Методы исследования состава и структуры материалов микроэлектроники
Этапы развития методов исследования состава, структуры материалов микроэлектроники. Рассмотрение истории развития атомно-силовой микроскопии. Волновые функции электронов в атоме. Современная сканирующая туннельная микроскопия материалов микроэлектроники.
Подобные документы
Характеристика гибридных интегральных схем как микросхем, являющихся комбинацией пленочных пассивных элементов и активных компонентов, расположенных на общей диэлектрической подложке. Технология изготовления полупроводниковых схем на биполярных элементах.
курс лекций, добавлен 21.03.2011Прогресс в области дискретной микроэлектроники. Устройство цифрового опорного генератора. Многофазная импульсная последовательность. Реализация цифровых следящих систем. Развитие теории оптимального синтеза, использующей идеи оптимальной фильтрации.
курсовая работа, добавлен 05.06.2013Физические свойства электровакуумных и полупроводниковых приборов. Описание импульсных устройств и преобразовательной техники. Основы микроэлектроники и вычислительной техники. Особенности судовой электроавтоматики и автоматизированных установок.
книга, добавлен 13.03.2014Применение микроэлектроники в различных отраслях промышленности и народного хозяйства. Внедрение микропроцессоров, обеспечивающих решения задач автоматизации управления механизмами. Карта памяти и реализация интерфейса микроконтроллера Atmel AT90USB1286.
курсовая работа, добавлен 27.10.2017Стандартный материал микро- и наноэлектроники. Основа структурного единства различных технологий создания устройств микроэлектроники и микромеханики. Элементы микропроцессорных устройств и интегральных схем памяти. Использование скрытых силикатных слоев.
статья, добавлен 02.11.2018Общее представление о технических системах, реализованных на базе микроэлектроники и средств вычислительной техники. Разработки цифровой микропроцессорной техники и управляющих контроллеров. Определение алгоритма позиционера для спутниковой антенны.
курсовая работа, добавлен 29.10.2013Характеристика исследования структур, находящихся вне пределов видимости светового микроскопа и имеющих размеры менее одного микрона. Выявление компонентов изучаемых объектов и сохранение их структуры в условиях высокого вакуума под пучком электронов.
статья, добавлен 27.02.2016Радиоматериалы и основы микроэлектроники, компьютерное проектирование. Метрология и радиоизмерения. Радиотехнические цепи и сигналы. Электродинамика и распространение радиоволн. Теория электромагнитного поля. Сверхвысокочастотные и квантовые приборы.
методичка, добавлен 12.06.2009Структура, типы и параметры полупроводниковых транзисторов. Типы проводимости и управляющих переходов. Способы изоляции элементов интегральных микросхем. Схемы включения и режимы работы трёхполюсников. Измерение коэффициента передачи тока и напряжения.
курс лекций, добавлен 03.03.2018Характерные параметры света: цвет, длинна волны и частота. Полупроводниковый лазер, предназначенный для микроэлектроники. Модуляция интенсивности излучения, пропускная способность волоконных световодов. Преимущества и конструкции оптических кабелей.
курсовая работа, добавлен 08.12.2010Разработка физико-технологического базиса создания планарных квазиодномерных структур наноэлектроники и способов формирования функциональных устройств. Применение методов микроэлектроники интегральных сенсорных устройств на основе углеродных нанотрубок.
автореферат, добавлен 30.01.2018- 37. Реализация цифровых понижающих преобразователей на программируемых логических интегральных схемах
Программируемые логические интегральные схемы как одно из самых интересных и быстроразвивающихся направлений современной цифровой микроэлектроники. Анализ достижений мировых производителей данных устройств, их функциональные особенности и структура.
статья, добавлен 10.03.2018 Внедрение новой радиоэлектронной техники. Интегральные микросхемы как самые массовые изделия современной микроэлектроники: общие сведения, особенности процесса сборки интегральных схем (пайка, сварка, приклеивание, присоединение и герметизация).
курсовая работа, добавлен 05.12.2010Роль тонкопленочной технологии в производстве интегральных схем. Тонкопленочная металлизация полупроводниковых приборов и интегральных схем. Фактор, влияющий на свойства тонких пленок. Процесс изготовления двухуровневой металлизации в системе А1-А1гОз-А1.
контрольная работа, добавлен 21.01.2017Описания особенностей конструирования интегральных микросхем и радиоэлектронной аппаратуры на их основе. Структура ячейки флэш-памяти. Обзор внутреннего устройства микросхемы. Основные элементы биполярных микросхем. Конструктивно-технологические типы ИМС.
презентация, добавлен 20.07.2013Использование фотоэлементов и фотодиодов в качестве приемников. Спектры источников света. Цвет, длинна волны, частота. Естественный свет в опытах по интерференции. Атомная модель Бора. Полупроводниковый лазер, предназначенный для микроэлектроники.
контрольная работа, добавлен 29.10.2013Снижение затрат на подготовку и освоение производства небольших серий микросхем как одна из важнейших задач микроэлектроники. Понятие и закономерности воплощения "разумного" производства. Модификации производственного маршрута и роль разработчика.
статья, добавлен 29.05.2017Анализ современных методов контроля уровня жидкости и сыпучих материалов. Основные задачи измерения уровня. Принцип работы уровнемеров. Классификация и анализ методов измерения уровня. Анализ характеристик современных средств и различных систем контроля.
реферат, добавлен 12.10.2019Строение и принцип действия сканирующего зондового микроскопа. Обнаружение пьезоэлектрического эффекта в кристаллах в 1880 году. Схема возникновения тока туннелирования. Применение метода сканирования при помощи атомно-силового оптического прибора.
реферат, добавлен 09.11.2017Устройства испытания магнитострикционных материалов. Обзор конструкций намагничивающих систем и способов увеличения чувствительности измерительного устройства. Применение искусственных нейронных сетей для определения магнитных характеристик материалов.
статья, добавлен 30.07.2017Сущность туннельного эффекта. Проявление эффекта в неоднородных структурах. Использование в различных устройствах микроэлектроники: контакт металл-металл, структура металл-диэлектрик-металл, токоперенос в тонких плёнках, туннельный пробой в p-n-переходе.
курсовая работа, добавлен 19.07.2010Разработка гибридных сенсорных систем с высокими метрологическими параметрами, в основе которых находятся полимерные сенсорные материалы (структуры). Сущность основных этапов моделирования процесса самосборки электропроводящих полимерных материалов.
статья, добавлен 29.05.2017Рассмотрение содержания эффекта Оже и глубины выхода оже-электронов. Реализация метода оже-спектроскопии и регистрация оже-электронов. Энергоанализаторы оже-электронов. Основное уравнение и количественная оже-спектроскопия. Применение оже-спектроскопии.
реферат, добавлен 01.05.2020Рассмотрение основных видов материалов радиоэлектронных средств: конструкционных, проводниковых, контактных, магнитных, диэлектрических, их свойств и области применения. Определение особенностей материалов на основе термореактивных синтетических смол.
курс лекций, добавлен 31.12.2015Получение качественных соединений конструкционных неметаллических материалов (керамик, ферритов, ситаллов, кварцевых стекол и др.) с металлами и друг с другом. Схемы процесса применения высокоинтенсивных методов соединения материалов в твердом состоянии.
автореферат, добавлен 14.04.2018