Влияние спектральных характеристик релятивистского электронного пучка на процесс развития неустойчивости при токе, близком к предельному

Модель пучковой системы, позволяющая с малыми погрешностями рассчитывать характеристики процессов для малых и больших разбросов энергии электронов в пучке. Зависимость времени развития неустойчивости от ширины спектра релятивистского электронного пучка.

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.