Сканирующий туннельный микроскоп
Исследование электронных, атомных и молекулярных процессов, происходящих на поверхности твердых тел. Принцип работы сканирующего зондового микроскопа. Основная область применения СТМ. Изготовление тонких атомногладких острий-зондов и их диагностика.
Подобные документы
Преодоление частицей энергетического барьера. Развитие электроники. Теория туннельного эффекта. Туннелирование электронов в твердых телах. Квантовые транзисторы. Условие максимума пропускания. Туннельный диод. Движение частицы из одной орбитали в другую.
дипломная работа, добавлен 30.09.2008Изучение устройства поляризационного микроскопа и методики работы на нем, определение осности и оптического знака кристаллов. Измерение угла между оптическими осями двуосных кристаллов. Явления в кристаллах, вырезанных перпендикулярно оптической оси.
лабораторная работа, добавлен 05.04.2020Взаимодействие электронного зонда с образцом. Принципиальные основы работы растрового электронного микроскопа. Особенности подготовки образцов и режимов исследования для получения максимальной разрешающей способности. Режим Y-модуляции; подавление шумов.
статья, добавлен 30.11.2018Применение зондов из вольфрамовой проволоки в сканирующих туннельных микроскопах. Рассмотрение метода электрохимического травления в растворе щелочи. Погружение в электролит кольцевого электрода. Изменение напряжения на зонде в процессе травления.
статья, добавлен 02.04.2014Разработка растровой электронной микроскопии с целью исследования наномасштабов. Особенности и принцип работы атмосферного растрового электронного микроскопа ClairScope, его преимущества по сравнению с оптическим микроскопом. Новые приборы фирмы ASPEX.
реферат, добавлен 20.10.2013Аналитические и численные методы исследования объектов и процессов микромира. Фокусировка и монохромация пучков заряженных частиц. Радиоспектроскопические методы изучения атомных объектов. Исследование микроструктуры и химического состава поверхности.
курс лекций, добавлен 15.03.2015- 32. Получение и исследование оптических свойств массивов наночастиц Au на поверхности тонких пленок ZnO
Управление морфологическими параметрами массивов наночастиц Au, получаемых на поверхности тонких пленок ZnO методом импульсного лазерного напыления с дальнейшим отжигом в инертной атмосфере. Особенность повышения максимума плазмонного поглощения.
статья, добавлен 29.06.2017 Общие понятия, история, первый изобретатель, недавние достижения в разработке оптического микроскопа. Применение в науке и технике, устройство и основные элементы оптической системы. Специализированные виды микроскопов: назначение и возможности.
доклад, добавлен 13.03.2011Изучение принципов работы просвечивающего электронного микроскопа и идентификации веществ по их дифракционным картинам. Гипотеза Де Бройля о наличии у частиц вещества волновых свойств. Расчет электронограммы, дифракционная картина на кристаллах никеля.
лабораторная работа, добавлен 28.05.2015Содержание концепции светового микроскопа. Важность исследуемого прибора для современной науки и промышленности. История открытий Галилея и Гука. Революция датского ученого Левенгука в данном ремесле, ставшая началом новой науки – микробиологии.
реферат, добавлен 27.10.2011Повышение поверхностной твердости шестерни с использованием современных лазерных технологий как условие для применения тонких твердых покрытий. Важность толщины упрочненного слоя покрытия для увеличения предельной нагрузки и срока службы деталей машин.
статья, добавлен 30.10.2016Принципы измерения линейного размера структурных единиц наноматериалов. Дифракционный предел разрешающей способности человеческого глаза, увеличение простейшего, оптического, туннельного и флуоресцентного микроскопа. Виды рентгеновского излучения.
лекция, добавлен 12.08.2015Предназначение растрового электронного микроскопа как прибора для получения изображения поверхности объекта с высоким пространственным разрешением, информации о строении и свойствах приповерхностных слоев. Получение изображений в отраженных электронах.
курсовая работа, добавлен 03.05.2019Рассмотрение вопросов применения метода вероятностного клеточного автомата к моделированию адсорбционных процессов. Равновесные и кинетические параметры, полученные в результате моделирования процессов адсорбции из газовой фазы на поверхности твердых тел.
статья, добавлен 31.08.2018Сущность интерференции в тонких пластинках и пленках, представляющей практический интерес для понимания более сложных процессов, происходящих в интерференционных фильтрах, интерферометрах и других оптических устройствах. Процессы в полосах равной толщины.
реферат, добавлен 11.04.2013Изображение хода лучей в рефрактометре. Определение показателя преломления стекла с помощью микроскопа и преломления жидкостей с помощью рефрактометра. Зависимость показателя преломления среды от угла падения, длины волны падающего света и температуры.
методичка, добавлен 13.08.2013Особенности лазерного излучения и методы его получения, теоретические основы лазерных технологических процессов, их классификация и перспективы развития. Характеристика и принцип работы газовых и полупроводниковых лазеров, область их применения.
реферат, добавлен 07.08.2010Принципы работы сканирующих зондовых микроскопов, их сканирующие элементы (сканеры). Устройства для прецизионных перемещений зонда и образца. Порядок формирования и обработки СЗМ изображений. Процесс защиты зондовых микроскопов от внешних воздействий.
учебное пособие, добавлен 18.05.2013Характеристика и физические свойства газов. Особенности взаимодействия частиц. Законы обмена энергиями при столкновениях. Действие молекулярных структур в жидкости. Исследование процессов горения твердых и жидких веществ. Механизм образования пламени.
реферат, добавлен 16.12.2014Механизмы процессов, протекающие на границе твердых тел и активных газов. Регистрация "отклика" поверхности на воздействие потока газовых частиц тепловых энергий. Протекание физико-химических процессов на поверхности вещества в нестационарных условиях.
статья, добавлен 15.08.2020Энергетические уровни, электронная конфигурация атома. Принцип заполнения (наименьшей энергии). Распределение электронов в атоме по энергетическим уровням. Принципы и последовательность заполнения атомных орбиталей. Энергетические зоны. Туннельный эффект.
реферат, добавлен 06.12.2012История возникновения и развития ближнепольной оптики. Принцип действия и основные узлы микроскопа. Схема сканирования зондом изучаемого образца. Физические явления, лежащие в основе механизма образования изображения. Уравнения Максвелла и Шредингера.
учебное пособие, добавлен 28.12.2013История возникновения и области применения микроскопа - оптического прибора для получения увеличенного изображения мелких объектов и их деталей, не видимых невооруженным глазом. Описание научных достижений, полученных с помощью микроскопической техники.
реферат, добавлен 27.12.2011Пролетные клистроны: их характеристика и анализ процессов, происходящих в них. Особенности группирования электронов. Мощность колебаний в выходном резонаторе. Принцип работы многорезонаторного пролетного клистрона, его параметры и характеристики.
курсовая работа, добавлен 14.04.2015- 50. Зворыкин Владимир Кузьмич, изобретение электронного микроскопа и передающей телевизионной трубки
Краткая биография В.К. Зворыкина русско-американского инженера, изобретателя современного телевидения. История создания приемно-телевизионной трубки с электростатической фокусировкой. Особенности изобретения электронного микроскопа с Дж. Хиллиером.
реферат, добавлен 02.12.2014