Характеристика оптической микроскопии
Анализ хронологии развития микроскопии. Строение и принцип работы оптического микроскопа. Исследование контраста изображения и разрешающей способности прибора с сильно увеличивающими стеклами. Особенность измерения размеров микроскопических объектов.
Подобные документы
Изучение принципов работы просвечивающего электронного микроскопа и идентификации веществ по их дифракционным картинам. Гипотеза Де Бройля о наличии у частиц вещества волновых свойств. Расчет электронограммы, дифракционная картина на кристаллах никеля.
лабораторная работа, добавлен 28.05.2015Изучение устройства поляризационного микроскопа и методики работы на нем, определение осности и оптического знака кристаллов. Измерение угла между оптическими осями двуосных кристаллов. Явления в кристаллах, вырезанных перпендикулярно оптической оси.
лабораторная работа, добавлен 05.04.2020Взаимодействие электронного зонда с образцом. Принципиальные основы работы растрового электронного микроскопа. Особенности подготовки образцов и режимов исследования для получения максимальной разрешающей способности. Режим Y-модуляции; подавление шумов.
статья, добавлен 30.11.2018Принципиальная и функциональная схема прибора для точного измерения в широких температурных пределах (термодатчик, операционный усилитель, АЦП, блок питания, семисегментный индикатор). Принцип работы устройства. Чертежы основной и дополнительной плат.
курсовая работа, добавлен 18.01.2014Физические основы и принцип работы атомно-силового микроскопа, его внутреннее устройство и главные компоненты. Анализ схемы зондового датчика, а также факторы, влияющие на его взаимодействие с поверхностью. Качественный вид потенциала Леннарда-Джонса.
реферат, добавлен 25.05.2020Рассмотрение сущности амплитудного и фазового контрастов. Технология формирования изображения в оптической системе. Анализ аберраций в электронном микроскопе. Примеры применения электронной микроскопии высокого разрешения в физике твердого тела.
лекция, добавлен 21.03.2014Принцип работы и характеристики современного телескопа. Фазово-контрастная микроскопия, ее применение для исследования живых и неокрашенных биологических объектов. Широкое распространение люминесцентной микроскопии. Некоторые виды современных микроскопов.
контрольная работа, добавлен 09.04.2019Современные представления о морфологии поверхности. Зондовые и оптические методы исследования поверхностного рельефа. Схема организации системы обратной связи зондового микроскопа. Получение информации о свойствах поверхности в электросиловой микроскопии.
статья, добавлен 30.11.2018Общие понятия, история, первый изобретатель, недавние достижения в разработке оптического микроскопа. Применение в науке и технике, устройство и основные элементы оптической системы. Специализированные виды микроскопов: назначение и возможности.
доклад, добавлен 13.03.2011- 35. Электронная микроскопия углеродных нанотрубок и нановолокон и автоэлектронные эмиттеры на их основе
Исследование различных типов углеродных нанотрубок методами электронной микроскопии высокого разрешения (ВРЭМ), растровой электронной микроскопии (РЭМ) и электрофизическими методами. Анализ использования ОСНТ@ПУ в качестве элементов наноэлектроники.
автореферат, добавлен 02.08.2018 Анализ основных проблем формирования и регистрации изображения в нейтронном микроскопе. Характеристика оптических элементов для фокусировки нейтронов. Знакомство с этапами расчета простой нейтронно-оптической системы. Особенности микроскопа А. Штайерла.
книга, добавлен 23.12.2013Изобретение атомно-силового сканирующего зондового микроскопа высокого разрешения, основанного на взаимодействии зонда кантилевера с поверхностью образца. Кантилевер и особенности его работы. Биомедицинские приложения сканирующей зондовой микроскопии.
реферат, добавлен 16.09.2010История создания и принцип работы сканирующего туннельного микроскопа. Мюллер как изобретатель первого полевого ионного микроскопа. Особенности формирования изображения поверхности по методу постоянного туннельного тока и постоянного среднего расстояния.
курсовая работа, добавлен 10.12.2018Рассмотрение анализа и синтеза схемных решений аппаратуры для оценки качества оптического изображения и измерения его характеристик. Предпосылки компьютерного моделирования и типовые узлы приборов. Применение компьютеров в оптическом приборостроении.
учебное пособие, добавлен 26.03.2011Изобретение микроскопа, претенденты на звание изобретателя. Как инструмент в дальнейшем развивался и усовершенствовался. Проблема хроматической аберрации. Основные детали, которые и в настоящее время входят в состав современного оптического микроскопа.
статья, добавлен 29.09.2019Описание основных принципов работы сканирующего зондового и атомного силового микроскопов. Характеристика ключевых методов исследования биологических и органических объектов и структур. Типовой анализ искажающих эффектов атомно-силовой микроскопии.
диссертация, добавлен 23.12.2013Получение изображений двухфазных и нанопористых стекол методом конфокальной сканирующей лазерной микроскопии, которые свидетельствуют о наличии неоднородной структуры с разными оптическими свойствами. Процессы, происходящие в стеклах при термообработке.
статья, добавлен 30.11.2018Структура оптической системы оптико-электронного прибора. Способы борьбы с внутриприборными засветками в оптической системе. Атермализация и ахроматизация оптической системы оптико-электронного прибора путем выбора надлежащих оптических материалов.
лекция, добавлен 17.11.2018Понятие про вакуум и его свойства. Модель прибора вакуумной электроники, исследование электронной эмиссии. Электронно-лучевые приборы, движение электронов в газах. Основы зондовой микроскопии (туннельная микроскопия, зондовые сканирующие микроскопы).
контрольная работа, добавлен 26.01.2020Предназначение растрового электронного микроскопа как прибора для получения изображения поверхности объекта с высоким пространственным разрешением, информации о строении и свойствах приповерхностных слоев. Получение изображений в отраженных электронах.
курсовая работа, добавлен 03.05.2019Общие сведения о теплотехнических измерениях и метрологии. Принцип действия и строение разных типов приборов для измерения теплотехнических величин и для специальных измерений. Особенности вычисления погрешностей измерений и класса точности прибора.
курс лекций, добавлен 19.06.2014Разработка методики подготовки атомно-силовой микроскопии (АСМ) зондов для выполнения электрических АСМ измерений и электрохимической литографии. Разработка методики выбора оптимальной силы взаимодействия "зонд-образец" для контроля процесса износа.
автореферат, добавлен 25.07.2018Определение физического предела разрешения оптических систем при учете волновой природы излучения. Картина дифракции на диафрагме и распределение интенсивности света на экране. Теория Аббе (интересный прием определения разрешающей силы микроскопа).
лекция, добавлен 18.10.2012Сущность дифманометра - прибора для измерения разности давлений. Основные виды дифманометров: жидкостные, механические. Принцип действия механических дифманометров. Характеристика трубных, поплавковых, кольцевых и колокольных жидкостных дифманометров.
реферат, добавлен 07.12.2011Классификация оптических приборов. Составные части и принцип действия фотоаппарата. Принцип получения изображения с помощью глаз. Дефекты зрения. Проекционный и диаскопический, эпископический и эпидиаскопический аппараты. История развития микроскопа.
презентация, добавлен 11.03.2013