения электронов. Виды электронных микроскопов, особенности работы с ними. Пути преодоления дифракционного предела.
реферат, добавлен 29.09.2010Спектральный анализ - метод определения качественного и количественного состава вещества по его спектру. Тепловое излучение, электро-, катодо-, хеми- и фотолюминесценция. Непрерывные, линейчатые и полосатые спектры. Свойства электромагнитных излучений.
курсовая работа, добавлен 17.06.2010Рассмотрение способа увеличения длины волоконно-оптического канала связи квантово-криптографической системы. Техническая сторона физического ограничения длины волоконно-оптической линии связи. Способы увеличения длины волоконно-оптического канала связи.
статья, добавлен 07.08.2020Рассмотрение возможных путей возбуждения атомов. Расчет интенсивности спектральной линии. Изучение закона Больцмана. Характеристика принципиальной схемы спектрального прибора. Анализ конструкции светофильтра - устройства, меняющего спектральный состав.
контрольная работа, добавлен 04.10.2014Волновое сопротивление и фазовая скорость распространения электромагнитных волн для кабеля с полиэтиленовой изоляцией. Диэлектрическая проницаемость полиэтилена. Сравнение амплитуды сигнала на осциллографе и в линии. Мощность оптического сигнала.
презентация, добавлен 02.08.2012