Анализ точности высотных измерений методом фокусировки объекта на базе оптического микроскопа Leica DM IRM
Оценка целесообразности применения метода фокусировки на объект в оптической микроскопии для определения высотных характеристик образца. Расчет разрешающей способности, погрешности измерений данного метода на основе данных, полученных на микроскопе Leica.
Подобные документы
Метрологические характеристики измерительных средств для физических величин, их классификация, определение погрешности и класса точности. Способы нормирования и формы выражения метрологических характеристик, функции государственных центров испытаний.
реферат, добавлен 16.05.2015Анализ способов применения оптической неинвазивной диагностики для решения задачи контроля уровня сахара в крови. Исследование спектральных характеристик биологического объекта и растворов глюкозы. Участки спектра, где возможен контроль уровня сахара.
статья, добавлен 07.12.2018Изучение классификации измерений, ознакомление с методикой проведения измерений постоянного тока и методами обработки результатов измерений для количественной оценки полученных погрешностей. Амперметр с цифровым индикатором. Динамическая погрешность АЦП.
методичка, добавлен 16.09.2016Измерение размеров микроструктур в субмикронном диапазоне. Измерение профиля полупроводниковых структур. Образование методической погрешности при контроле профиля элемента методом атомно-силовой микроскопии. Калибровки с применением мер малой длины.
реферат, добавлен 29.03.2020Принципы проведения прямых измерений линейных размеров тел с помощью штангенциркуля и косвенных измерений по определению объемов твердых тел с использованием результатов прямых измерений. Понятие и определение абсолютной и относительной погрешности.
лабораторная работа, добавлен 10.12.2013Изучение принципов проведения периодической поверки средств измерений давления и вакуума органами государственной метрологической службы. Особенности применения универсального деформационного электронного манометра повышенной точности при поверке.
статья, добавлен 30.05.2017Рассмотрение сущности амплитудного и фазового контрастов. Технология формирования изображения в оптической системе. Анализ аберраций в электронном микроскопе. Примеры применения электронной микроскопии высокого разрешения в физике твердого тела.
лекция, добавлен 21.03.2014Знакомство с методом анализа водорода в конструкционных материалах реакторов, основанного на расшифровке энергетических спектров электронов отраженных от исследуемого образца. Общая характеристика основного метода определения теоретического спектра.
статья, добавлен 13.11.2018Формирование правильного изображения объекта как главная задача любой оптической системы. Определение сущности и основных групп аберрации. Проведение исследования способности объектива создавать раздельные изображения близко расположенных мелких деталей.
лабораторная работа, добавлен 24.03.2019Способы повышения точности средств контроля параметров качества электроэнергии. Пути усовершенствования метрологических характеристик средств фильтрации симметричных составляющих трехфазных сетей. Определение погрешности измерений токового напряжения.
статья, добавлен 25.03.2016Изучение всемирной истории изобретения и усовершенствования микроскопов. Применение ахроматических линз. Анализ основ физики микроскопии. Описания основных процессов, протекающих в оптической системе микроскопа. Исследование классификации микроскопов.
статья, добавлен 22.12.2016Расчет косвенного измерения количества тепла, переносимого газом в единицу времени, и определение его абсолютной и относительной погрешности. Построение математической модели зависимости методической погрешности от температуры измеряемой газовой среды.
курсовая работа, добавлен 10.11.2015Основные принципы измерений с помощью интерференционных приборов. Применение метода фазосдвигающей интерферометрии для исследования оптического контакта. Современные стандартизованные методики регистрации свилей и контроль бессвильности деталей.
дипломная работа, добавлен 31.05.2016Процесс получения спектра методом Фурье-спектрометра. Особенности метода оптической спектроскопии Фурье. Анализ спектра при помощи интерферометра. Определение коэффициента оптического поглощения в одной из точек с минимальным пропусканием излучения.
лабораторная работа, добавлен 02.05.2015Системы физических величин. Разновидности погрешностей средств и результатов измерения. Систематические, прогрессирующие и случайные погрешности. Изменение погрешности средств измерений во время эксплуатации. Инструментальные и методические погрешности.
реферат, добавлен 03.12.2013Общие понятия, история, первый изобретатель, недавние достижения в разработке оптического микроскопа. Применение в науке и технике, устройство и основные элементы оптической системы. Специализированные виды микроскопов: назначение и возможности.
доклад, добавлен 13.03.2011Типы сканирующих зондовых микроскопов. Схема работы сканирующего туннельного и атомно-силового микроскопа, достоинства и недостатки их использования. Конструкции оптического микроскопа в ближнем поле и сканирующего ближнепольного оптического микроскопа.
реферат, добавлен 04.04.2017Рассмотрены данные измерений микрогеометрических характеристик поверхности сильвина, обработанные статистическим методом нормированного размаха, полученные на приборе NanoTest-600. Описаны параметры Хёрста для отдельных сегментов экспериментального ряда.
статья, добавлен 26.04.2019Комплексное изучение законов колебаний математического маятника. Расчет погрешности прямых и косвенных измерений. Значение коэффициента Стьюдента для бесконечно больного числа измерений. Формула периода свободных колебаний математического маятника.
лабораторная работа, добавлен 03.06.2023Определение физического предела разрешения оптических систем при учете волновой природы излучения. Картина дифракции на диафрагме и распределение интенсивности света на экране. Теория Аббе (интересный прием определения разрешающей силы микроскопа).
лекция, добавлен 18.10.2012Измерение типовой электрической величины заданного размера. Формирование данных для разработки методики выполнения измерений; анализ и выбор методов и средств измерений. Разработка функциональной схемы измерительной установки. Проект документа на МВИ.
курсовая работа, добавлен 25.11.2011- 72. Классы точности
Изучение обобщенной характеристики средств измерений, определяемой пределами допускаемых основной и дополнительной погрешностей. Характеристика основных способов нормирования и форм выражения метрологических характеристик. Обозначение классов точности.
реферат, добавлен 18.01.2017 Разработка матричного метода расчета нейтронно-оптических систем с произвольно-ориентированной оптической осью. Анализ геометрических гравитационных аббераций. Доказательство теоремы о хроматизме увеличения. Описание позиционно-чувствительного детектора.
автореферат, добавлен 10.12.2013Формирование исходных данных для разработки методики выполнения измерений. Сравнительные характеристики электрических приборов. Амплитудное значение переменной составляющей пульсирующего тока. Расчет электрического сопротивления в цепях постоянного тока.
курсовая работа, добавлен 03.10.2017Математическая модель распространения электромагнитных волн вдоль многопроводной линии электропередачи. Анализ способа обнаружения аварийного режима воздушной линии электропередачи. Фиксация фронта электромагнитной волны методом двухсторонних измерений.
статья, добавлен 02.02.2019