Сканирующая зондовая микроскопия нуклеиновых кислот и тонких органических пленок
Описание основных принципов работы сканирующего зондового и атомного силового микроскопов. Характеристика ключевых методов исследования биологических и органических объектов и структур. Типовой анализ искажающих эффектов атомно-силовой микроскопии.
Подобные документы
Исследование особенностей Nano-технологии, с помощью которой человек может управлять частицами и системами молекул при создании nano-структур с определенными свойствами. Характеристика принципа действия сканирующего атомно-силового микроскопа с зондом.
реферат, добавлен 29.05.2012История создания и принцип работы сканирующего туннельного микроскопа. Мюллер как изобретатель первого полевого ионного микроскопа. Особенности формирования изображения поверхности по методу постоянного туннельного тока и постоянного среднего расстояния.
курсовая работа, добавлен 10.12.2018Механизмы, ответственные за магнитозависимые эффекты в органических светоизлучающих диодах. Магнитополевая зависимость относительной интенсивности люминесценции пленок MEH-PPV. Работа установки по наблюдению магнитополевого эффекта фотолюминесценции.
статья, добавлен 21.12.2019Физические основы когерентной микроскопии. Изучение явлений самоорганизации и регуляции внутриклеточных процессов. Метод флуоресцентной микроскопии в сочетании с видеосъемкой. Оценка линейного оптического увеличения. Корреляционный и спектральный анализ.
реферат, добавлен 30.01.2014Трансформаторы как один из основных видов электрооборудования, через которые передается практически вся электроэнергия, вырабатываемая электрическими станциями. Общая характеристика устройства силового трансформатора, анализ основных режимов работы.
курсовая работа, добавлен 07.05.2020Методы просвечивающей и растровой электронной, атомно-силовой микроскопии. Изучение строения и фрактальных характеристик массивов нано-/микрочастиц серебра, осажденных из аэрозоля и тумана на диэлектрические подложки (ядерные фильтры и кремний).
статья, добавлен 25.10.2018Расчет констант распространения волноводных мод и полей мод в органических светоизлучающих диодах. Вычисление трех типичных структур диодов. Влияние введения рассеивающего слоя между прозрачным электродом и подложкой на эффективное рассеивание мод.
статья, добавлен 04.11.2018Эксперименты по нанесению тонких пленок ITO. Изучение возможности использования прозрачных проводящих пленок оксида индия и олова, получаемых методом электронно-лучевого напыления, в качестве контактного материала для отражающего контакта к слою p-GaN.
статья, добавлен 05.11.2014Принципы работы сканирующих зондовых микроскопов, их сканирующие элементы (сканеры). Устройства для прецизионных перемещений зонда и образца. Порядок формирования и обработки СЗМ изображений. Процесс защиты зондовых микроскопов от внешних воздействий.
учебное пособие, добавлен 18.05.2013Ионно-плазменные методы получения тонких пленок. Молекулярно-лучевая эпитаксия и лазерное распыление. Суть химических вакуумных методов. Электрохимическое осаждение покрытий и химическая металлизация. Оптические свойства пленок аморфных оксидов ванадия.
курсовая работа, добавлен 15.08.2011Изучение всемирной истории изобретения и усовершенствования микроскопов. Применение ахроматических линз. Анализ основ физики микроскопии. Описания основных процессов, протекающих в оптической системе микроскопа. Исследование классификации микроскопов.
статья, добавлен 22.12.2016Микрогеометрический анализ на основе оптической микроскопии. Приводы управления перемещениями узлов микроскопа и аппаратные решения, используемые при создании комплекса. Оценка погрешности кинематической цепи привода при перемещении предметного столика.
статья, добавлен 27.05.2018- 38. Сверхпроводники
Сверхтонкие YBCO пленки с Тс выше 77К. Контакты сверхпроводника с ферромагнетиком. Использование буферного слоя между подложкой и пленкой. Метод лазерного распыления мишени. Исследования ранних стадий роста пленок с помощью атомно-силового микроскопа.
реферат, добавлен 01.12.2013 - 39. Электронная микроскопия углеродных нанотрубок и нановолокон и автоэлектронные эмиттеры на их основе
Исследование различных типов углеродных нанотрубок методами электронной микроскопии высокого разрешения (ВРЭМ), растровой электронной микроскопии (РЭМ) и электрофизическими методами. Анализ использования ОСНТ@ПУ в качестве элементов наноэлектроники.
автореферат, добавлен 02.08.2018 Молекулярное моделирование пленок Ленгмюра-Блоджетт на основе стеаратных комплексов La(III) и изучение их свойств. Свойства пленок Ленгмюра-Блоджетт на основе стеаратных комплексов РЗЭ. Анализ метода молекулярной механики. Приближение силового поля ММ+.
курсовая работа, добавлен 21.01.2016Изучение рассеивания излучения на объекте методом исследования структуры материалов. Описание процесса распределения электронной плотности в элементарной ячейке кристалла бензола спроецированное на плоскость. Открытие структуры нуклеиновых кислот.
статья, добавлен 15.03.2014История открытия рентгеновских лучей и первые рентгеноскопические исследования. Возникновение и свойства рентгеновского излучения. Модели структур кристаллов по У. Брэггу. Сущность способов рентгеновской микроскопии: контактный и диффракционный.
реферат, добавлен 08.04.2013Физические основы атомно-абсорбционного метода. Принципиальная схема измерения поглощения света. Лоренцевское уширение. Способы измерения атомного поглощения. Различия методов атомной абсорбции и атомной эмиссии. Источники резонансного излучения.
реферат, добавлен 07.09.2011Определение основных магнитных характеристик тонких пленок различного состава из угловых зависимостей поля однородного ферромагнитного резонанса. Феноменологический расчет дисперсионных зависимостей полей ФМР. Энергия одноосной магнитной анизотропии.
автореферат, добавлен 08.02.2013Описание принципа действия вакуумного диода, его вольтамперная характеристика. Строение триода, понятие тетрода и пентода. Описание устройства, принципиальной схемы ряда электронных приборов, их применение для исследования атомного строения тел.
реферат, добавлен 21.04.2009Энергетическое состояние атома, квантовые числа. Устройство атомно-эмиссионного спектрофотометра. Уравнение Ломакина-Шайбе. Атомно-абсорбционный анализ. Устройство атомно-абсорбционного спектрофотометра. Качественный и количественный анализ проб.
презентация, добавлен 31.08.2017- 47. Использование спектрометра плазмонного резонанса для исследования процесса структурирования воды
Исследование тонких диэлектрических пленок на твердых подложках, характеристика основных методов: эллипсометрия, спектроскопию в видимой и ИК области, поверхностный плазмонный резонанс. Построение кинетических кривых реакции воды после ее перемешивания.
статья, добавлен 25.01.2014 - 48. Структурные особенности и оптические свойства тонких слоев аморфного гидрогенизированного углерода
Оптические свойства тонких пленок аморфного гидрогенизированного углерода. Получение нового оптического материала - тонких пленок a-C: H с заданным показателем преломления. Уникальное сочетание механической прочности, химической стойкости и прозрачности.
автореферат, добавлен 16.02.2018 Исследование особенностей фотоэлементов на основе аморфного кремния, кристаллических пленок кремния, органических материалов и на красителях. Электрические свойства поликристаллического кремния. Способы производства поликристаллических пленок кремния.
реферат, добавлен 13.04.2014Представлены результаты исследования электрических свойств тонких пленок жидкости на поверхности металла с помощью микроволн. Исследования были выполнены в медном прямоугольном волноводе. Результаты электромагнитных потерь при пропускании излучения.
статья, добавлен 26.01.2021