Строение и назначение микроскопа
История возникновения, применение и предназначение микроскопа, характеристика и отличительные черты его видов. Принцип построения простого и сложного микроскопа, ход лучей в приборе. Замечание о максимальном увеличении микроскопа, предел его разрешения.
Подобные документы
Этапы возникновения и принцип действия микроскопа. Физические закономерности получения изображения в микроскопии. Методы изучения движения электронов. Виды электронных микроскопов, особенности работы с ними. Пути преодоления дифракционного предела.
реферат, добавлен 29.09.2010Понятие плоскополяризованного света. Оптическая индикатриса кристаллов разных сингоний, принципы изучения их свойств. Устройство и поверка микроскопа. Ход лучей через систему поляризатор-кристалл-анализатор. Простые формы и комбинации кристаллов.
реферат, добавлен 06.03.2013- 28. Тонкие линзы
Изучение свойств тонких линз. Определение фокусного расстояния собирающих и рассеивающих линз. Устройство оптических приборов и хода лучей в них. Работа с компьютерной моделью лупы, микроскопа, глаза, трубы Кеплера, линзы, ее принципы и закономерности.
лабораторная работа, добавлен 12.11.2011 Характеристика устройств, преобразующих, преломляющих, отражающих излучение областей спектра. Назначение и свойства базовых оптические элементов: линз, призм, зеркал, фильтров. Конструкции и лабораторные задачи оптических приборов микроскопа и телескопа.
реферат, добавлен 25.12.2023Изобретение атомно-силового сканирующего зондового микроскопа высокого разрешения, основанного на взаимодействии зонда кантилевера с поверхностью образца. Кантилевер и особенности его работы. Биомедицинские приложения сканирующей зондовой микроскопии.
реферат, добавлен 16.09.2010Предназначение растрового электронного микроскопа как прибора для получения изображения поверхности объекта с высоким пространственным разрешением, информации о строении и свойствах приповерхностных слоев. Получение изображений в отраженных электронах.
курсовая работа, добавлен 03.05.2019Исследование электронных, атомных и молекулярных процессов, происходящих на поверхности твердых тел. Принцип работы сканирующего зондового микроскопа. Основная область применения СТМ. Изготовление тонких атомногладких острий-зондов и их диагностика.
презентация, добавлен 29.09.2013Изображение хода лучей в рефрактометре. Определение показателя преломления стекла с помощью микроскопа и преломления жидкостей с помощью рефрактометра. Зависимость показателя преломления среды от угла падения, длины волны падающего света и температуры.
методичка, добавлен 13.08.2013Оптическая схема и принцип действия оптического микроскопа. Основные виды микроскопов, пределы их общего увеличения. Характеристика методов наблюдения при оптической микроскопии. Методы светлого (в отраженном свете) и темного (в проходящем свете) полей.
реферат, добавлен 15.09.2017Исследование электронных и молекулярных процессов, происходящих на поверхности твердых тел. История создания работы сканирующего туннельного микроскопа. Объекты анализа и методы их подготовки. Микроскопии ближнего поля, расширение области применения.
реферат, добавлен 02.11.2014Определение физического предела разрешения оптических систем при учете волновой природы излучения. Картина дифракции на диафрагме и распределение интенсивности света на экране. Теория Аббе (интересный прием определения разрешающей силы микроскопа).
лекция, добавлен 18.10.2012Оптическая индикатриса кристаллов различных сингоний. Устройство микроскопа, его поверки. Естественный и поляризованный свет, преломление лучей, устройство призмы Николя. Изучение оптических свойств кристаллов. Определение силы двойного лучепреломления.
курсовая работа, добавлен 18.05.2010История изобретения и развития конструкции микроскопа. Правила работы с микроскопом. Объектив, линзы, регулировочные устройства. Защита объектива, система призм и зеркал. Конус распространения света и его угловая апертура. Схема иммерсионной системы.
реферат, добавлен 27.09.2019Разработка растровой электронной микроскопии с целью исследования наномасштабов. Особенности и принцип работы атмосферного растрового электронного микроскопа ClairScope, его преимущества по сравнению с оптическим микроскопом. Новые приборы фирмы ASPEX.
реферат, добавлен 20.10.2013Содержание концепции светового микроскопа. Важность исследуемого прибора для современной науки и промышленности. История открытий Галилея и Гука. Революция датского ученого Левенгука в данном ремесле, ставшая началом новой науки – микробиологии.
реферат, добавлен 27.10.2011Знакомство с оптической схемой микроскопа, анализ конструктивных составляющих. Лупа как простейший оптический прибор, рассмотрение сфер использования. Общая характеристика очков с рассеивающими линзами. Особенности уголовного и линейного уравнения лупы.
реферат, добавлен 22.12.2014Понятие и виды электронной микроскопии. Схема устройства растрового электронного микроскопа и просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения. Анализ методов исследования надмолекулярной структуры аморфных и кристаллизующихся полимеров.
доклад, добавлен 07.02.2012Изучение взаимодействия электронного пучка с поверхностью. Рассмотрение принципов работы современного сканирующего зондового микроскопа. Зондовая микроскопия в исследованиях вирусов, дезоксирибонуклеиновой кислоты и белковых комплексов бактерий.
статья, добавлен 20.07.2014Создание растрового электронного микроскопа (РЭМ) и его популярность у физиков, химиков, криминалистов. Развитие методов исследования, позволяющих объяснить явления, происходящие в микромире. Высокая яркость и эффективность использования электронов.
курсовая работа, добавлен 08.12.2014Обзор истории микроскопии. Характеристика просвечивающей электронной микроскопии. Оценка источников электронов. Определение вспомогательного оборудования для ОПЭМ и системы освещения. Анализ способов применения просвечивающего электронного микроскопа.
реферат, добавлен 15.04.2016Исследование особенностей Nano-технологии, с помощью которой человек может управлять частицами и системами молекул при создании nano-структур с определенными свойствами. Характеристика принципа действия сканирующего атомно-силового микроскопа с зондом.
реферат, добавлен 29.05.2012Электронно-оптическая система как совокупность электродов, магнитов, проводников, обтекаемых током. Характеристика основных направлений электронной микроскопии. Методы просвечивающей и растровой микроскопии. Принципиальная оптическая схема микроскопа.
реферат, добавлен 20.11.2016Анализ основных проблем формирования и регистрации изображения в нейтронном микроскопе. Характеристика оптических элементов для фокусировки нейтронов. Знакомство с этапами расчета простой нейтронно-оптической системы. Особенности микроскопа А. Штайерла.
книга, добавлен 23.12.2013Исследование физической сущности линз и сферических зеркал. Изучение особенностей количественных измерений энергетических характеристик поля излучения. Анализ специфики функционирования оптических приборов. Выяснение ограничений на увеличение микроскопа.
лекция, добавлен 10.10.2014- 50. Сверхпроводники
Сверхтонкие YBCO пленки с Тс выше 77К. Контакты сверхпроводника с ферромагнетиком. Использование буферного слоя между подложкой и пленкой. Метод лазерного распыления мишени. Исследования ранних стадий роста пленок с помощью атомно-силового микроскопа.
реферат, добавлен 01.12.2013