Дифракция электронов. Электронный микроскоп
Этапы возникновения и принцип действия микроскопа. Физические закономерности получения изображения в микроскопии. Методы изучения движения электронов. Виды электронных микроскопов, особенности работы с ними. Пути преодоления дифракционного предела.
Подобные документы
Оптическая схема и принцип действия оптического микроскопа. Основные виды микроскопов, пределы их общего увеличения. Характеристика методов наблюдения при оптической микроскопии. Методы светлого (в отраженном свете) и темного (в проходящем свете) полей.
реферат, добавлен 15.09.2017Изучение всемирной истории изобретения и усовершенствования микроскопов. Применение ахроматических линз. Анализ основ физики микроскопии. Описания основных процессов, протекающих в оптической системе микроскопа. Исследование классификации микроскопов.
статья, добавлен 22.12.2016Разработка растровой электронной микроскопии с целью исследования наномасштабов. Особенности и принцип работы атмосферного растрового электронного микроскопа ClairScope, его преимущества по сравнению с оптическим микроскопом. Новые приборы фирмы ASPEX.
реферат, добавлен 20.10.2013Принципиальное устройство атомно-силового микроскопа. Исследование механических свойств полимерных пленок. Принцип действия туннельного микроскопа. Преимущества, недостатки и перспективы сканирующей зондовой микроскопии. Режимы сканирования поверхности.
реферат, добавлен 14.12.2014Физический процесс, приводящий к экспериментально-наблюдаемой картине дифракции электронов. Уравнение для длины волны. Экспериментальная установка для изучения дифракции электронов на кристаллических структурах. Изображение электронно-лучевой трубки.
лабораторная работа, добавлен 01.09.2020Электронно-оптическая система как совокупность электродов, магнитов, проводников, обтекаемых током. Характеристика основных направлений электронной микроскопии. Методы просвечивающей и растровой микроскопии. Принципиальная оптическая схема микроскопа.
реферат, добавлен 20.11.2016Методы и приборы для получения качественных характеристик фотонных кристаллов. Полуконтактный, бесконтактный и контактный режим работы атомно-силового микроскопа. Принцип действия конфокального микроскопа. Формирование электронно-оптических изображений.
курсовая работа, добавлен 06.10.2017История возникновения и развития ближнепольной оптики. Принцип действия и основные узлы микроскопа. Схема сканирования зондом изучаемого образца. Физические явления, лежащие в основе механизма образования изображения. Уравнения Максвелла и Шредингера.
учебное пособие, добавлен 28.12.2013История возникновения и области применения микроскопа - оптического прибора для получения увеличенного изображения мелких объектов и их деталей, не видимых невооруженным глазом. Описание научных достижений, полученных с помощью микроскопической техники.
реферат, добавлен 27.12.2011Предназначение растрового электронного микроскопа как прибора для получения изображения поверхности объекта с высоким пространственным разрешением, информации о строении и свойствах приповерхностных слоев. Получение изображений в отраженных электронах.
курсовая работа, добавлен 03.05.2019Создание растрового электронного микроскопа (РЭМ) и его популярность у физиков, химиков, криминалистов. Развитие методов исследования, позволяющих объяснить явления, происходящие в микромире. Высокая яркость и эффективность использования электронов.
курсовая работа, добавлен 08.12.2014Принцип работы и характеристики современного телескопа. Фазово-контрастная микроскопия, ее применение для исследования живых и неокрашенных биологических объектов. Широкое распространение люминесцентной микроскопии. Некоторые виды современных микроскопов.
контрольная работа, добавлен 09.04.2019Исследование электронных и молекулярных процессов, происходящих на поверхности твердых тел. История создания работы сканирующего туннельного микроскопа. Объекты анализа и методы их подготовки. Микроскопии ближнего поля, расширение области применения.
реферат, добавлен 02.11.2014- 14. Электронография
Определение понятия электронографии, как метода изучения структуры вещества, основанного на исследовании рассеяния образцом ускоренных электронов. Изучение кикучи-электронограммы и процессов эпитаксии. Рассмотрение основных методов дифракции электронов.
реферат, добавлен 08.06.2014 Типы сканирующих зондовых микроскопов. Схема работы сканирующего туннельного и атомно-силового микроскопа, достоинства и недостатки их использования. Конструкции оптического микроскопа в ближнем поле и сканирующего ближнепольного оптического микроскопа.
реферат, добавлен 04.04.2017История создания и принцип работы сканирующего туннельного микроскопа. Мюллер как изобретатель первого полевого ионного микроскопа. Особенности формирования изображения поверхности по методу постоянного туннельного тока и постоянного среднего расстояния.
курсовая работа, добавлен 10.12.2018Физические основы и принцип работы атомно-силового микроскопа, его внутреннее устройство и главные компоненты. Анализ схемы зондового датчика, а также факторы, влияющие на его взаимодействие с поверхностью. Качественный вид потенциала Леннарда-Джонса.
реферат, добавлен 25.05.2020История возникновения, применение и предназначение микроскопа, характеристика и отличительные черты его видов. Принцип построения простого и сложного микроскопа, ход лучей в приборе. Замечание о максимальном увеличении микроскопа, предел его разрешения.
реферат, добавлен 23.04.2017Исследование электронных, атомных и молекулярных процессов, происходящих на поверхности твердых тел. Принцип работы сканирующего зондового микроскопа. Основная область применения СТМ. Изготовление тонких атомногладких острий-зондов и их диагностика.
презентация, добавлен 29.09.2013Особенности разработки клистронов. Предложен отказ от модели одномерного движения электронов и использование нового 3D принципа образования электронных сгущений в неоднородном магнитном поле без предварительной модуляции продольной скорости электронов.
статья, добавлен 03.11.2018Анализ хронологии развития микроскопии. Строение и принцип работы оптического микроскопа. Исследование контраста изображения и разрешающей способности прибора с сильно увеличивающими стеклами. Особенность измерения размеров микроскопических объектов.
реферат, добавлен 29.05.2016Принципы работы сканирующих зондовых микроскопов, их сканирующие элементы (сканеры). Устройства для прецизионных перемещений зонда и образца. Порядок формирования и обработки СЗМ изображений. Процесс защиты зондовых микроскопов от внешних воздействий.
учебное пособие, добавлен 18.05.2013Проявление волновых свойств частиц. Дифракция электронов на кристаллической решетке графита, как проявление волновых свойств. Расстояние между ближайшими друг к другу точками, колеблющимися в одинаковых фазах. Корпускулярно-волновой дуализм в микромире.
лабораторная работа, добавлен 31.10.2023Оценка пространственной разрешающей способности оптической системы микроскопа. Использование оптимальной линейной пространственной фильтрации цифрового изображения полуплоскости для измерения функции рассеяния линии типовых оптических систем микроскопов.
статья, добавлен 29.01.2019Общие понятия, история, первый изобретатель, недавние достижения в разработке оптического микроскопа. Применение в науке и технике, устройство и основные элементы оптической системы. Специализированные виды микроскопов: назначение и возможности.
доклад, добавлен 13.03.2011