Simulation of Radiation Effects in SiO2/Si Structures

Describing space-time evolution of electric charge induced in dielectric layer of simulated metalinsulator-semiconductor structures due to irradiation with X-rays. The system of equations used as a basis of the simulation model is solved iteratively.

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.