Способы и режимы получения изображения в растровом электронном микроскопе
Предназначение растрового электронного микроскопа как прибора для получения изображения поверхности объекта с высоким пространственным разрешением, информации о строении и свойствах приповерхностных слоев. Получение изображений в отраженных электронах.
Подобные документы
Взаимодействие электронного зонда с образцом. Принципиальные основы работы растрового электронного микроскопа. Особенности подготовки образцов и режимов исследования для получения максимальной разрешающей способности. Режим Y-модуляции; подавление шумов.
статья, добавлен 30.11.2018Рассмотрен способ получения изображений с субдифракционным угловым разрешением с помощью сканирующего одноапертурного терагерцового телескопа. Описание схемы телескопа и алгоритма, предлагаемого для процедуры сканирования и реконструкции изображения.
научная работа, добавлен 07.11.2018Анализ основных проблем формирования и регистрации изображения в нейтронном микроскопе. Характеристика оптических элементов для фокусировки нейтронов. Знакомство с этапами расчета простой нейтронно-оптической системы. Особенности микроскопа А. Штайерла.
книга, добавлен 23.12.2013Современные представления о морфологии поверхности. Зондовые и оптические методы исследования поверхностного рельефа. Схема организации системы обратной связи зондового микроскопа. Получение информации о свойствах поверхности в электросиловой микроскопии.
статья, добавлен 30.11.2018Различные технологии получения изображений фотографического качества. Использование специального тест-объекта для сравнительной характеристики различных методов печати изображения фотографического качества. Анализ и специфика струйной технологии печати.
статья, добавлен 07.12.2018История возникновения и области применения микроскопа - оптического прибора для получения увеличенного изображения мелких объектов и их деталей, не видимых невооруженным глазом. Описание научных достижений, полученных с помощью микроскопической техники.
реферат, добавлен 27.12.2011Изучение закономерностей образования дифракционной картины в электронном микроскопе. Исследование способов получения дифракционных картин от монокристаллов и поликристаллов. Анализ проиндицированных электронограмм от монокристалла и поликристалла.
лабораторная работа, добавлен 26.07.2015Дифракция излучения на решетке. Пространственная частота, период и толщина голограммы. Влияние толщины регистрирующей среды. Формирование изображения объекта при считывании. Получение изображения непрозрачного объекта с помощью пропускающей голограммы.
презентация, добавлен 16.10.2014История создания и принцип работы сканирующего туннельного микроскопа. Мюллер как изобретатель первого полевого ионного микроскопа. Особенности формирования изображения поверхности по методу постоянного туннельного тока и постоянного среднего расстояния.
курсовая работа, добавлен 10.12.2018Прибор ночного видения как вакуумный фотоэлектронный прибор для преобразования невидимого глазом изображения объекта в видимое либо для усиления яркости видимого изображения, его виды и технические характеристики. Обоснование выбора данного прибора.
контрольная работа, добавлен 01.12.2013Изучение молекулярно-лучевой эпитаксии кремния, кристаллизации пленки путем испарения кремния на подложку в сверхвысоком вакууме. Анализ методов получения захороненных слоев, способов очистки поверхности кремния с помощью системы дифракции электронов.
курсовая работа, добавлен 07.06.2011Классификация оптических приборов. Составные части и принцип действия фотоаппарата. Принцип получения изображения с помощью глаз. Дефекты зрения. Проекционный и диаскопический, эпископический и эпидиаскопический аппараты. История развития микроскопа.
презентация, добавлен 11.03.2013Этапы возникновения и принцип действия микроскопа. Физические закономерности получения изображения в микроскопии. Методы изучения движения электронов. Виды электронных микроскопов, особенности работы с ними. Пути преодоления дифракционного предела.
реферат, добавлен 29.09.2010Анализ способа улучшения качества радиотепловых изображений, использующего априорную информацию о статистических характеристиках спектров объектов аналогичного класса. Рассмотрение вида типичного пространственного амплитудного спектра изображения.
статья, добавлен 30.10.2018Рассмотрение сущности амплитудного и фазового контрастов. Технология формирования изображения в оптической системе. Анализ аберраций в электронном микроскопе. Примеры применения электронной микроскопии высокого разрешения в физике твердого тела.
лекция, добавлен 21.03.2014Методика и программа для расчета прохождения изображения через аэродинамически нагруженное входное окно оптического прибора. Компенсирование искажения наблюдаемого изображения выбором радиуса сферического обтекателя. Особенности расчета обтекателя.
статья, добавлен 07.12.2018Сущность фотоаппарата как устройства для получения неподвижных изображений материальных объектов при помощи света. Создание действительного изображения на фотоплёнке. Фиксация светового потока. Характеристика основных типов: цифровой, пленочный.
презентация, добавлен 23.10.2013Анализ хронологии развития микроскопии. Строение и принцип работы оптического микроскопа. Исследование контраста изображения и разрешающей способности прибора с сильно увеличивающими стеклами. Особенность измерения размеров микроскопических объектов.
реферат, добавлен 29.05.2016Методы и приборы для получения качественных характеристик фотонных кристаллов. Полуконтактный, бесконтактный и контактный режим работы атомно-силового микроскопа. Принцип действия конфокального микроскопа. Формирование электронно-оптических изображений.
курсовая работа, добавлен 06.10.2017Схемы построения стереоизображения, которые используются в системах распознавания изображений различного применения. Анализ преимуществ зеркального варианта стереосистемы с пространственным разделением изображений. Механизм функционирования системы.
дипломная работа, добавлен 30.01.2016Разработка алгоритма расчета получения картины распределения потока обмотки и получение графического изображения. Получение псевдоанимации, показывающей картину изменения поля в пространстве при повороте трехфазной системы токов с течением времени.
статья, добавлен 26.05.2017Применение растровой Оже-электронной спектроскопии для получения исчерпывающей информации о химическом составе, кристаллической структуре, распределении примесей и свойствах твердых тел. Энергоанализаторы Оже-электронов, получение энергетического спектра.
реферат, добавлен 09.01.2016Применение методов голографии в ЭВМ с голографической памятью, голографическом электронном микроскопе, голографическом кино и телевидении. Анализ способов получения голограмм. Теоретические основы и свойства голографии. Явление радужных голограмм.
реферат, добавлен 17.05.2015История возникновения, применение и предназначение микроскопа, характеристика и отличительные черты его видов. Принцип построения простого и сложного микроскопа, ход лучей в приборе. Замечание о максимальном увеличении микроскопа, предел его разрешения.
реферат, добавлен 23.04.2017Микроскопические исследования состава поверхности и приповерхностных слоев высокотемпературных композиционных катодных материалов на основе гафната бария-стронция с вольфрамом с различным содержанием компонент. Активирование на поверхности катодов.
статья, добавлен 11.12.2016