Развитие методов сканирующей зондовой микроскопии для исследования электрофизических свойств материалов наноэлектроники и структур на их основе
Разработка методики подготовки атомно-силовой микроскопии (АСМ) зондов для выполнения электрических АСМ измерений и электрохимической литографии. Разработка методики выбора оптимальной силы взаимодействия "зонд-образец" для контроля процесса износа.
Подобные документы
Изобретение атомно-силового сканирующего зондового микроскопа высокого разрешения, основанного на взаимодействии зонда кантилевера с поверхностью образца. Кантилевер и особенности его работы. Биомедицинские приложения сканирующей зондовой микроскопии.
реферат, добавлен 16.09.2010Исследования наномасштабных шероховатостей поверхности твердого тела методами сканирующей зондовой микроскопии и рентгеновской рефлектометрии. Разработка аппаратуры и СЗМ-методик регистрации локального фототока в фоточувствительных полупроводниках.
автореферат, добавлен 16.02.2018Измерение типовой электрической величины заданного размера. Формирование данных для разработки методики выполнения измерений; анализ и выбор методов и средств измерений. Разработка функциональной схемы измерительной установки. Проект документа на МВИ.
курсовая работа, добавлен 25.11.2011Рассмотрение истории создания сканирующего зондового микроскопа. Изучение микрофлоры воды с помощью микроскопии. Туннельный эффект зонда - квантовое явление проникновения микрочастицы из одной доступной области движения в другую, отделённую барьером.
реферат, добавлен 14.12.2015Измерение размеров микроструктур в субмикронном диапазоне. Измерение профиля полупроводниковых структур. Образование методической погрешности при контроле профиля элемента методом атомно-силовой микроскопии. Калибровки с применением мер малой длины.
реферат, добавлен 29.03.2020Описание основных принципов работы сканирующего зондового и атомного силового микроскопов. Характеристика ключевых методов исследования биологических и органических объектов и структур. Типовой анализ искажающих эффектов атомно-силовой микроскопии.
диссертация, добавлен 23.12.2013Физические основы и принцип работы атомно-силового микроскопа, его внутреннее устройство и главные компоненты. Анализ схемы зондового датчика, а также факторы, влияющие на его взаимодействие с поверхностью. Качественный вид потенциала Леннарда-Джонса.
реферат, добавлен 25.05.2020Применение зондов из вольфрамовой проволоки в сканирующих туннельных микроскопах. Рассмотрение метода электрохимического травления в растворе щелочи. Погружение в электролит кольцевого электрода. Изменение напряжения на зонде в процессе травления.
статья, добавлен 02.04.2014- 9. Исследование особенностей распределения локальной проводимости на поверхности слоистых материалов
Создание пригодного к использованию цельнометаллического кантилевера из платиново-иридиевой проволоки, способного проводить ток. Сканирование графита и наблюдение за разные проводимости террас на поверхности. Методы сканирующей зондовой микроскопии.
контрольная работа, добавлен 03.05.2019 Принципы построения изображения объекта в ближнепольной оптической микроскопии. Современные схемы реализации микроскопа. Вид и изготовление зондов на основе оптического волокна. Применение фокусирующего зеркала для увеличения чувствительности излучения.
лекция, добавлен 28.12.2013- 11. Виды микроскопии
Описание основных методов исследования растительной, животной клетки и других объектов. Изучение характеристик, особенностей применения, преимуществ и недостатков различных разновидностей светового, электронного и поляризационного методов микроскопии.
реферат, добавлен 14.12.2013 Получение изображений двухфазных и нанопористых стекол методом конфокальной сканирующей лазерной микроскопии, которые свидетельствуют о наличии неоднородной структуры с разными оптическими свойствами. Процессы, происходящие в стеклах при термообработке.
статья, добавлен 30.11.2018- 13. Электронная микроскопия углеродных нанотрубок и нановолокон и автоэлектронные эмиттеры на их основе
Исследование различных типов углеродных нанотрубок методами электронной микроскопии высокого разрешения (ВРЭМ), растровой электронной микроскопии (РЭМ) и электрофизическими методами. Анализ использования ОСНТ@ПУ в качестве элементов наноэлектроники.
автореферат, добавлен 02.08.2018 Разработка технологии изготовления гибридных гетероструктур с прослойкой магнитоактивного материала из манганитов на основе эпитаксиальных сверхпроводящих металлоксидных пленок. Исследование многоэлементных джозефсононовских структур на постоянном токе.
автореферат, добавлен 29.10.2018Разработка растровой электронной микроскопии с целью исследования наномасштабов. Особенности и принцип работы атмосферного растрового электронного микроскопа ClairScope, его преимущества по сравнению с оптическим микроскопом. Новые приборы фирмы ASPEX.
реферат, добавлен 20.10.2013Принципы работы сканирующих зондовых микроскопов, их сканирующие элементы (сканеры). Устройства для прецизионных перемещений зонда и образца. Порядок формирования и обработки СЗМ изображений. Процесс защиты зондовых микроскопов от внешних воздействий.
учебное пособие, добавлен 18.05.2013Обзор истории микроскопии. Характеристика просвечивающей электронной микроскопии. Оценка источников электронов. Определение вспомогательного оборудования для ОПЭМ и системы освещения. Анализ способов применения просвечивающего электронного микроскопа.
реферат, добавлен 15.04.2016Электронно-оптическая система как совокупность электродов, магнитов, проводников, обтекаемых током. Характеристика основных направлений электронной микроскопии. Методы просвечивающей и растровой микроскопии. Принципиальная оптическая схема микроскопа.
реферат, добавлен 20.11.2016Анализ современного состояния микроволновых методов контроля электрофизических параметров и их неоднородностей магнитодиэлектрических и диэлектрических материалов и покрытий металлов. Исследование способа интроскопии поверхностной медленной волной.
автореферат, добавлен 25.07.2018Формирование исходных данных для разработки методики выполнения измерений. Сравнительные характеристики электрических приборов. Амплитудное значение переменной составляющей пульсирующего тока. Расчет электрического сопротивления в цепях постоянного тока.
курсовая работа, добавлен 03.10.2017Научно-техническая разработка энергоэффективной методики сушки и измельчения дисперсных материалов. Продолжительность сушки и измельчения. Cхема конструкции термовакуумной установки для ускорения технологического процесса сушки дисперсных материалов.
статья, добавлен 30.10.2016Создание надежных методов расчета пристеночных слоев вблизи тел, обтекаемых низкотемпературной плазмой, в широком диапазоне изменения числа Кнудсена. Разработка теории нестационарного зонда. Анализ методов зондовой диагностики плазменных потоков.
автореферат, добавлен 02.03.2018Понятие и виды электронной микроскопии. Схема устройства растрового электронного микроскопа и просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения. Анализ методов исследования надмолекулярной структуры аморфных и кристаллизующихся полимеров.
доклад, добавлен 07.02.2012Разработка алгоритма определения комплекса теплофизических свойств анизотропного материала. Изготовление измерительного устройства, работающего в составе автоматизированной системы контроля. Анализ выбора рациональных режимных параметров эксперимента.
автореферат, добавлен 25.07.2018Исследование по определению электрофизических свойств полимерных композиций на основе поливинилхлорида (ПВХ). Влияние ингредиентов на технологические свойства ПВХ композиций. Отличия электрофизических свойств изоляции в зависимости от водопоглощения.
статья, добавлен 06.02.2017