Оптическая микроскопия ближнего поля
Принципы построения изображения объекта в ближнепольной оптической микроскопии. Современные схемы реализации микроскопа. Вид и изготовление зондов на основе оптического волокна. Применение фокусирующего зеркала для увеличения чувствительности излучения.
Подобные документы
- 26. Электронная микроскопия углеродных нанотрубок и нановолокон и автоэлектронные эмиттеры на их основе
Исследование различных типов углеродных нанотрубок методами электронной микроскопии высокого разрешения (ВРЭМ), растровой электронной микроскопии (РЭМ) и электрофизическими методами. Анализ использования ОСНТ@ПУ в качестве элементов наноэлектроники.
автореферат, добавлен 02.08.2018 Определение физического предела разрешения оптических систем при учете волновой природы излучения. Картина дифракции на диафрагме и распределение интенсивности света на экране. Теория Аббе (интересный прием определения разрешающей силы микроскопа).
лекция, добавлен 18.10.2012История возникновения, применение и предназначение микроскопа, характеристика и отличительные черты его видов. Принцип построения простого и сложного микроскопа, ход лучей в приборе. Замечание о максимальном увеличении микроскопа, предел его разрешения.
реферат, добавлен 23.04.2017Использование математических моделей для расчета рассеянных световых полей в ближней зоне для эталонных поверхностей с нанометровым рельефом. Разработка алгоритмов обработки СЗМ изображений поверхности (вейвлет-преобразования, фрактальный анализ).
автореферат, добавлен 13.04.2018История создания и принцип работы сканирующего туннельного микроскопа. Мюллер как изобретатель первого полевого ионного микроскопа. Особенности формирования изображения поверхности по методу постоянного туннельного тока и постоянного среднего расстояния.
курсовая работа, добавлен 10.12.2018Разработана оптическая схема компактного спектрометра для диапазона 430-1100 нм на основе вогнутой голограммной дифракционной решетки и проекционного сферического зеркала. Проведено комплексное компьютерное моделирование и макетирование спектрометра.
статья, добавлен 07.12.2018Рассмотрение устройства растрового электронного микроскопа. Особенности взаимодействия электронного пучка с веществом на поверхности мишени-образца. Изучение основных механизмов формирования и обработки изображения в растровом электронном микроскопе.
лекция, добавлен 21.03.2014Применение зондов из вольфрамовой проволоки в сканирующих туннельных микроскопах. Рассмотрение метода электрохимического травления в растворе щелочи. Погружение в электролит кольцевого электрода. Изменение напряжения на зонде в процессе травления.
статья, добавлен 02.04.2014Изучение устройства поляризационного микроскопа и методики работы на нем, определение осности и оптического знака кристаллов. Измерение угла между оптическими осями двуосных кристаллов. Явления в кристаллах, вырезанных перпендикулярно оптической оси.
лабораторная работа, добавлен 05.04.2020Дифракция излучения на решетке. Пространственная частота, период и толщина голограммы. Влияние толщины регистрирующей среды. Формирование изображения объекта при считывании. Получение изображения непрозрачного объекта с помощью пропускающей голограммы.
презентация, добавлен 16.10.2014Аналитические соотношения взаимосвязи основных аберрационных параметров с аберрационными параметрами при произвольном увеличении. Анализ изменения величины аберраций при изменении поперечного увеличения изображения, образованного оптической системой.
статья, добавлен 07.12.2018Изучение основных энергетических и фотометрических характеристик оптического излучения. Определение факторов, влияющих на их эффективность. Принцип преобразования энергии оптического излучения в конечный сигнал, регистрируемый измерительными приборами.
отчет по практике, добавлен 25.10.2019Принципиальное устройство атомно-силового микроскопа. Исследование механических свойств полимерных пленок. Принцип действия туннельного микроскопа. Преимущества, недостатки и перспективы сканирующей зондовой микроскопии. Режимы сканирования поверхности.
реферат, добавлен 14.12.2014Апертура как максимальный угол между оптической осью и световым лучом, падающим на торец многомодового волоконного световода. Факторы, влияющие на ее величину, влияние на эффективность ввода излучения лазера в световод. Классификация оптических волокон.
статья, добавлен 20.01.2018Рассмотрение способа увеличения длины волоконно-оптического канала связи квантово-криптографической системы. Техническая сторона физического ограничения длины волоконно-оптической линии связи. Способы увеличения длины волоконно-оптического канала связи.
статья, добавлен 07.08.2020Понятие плоскополяризованного света. Оптическая индикатриса кристаллов разных сингоний, принципы изучения их свойств. Устройство и поверка микроскопа. Ход лучей через систему поляризатор-кристалл-анализатор. Простые формы и комбинации кристаллов.
реферат, добавлен 06.03.2013Принцип работы и характеристики современного телескопа. Фазово-контрастная микроскопия, ее применение для исследования живых и неокрашенных биологических объектов. Широкое распространение люминесцентной микроскопии. Некоторые виды современных микроскопов.
контрольная работа, добавлен 09.04.2019Анализ зависимости чувствительности интегрально-оптического волноводного сенсора от длины волноводной сенсорной ячейки, эффективности ввода лазерного излучения в волновод, сечения поглощения детектируемого вещества и уровня аддитивного случайного шума.
статья, добавлен 07.11.2018Основные принципы измерений с помощью интерференционных приборов. Применение метода фазосдвигающей интерферометрии для исследования оптического контакта. Современные стандартизованные методики регистрации свилей и контроль бессвильности деталей.
дипломная работа, добавлен 31.05.2016Физические принципы работы оптического волокна. Волоконно-оптические линии связи как понятие. Физические и технические особенности оптического волокна. Недостатки волоконной технологии. Оптический кабель и его характеристики. Волоконно-оптический кабель.
реферат, добавлен 17.04.2010Определение чувствительности и оптического сдвига выходной частоты магнитометра, основанного на оптической накачке атомов цезия и предназначенного для системы стабилизации нейтрального магнитного резонанса. Влияние магнитного поля на результаты измерений.
статья, добавлен 05.02.2017Современные представления о морфологии поверхности. Зондовые и оптические методы исследования поверхностного рельефа. Схема организации системы обратной связи зондового микроскопа. Получение информации о свойствах поверхности в электросиловой микроскопии.
статья, добавлен 30.11.2018Принципы измерения линейного размера структурных единиц наноматериалов. Дифракционный предел разрешающей способности человеческого глаза, увеличение простейшего, оптического, туннельного и флуоресцентного микроскопа. Виды рентгеновского излучения.
лекция, добавлен 12.08.2015Анализ основных проблем формирования и регистрации изображения в нейтронном микроскопе. Характеристика оптических элементов для фокусировки нейтронов. Знакомство с этапами расчета простой нейтронно-оптической системы. Особенности микроскопа А. Штайерла.
книга, добавлен 23.12.2013Обзор истории микроскопии. Характеристика просвечивающей электронной микроскопии. Оценка источников электронов. Определение вспомогательного оборудования для ОПЭМ и системы освещения. Анализ способов применения просвечивающего электронного микроскопа.
реферат, добавлен 15.04.2016