Основы метрологи в нанотехнологиях

Устройство и принцип работы трансмиссионного и растрового электронных микроскопов. Способы повышения разрешающей способности микроскопов. Спектрометрия энергетических потерь электронов. Прогресс в области математической обработки электронных изображений.

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.