Электронная микроскопия
Создание растрового электронного микроскопа (РЭМ) и его популярность у физиков, химиков, криминалистов. Развитие методов исследования, позволяющих объяснить явления, происходящие в микромире. Высокая яркость и эффективность использования электронов.
Подобные документы
Этапы возникновения и принцип действия микроскопа. Физические закономерности получения изображения в микроскопии. Методы изучения движения электронов. Виды электронных микроскопов, особенности работы с ними. Пути преодоления дифракционного предела.
реферат, добавлен 29.09.2010Проявление волновых свойств частиц. Дифракция электронов на кристаллической решетке графита, как проявление волновых свойств. Расстояние между ближайшими друг к другу точками, колеблющимися в одинаковых фазах. Корпускулярно-волновой дуализм в микромире.
лабораторная работа, добавлен 31.10.2023Методические решения применения технологических ускорителей электронов для ядерных исследований. Средства адаптации радиационной установки ИЯИ НАН Украины с ускорителем электронов для исследований сечений электронного возбуждения изомерных состояний ядер.
статья, добавлен 22.08.2013История возникновения, применение и предназначение микроскопа, характеристика и отличительные черты его видов. Принцип построения простого и сложного микроскопа, ход лучей в приборе. Замечание о максимальном увеличении микроскопа, предел его разрешения.
реферат, добавлен 23.04.2017Создание нового типа спектрометра мягких электронов для измерения массы электронного антинейтрино посредством изучения спектра электронов от бета-распада трития. Измерение его характеристик – энергетического разрешения, светимости и собственного фона.
автореферат, добавлен 10.10.2018- 31. Увеличение электрической прочности ускоряющего промежутка электронного источника при наличии пучка
Разработка плазменной электронной пушки. Создание плазменного источника электронов в комбинации полого катода и плоского ускоряющего промежутка для генерации электронного пучка в форвакуумном диапазоне давлений. Использование математической модели.
реферат, добавлен 26.01.2017 Изучение естественно-научных и естественно-научных смежных дисциплин. Определение микроскопии мазков крови с определением морфологических характеристик форменных элементов. Проведение исследования цены окулярного деления светового микроскопа "Микмед-5".
статья, добавлен 27.05.2023Принципы и основные этапы исследования структуры наномателов с помощью сканирующего туннельного микроскопа. Механизм определения работы выхода материала, а также плотности его состояний. Условия и особенности применения атомно-силового микроскопа.
курсовая работа, добавлен 12.01.2016Характеристика сущности и возможностей методов рентгеновской топографии. Рассмотрение примеров применения рентгеновских топографических методов, выявление их преимуществ и недостатков. Механизмы формирования контраста на рентгеновских топограммах.
лекция, добавлен 21.03.2014Электронная теория проводимости металлов Друде. Закон Джоуля-Ленца с точки зрения классической электронной теории. Тепловое движения ионов металла. Законы идеального газа, число столкновений электронов с ионами решетки, удельная электропроводность.
лекция, добавлен 14.03.2014Расчетные исследования в атомной отрасли. Развитие CFD (Computational Fluid Dynamics) технологий - расчетных методов, позволяющих моделировать потоки жидкостей и газов. Применение методов вычислительной гидрогазодинамики. Построение численного решения.
статья, добавлен 19.11.2018Изучение устройства поляризационного микроскопа и методики работы на нем, определение осности и оптического знака кристаллов. Измерение угла между оптическими осями двуосных кристаллов. Явления в кристаллах, вырезанных перпендикулярно оптической оси.
лабораторная работа, добавлен 05.04.2020Квантовые числа электронов, понятие энергетического уровня, значение орбиталей. Форма электронного облака s-орбитали. Главные составляющие атома, его возможные состояния. Порядок составления электронных формул. Химические источники электрической энергии.
реферат, добавлен 14.01.2013Особенности разработки клистронов. Предложен отказ от модели одномерного движения электронов и использование нового 3D принципа образования электронных сгущений в неоднородном магнитном поле без предварительной модуляции продольной скорости электронов.
статья, добавлен 03.11.2018Анализ корпускулярной дифракции электронов, приведший к новому представлению взаимодействий в микромире. Поведение микроструктуры материала при воздействии на нее квантов электромагнитной энергии. Процесс поглощения фотонов различного частотного спектра.
статья, добавлен 23.11.2018Понятия вероятности, плотности вероятности. Законы распределения случайных величин. Описание методик измерений распределения электронов в электронной радиолампе по скоростям. Расчет наиболее вероятной скорости электронов и температуры электронного газа.
методичка, добавлен 16.03.2015Конфокальная микроскопия — метод оптической микроскопии, обладающий значительным контрастом по сравнению с микроскопами классической схемы. История развития, принцип работы и пространственное разрешение в конфокальной микроскопии; области применения.
реферат, добавлен 13.04.2017Исследование электронных и молекулярных процессов, происходящих на поверхности твердых тел. История создания работы сканирующего туннельного микроскопа. Объекты анализа и методы их подготовки. Микроскопии ближнего поля, расширение области применения.
реферат, добавлен 02.11.2014Изобретение микроскопа, претенденты на звание изобретателя. Как инструмент в дальнейшем развивался и усовершенствовался. Проблема хроматической аберрации. Основные детали, которые и в настоящее время входят в состав современного оптического микроскопа.
статья, добавлен 29.09.2019Полимерные кантилеверы и сенсоры на их основе. Метод создания тонких полимерных пленок. Точность определения кантилеверного отклонения. Сканирующая зондовая атомно-силовая микроскопия, как мощный инструмент изучения поверхностей исследуемых объектов.
курсовая работа, добавлен 25.12.2015Принципы построения изображения объекта в ближнепольной оптической микроскопии. Современные схемы реализации микроскопа. Вид и изготовление зондов на основе оптического волокна. Применение фокусирующего зеркала для увеличения чувствительности излучения.
лекция, добавлен 28.12.2013Разработка методики подготовки атомно-силовой микроскопии (АСМ) зондов для выполнения электрических АСМ измерений и электрохимической литографии. Разработка методики выбора оптимальной силы взаимодействия "зонд-образец" для контроля процесса износа.
автореферат, добавлен 25.07.2018Современные представления о морфологии поверхности. Зондовые и оптические методы исследования поверхностного рельефа. Схема организации системы обратной связи зондового микроскопа. Получение информации о свойствах поверхности в электросиловой микроскопии.
статья, добавлен 30.11.2018Анализ хронологии развития микроскопии. Строение и принцип работы оптического микроскопа. Исследование контраста изображения и разрешающей способности прибора с сильно увеличивающими стеклами. Особенность измерения размеров микроскопических объектов.
реферат, добавлен 29.05.2016Упорядоченное движение электронов под действием электрического поля. Измерения, проведенные в опытах Э. Рике. Определение свободных носителей заряда в металлах. Опыты американских физиков Толмена и Стюарта. Удельный заряд частиц в эксперименте ученых.
презентация, добавлен 02.04.2014